Title:
電子スピン欠陥に基づく磁気測定法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2022550046
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】 電子スピン欠陥ベースの磁気測定法を提供することである。【解決手段】 磁力計（４００）は、基板（４０２）と、基板上のダイヤモンド層であって、複数の格子点欠陥を含む欠陥副層（４０４）を含むダイヤモンド層と、マイクロ波場送信器（４１０）と、複数の格子点欠陥を基底状態から励起状態に励起する第１の波長を含む光を放出するように構成されている光源（４０８）と、欠陥副層から放出されている第２の波長を含むフォトルミネッセンスを検出するように配置されている光検出器であって、第１の波長は、第２の波長と異なる光検出器と、欠陥副層に隣接して配置されている磁石（４１４）とを含む。【選択図】 図４
Inventors:
Rosenfeld, Emma Louise
Application Number:
JP2022518918A
Publication Date:
November 30, 2022
Filing Date:
October 01, 2020
Export Citation:
Assignee:
X Development LLC
International Classes:
G01R33/26; G01R33/02; G01R33/20
Domestic Patent References:
| JP2009236599A | 2009-10-15 | |||
| JP2011095106A | 2011-05-12 | |||
| JP2012159427A | 2012-08-23 | |||
| JP2014134410A | 2014-07-24 | |||
| JP2014519615A | 2014-08-14 | |||
| JP2014515000A | 2014-06-26 | |||
| JP2016205954A | 2016-12-08 | |||
| JPS6082982A | 1985-05-11 |
Foreign References:
| US20190293425A1 | 2019-09-26 | |||
| US20190219645A1 | 2019-07-18 | |||
| US20100308813A1 | 2010-12-09 |
Attorney, Agent or Firm:
Yoshiyuki Inaba
Mutsumi Sato
Mutsumi Sato