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Title:
測距計
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2016030924
Kind Code:
A1
Abstract:
変倍光学系を有する測量装置においては、倍率とパララックスとの関係によりＳ／Ｎが小さくなったりレーザー光が受光領域に入らなくなったりするという課題がある。測距計は、対象物を視準して視準対象の光学像を形成し、光学像の像振れを補正するために駆動される補正部材をその光路上に含む視準光学系と、視準光学系に加わる振れ量に基づいて補正部材を駆動する駆動部と、測定光を視準対象に出射する送光部と、視準対象からの戻り光を受光して受光信号を出力する受光部と、記測定光が出射されたタイミングと、受光部が戻り光を受光したタイミングとに基づいて視準対象までの距離を算出する距離算出部と、補正部材の駆動に応じて受光部の焦点距離を制御する変倍部とを備える。

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Inventors:
Hitoshi Omuro
Application Number:
JP2016545086A
Publication Date:
June 29, 2017
Filing Date:
August 27, 2014
Export Citation:
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Assignee:
Nikon Vision Co., Ltd.
International Classes:
G01C15/00; G01C3/06; G01S7/4865; G01S17/10
Domestic Patent References:
JP2009270856A2009-11-19
JP2009270856A2009-11-19
Foreign References:
US5771404A1998-06-23
US5771404A1998-06-23
Attorney, Agent or Firm:
Longhua International Patent Service Corporation



 
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