Title:
試料分析装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2010095472
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明は、高精度な測定結果を得ることができる試料分析装置であり、複数のセル空間Ｓ１、Ｓ２を構成する試料セル部２と、各セル空間Ｓ１、Ｓ２に互いに異なる波長域の光を照射する光源部３１、３２と、各セル空間Ｓ１、Ｓ２毎に対応して設けられ、セル空間Ｓ１、Ｓ２を透過した透過光を平行光にする複数のコリメータ鏡６１、６２と、コリメータ鏡６１、６２により平行光にされた反射光を分光する回折格子７と、回折格子７により分光された光を集光する集光鏡９と、集光鏡９により集光された光を検出する光検出器１０と、を具備する。
Inventors:
Kazushige Yokoyama
Application Number:
JP2011500541A
Publication Date:
August 23, 2012
Filing Date:
January 07, 2010
Export Citation:
Assignee:
HORIBA, Ltd.
International Classes:
G01N21/27
Attorney, Agent or Firm:
Ryuhei Nishimura
Akiko Sato
Saito Shindai
Akiko Sato
Saito Shindai
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