Title:
測距装置及び測距方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024007750
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】光源からのレーザ光の光周波数が時間に対して非線形である場合でも、距離測定性能の低下を抑制することができる測距装置等を提供する。【解決手段】測距装置１は、周波数が掃引されたレーザ光を生成するレーザ光源１０と、レーザ光が分岐された２つのレーザ光のうちの一方のレーザ光が対象物によって反射された反射光と、他方のレーザ光とを干渉させて測定干渉信号として出力する測定干渉計３０と、入射した測定干渉信号の強度を示す測定検出信号を出力する光検出器４１と、レーザ光が分岐された他の２つのレーザ光のそれぞれに異なる遅延時間を与えて干渉させて補助干渉信号として出力する補助干渉計５０と、入射した補助干渉信号の強度を示す補助検出信号を出力する光検出器４２と、測定検出信号のビート周波数に基づく値と、補助検出信号のビート周波数に基づく値とを除算することで、距離Ｌを算出する信号処理部７０とを備える。【選択図】図６
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Inventors:
Koichi Iiyama
Application Number:
JP2022109041A
Publication Date:
January 19, 2024
Filing Date:
July 06, 2022
Export Citation:
Assignee:
Kanazawa University
International Classes:
G01C3/06; G01S7/4913; G01S17/34
Attorney, Agent or Firm:
Hiromori Arai
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