Title:
受動相互変調ひずみの測定方法および測定システム
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2008029522
Kind Code:
A1
Abstract:
試料と測定系とをインピーダンス整合させる受信ＰＩＭ測定方法においては、終端器において発生するＰＩＭによる測定ダイナミックレンジの制限、被測定試料の形状や大きさの制限、試料形状パラメータの独立した制御の困難性などの問題点があった。被測定試料を不整合状態として、試料を接続する伝送線路上に定在波を発生させる。試料によって伝送線路先端を短絡することで、試料の位置を電流定在波の腹として、高電流密度の試験信号を印加する。伝送線路先端を開放してシステムノイズをキャリブレーションする。インピーダンス整合を行なわず終端器を使用しないため、終端器において発生するＰＩＭの影響を受けずに広い測定ダイナミックレンジを実現する。試料形状が従来測定方法と比較して格段に小さく、形状も自由に選択ができる。導電材料、絶縁体、磁性材料を問わず幅広い材料の物性測定が可能である。
Inventors:
Nobuhiro Kuga
Yasuyuki Yamamoto
Doi Mitsuru
Mitsuaki Endo
Yasuyuki Yamamoto
Doi Mitsuru
Mitsuaki Endo
Application Number:
JP2008533048A
Publication Date:
January 21, 2010
Filing Date:
February 23, 2007
Export Citation:
Assignee:
National University Corporation Yokohama National University
International Classes:
G01N22/00; G01R23/20
Domestic Patent References:
| JPH0943165A | 1997-02-14 | |||
| JPH05157784A | 1993-06-25 | |||
| JPS6454273A | 1989-03-01 | |||
| JPS62151766A | 1987-07-06 | |||
| JPS4024117B1 | ||||
| JP2006196621A | 2006-07-27 | |||
| JPH0786481B2 | 1995-09-20 | |||
| JPH01172738A | 1989-07-07 |
Attorney, Agent or Firm:
Yoshikazu Tani
Kazuo Abe
Kazuo Abe