Title:
微小粒子測定装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP5828440
Kind Code:
B1
Abstract:
本発明の課題は、複数の微小粒子の光学的特性を同時に且つ高速で測定することができる微小粒子測定装置を提供することである。本発明の微小粒子測定装置では、マルチ流路（１４）の各流路に試料を流し、所定の直線領域に光を照射する。このとき、試料中の微小粒子から発する散乱光や蛍光等の測定光（物体光）は対物レンズ（１６）によって平行光線化され、第１透過部（１８１）と第２透過部（１８２）を透過する。両者を透過した光はそれぞれ第１測定光と第２測定光としてシリンドリカルレンズ（２０）によって同一直線上に集光され、その干渉光強度が検出器（２２）で検出される。一方、試料中の微小粒子に当たることなくマルチ流路（２２）を透過した光源からの光は、対物レンズ（１６）を経て非透過部（３０）に入射し、シリンドリカルレンズに向かうことはない。従って、検出器（２２）には、測定光の干渉光のみが入射するため、精度良く測定光の干渉光強度を測定することができる。
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Inventors:
Ichiro Ishimaru
Application Number:
JP2015534305A
Publication Date:
December 09, 2015
Filing Date:
February 20, 2015
Export Citation:
Assignee:
National University Corporation Kagawa University
International Classes:
G01N15/14
Domestic Patent References:
| JP2013511714A | 2013-04-04 | |||
| JP2009115473A | 2009-05-28 | |||
| JPH06331441A | 1994-12-02 | |||
| JP2002195949A | 2002-07-10 |
Foreign References:
| WO2012115979A1 | 2012-08-30 | |||
| US5208651A | 1993-05-04 | |||
| US20130214176A1 | 2013-08-22 |
Other References:
JPN6015019176; 藤原大 等: '日常生活空間で利用できる超小型ワンショット分光断層像計測装置（第一報） -透過型相対傾斜位相シフターによ' 第６０回応用物理学会春季学術講演会 講演予稿集 , 20130311, ０３-１０３
JPN6015019178; 小林宏明 等: '小型赤外分光イメージャの開発' 知能メカトロニクスワークショップ講演論文集 Ｖｏｌ．１８ｔｈ, 20130827, ＲＯＭＢＵＮＮＯ．Ｍ２-５
JPN6015019179; 浦木智央 等: 'ワンショット実時間フーリエ分光イメージング方式の提案' Ｏｐｔｉｃｓ ＆ Ｐｈｏｔｏｎｉｃｓ Ｊａｐａｎ講演予稿集 Ｖｏｌ．２０１０, 20101108
JPN6015019182; 小島大輔 等: '結像型ワンショットフーリエ分光イメージングによる高時間分解能計測' ２０１１ 年度精密工学会春季大会学術講演会講演論文集 , 20110301, １０５９-１０６０
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Attorney, Agent or Firm:
Kyoto International Patent Office