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Title:
半導体装置および半導体装置にデータを書き込む方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2005093760
Kind Code:
A1
Abstract:
複数の異なるしきい値を有するメモリセルを含むメモリ部と、入力された書き込みデータを書き込もうとするメモリセルから既存データを読み出す読出回路と、前記書き込みデータと前記メモリセルの既存データを比較し、書き込み動作で消去動作が起こるパターンを検出する検出回路とを有する半導体装置である。書き込み動作で消去動作が起こるパターンを禁止動作とし、この禁止動作が認識されると書き込みコマンドによる書き込み動作を開始せずに強制終了させる。これにより、プログラム動作で消去が起こってしまうという現象を避けることができる。

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Inventors:
Shigekazu Yamada
Application Number:
JP2006511368A
Publication Date:
February 14, 2008
Filing Date:
March 26, 2004
Export Citation:
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Assignee:
Spansion LLC
ADVANCED MICRO DEVICES INCORPORATED
International Classes:
G11C16/02; G11C11/34; G11C11/56; G11C16/10; G11C16/34
Domestic Patent References:
JP2004022061A2004-01-22
JPH1125681A1999-01-29
JPH08235886A1996-09-13
JP2002216485A2002-08-02
JP2000228092A2000-08-15
JP2003077284A2003-03-14
JP2001325795A2001-11-22
Foreign References:
US5777923A1998-07-07
Attorney, Agent or Firm:
Shuhei Katayama
Teruo Yokoyama



 
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