Title:
疲労き裂成長曲線の推定法、推定プログラムおよび推定装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2006006412
Kind Code:
A1
Abstract:
ゼロの大きさのき裂から連続的にき裂が成長していく現実的な現象に従って、金属の疲労寿命とき裂成長の詳細な様子を厳密に推定することが可能な疲労き裂成長曲線の推定法、推定プログラムおよび推定装置を提供する。本発明の疲労き裂成長曲線の推定装置１は、第１の演算手段１１、第２の演算手段１２、 第３の演算手段１３、第４の演算手段１４、第５の演算手段１５により、き裂成長に寄与しない荷重対については計算を省きながら、最初の結晶粒内から発生・成長するき裂の成長の詳細な様子を厳密に推定する。
Inventors:
Masahiro Toyotoshi
Application Number:
JP2006528791A
Publication Date:
April 24, 2008
Filing Date:
June 30, 2005
Export Citation:
Assignee:
Industry-University Collaboration Organization Kyushu
International Classes:
G01N3/32
Domestic Patent References:
| JP2003014601A | 2003-01-15 | |||
| JPH0862112A | 1996-03-08 | |||
| JPH07218409A | 1995-08-18 | |||
| JPH075086A | 1995-01-10 | |||
| JPH04370741A | 1992-12-24 |
Attorney, Agent or Firm:
Hisashi Kato