Title:
放射線式レベル測定器の校正方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024066787
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】 校正作業に要する時間を短縮可能な校正方法を提供する。【解決手段】 容器Ｖを挟んで配置された線源部１及び検出部２から構成される放射線式レベル測定器の校正方法であって、容器Ｖ内の測定対象物Ｘの異なる液位において該測定器で測定を行なってそれらの測定値と該液位との関係を求める第１工程と、段階的に放射線を遮るべく線源部１と内部が空の容器Ｖとの間に介在させる遮蔽板１１の厚みを段階的に変えながら、その都度該測定器で測定を行なってそれらの測定値と該介在させた遮蔽板１１の厚みとの関係を求めた後、この関係を該第１工程で求めた関係と関連づけて遮蔽板１１の厚みと液位との相関関係を求める第２工程と、線源部１と内部が空の容器Ｖとの間に遮蔽板１１を介在させたときに該測定器で測定して得た測定値を該相関関係に照合することで校正を行なう第３工程とからなる。【選択図】 図１
Inventors:
Suguru Satoh
Application Number:
JP2022176483A
Publication Date:
May 16, 2024
Filing Date:
November 02, 2022
Export Citation:
Assignee:
Sumitomo Metal Mining Co., Ltd.
International Classes:
G01F23/288
Attorney, Agent or Firm:
Norinori Tsujikawa
Mitsuru Kimura
Mitsuru Kimura
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