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Title:
評価プログラム、評価方法および評価装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024044810
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】エリア内の施設と対象物との相対的な位置関係を考慮した影響度を予測すること。【解決手段】評価装置は、対象エリアに既に配置されている施設毎に設けられた施設の位置および施設の規模を示す２次元の第１行列と対象エリアに既に設置されている対象物の位置および対象物の規模を示す２次元の第２行列とを重ね合わせた３次元データと、曜日の種類と、時刻とを入力とし、対象物が対象エリアに与える影響度を出力として機械学習された学習モデルに対し、第１行列と、第２行列の対象物の位置または対象物の規模の少なくとも一方を変更した第３行列とを重ね合わせた３次元データと、曜日の種類と、時刻とを入力することで、対象物が対象エリアに与える影響度を予測する。【選択図】図３

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Inventors:
Natsuki Ishikawa
Hayato Dan
Yoshihiro Okawa
Masatoshi Ogawa
Application Number:
JP2022150567A
Publication Date:
April 02, 2024
Filing Date:
September 21, 2022
Export Citation:
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Assignee:
富士通株式会社
International Classes:
H04W16/22; G06N3/04; G06N3/08
Attorney, Agent or Firm:
Sakai International Patent Office



 
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