Title:
半導体装置およびエラー検出方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2019176893
Kind Code:
A1
Abstract:
クロスバスイッチを構成する抵抗変化スイッチのエラー判定を高速に行うことができる半導体装置を提供するために、クロスバスイッチを構成する複数の配線の交差する位置のそれぞれに抵抗変化スイッチを含むスイッチセルが配置されるスイッチアレイと、スイッチアレイに含まれる全ての抵抗変化スイッチを選択する第１選択回路と、スイッチアレイに含まれるいずれかの抵抗変化スイッチを選択する第２選択回路と、第１選択回路および第２選択回路のいずれかに選択された抵抗変化スイッチの状態を読み出す読み出し回路と、読み出し回路によって読み出された抵抗変化スイッチの状態に基づいて、スイッチアレイに含まれる抵抗変化スイッチの少なくともいずれかのエラーを検出するエラー検出回路と、を備える半導体装置とする。
Inventors:
Toshiji Sakamoto
Nehashi Ryusuke
Miyamura Shin
White Asahi
Yukihide Tsuji
Nehashi Ryusuke
Miyamura Shin
White Asahi
Yukihide Tsuji
Application Number:
JP2020506531A
Publication Date:
January 07, 2021
Filing Date:
March 12, 2019
Export Citation:
Assignee:
NEC
International Classes:
G11C13/00
Attorney, Agent or Firm:
Masahiko Desk
Naoki Shimosaka
Naoki Shimosaka