Title:
ＭＳ／ＭＳによる定量的分析のためのグループ検出を管理するための高分解能検出
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023546822
Kind Code:
A
Abstract:
タンデム質量分析計が、サンプルイオンを受け取り、センチネルイオンのためのＭＳ走査を監視するように動作し得る。ＭＳ１におけるセンチネルイオンの検出時、質量分析計は、センチネルイオンに関連付けられた少なくとも１つのＭＳ／ＭＳ走査のグループに切り替え、流入サンプルイオンを断片化し、断片化の結果として生じるプロダクトイオンを質量分析する。一実施形態において、ＭＳ／ＭＳ走査の各々は、質量分析計の分離多重反応監視（ＭＲＭ）を備えている。
Inventors:
Le Blank, Eve
Cox, David M.
Cox, David M.
Application Number:
JP2023521332A
Publication Date:
November 08, 2023
Filing Date:
October 07, 2021
Export Citation:
Assignee:
DH Technologies Development Private Limited
International Classes:
H01J49/00; G01N27/62; G01N30/72
Attorney, Agent or Firm:
Shusaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Takatoshi Iida
Daisuke Ishikawa
Kensaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Takatoshi Iida
Daisuke Ishikawa
Kensaku Yamamoto