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Title:
方法、測定環境および被試験装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2021528650
Kind Code:
A
Abstract:
少なくとも1つのアンテナアレイを有する装置を評価するための方法であって、装置はアンテナアレイを使用して複数の通信ビームパターンを形成するように構成され、この方法は、測定環境内の装置を位置決めするか、またはビームパターンを測定するように適合された装置の周囲の測定環境のプローブ/リンクアンテナを移動させる/切り替えるステップと、複数の通信ビームパターンの所定ビームパターンを形成するように装置を制御するステップとを含む。この方法は、測定環境および/または装置を使用して所定ビームパターンを測定するステップを含む。選択図:図3

Inventors:
Howstein, Thomas
Leather, Paul Simon Holt
Aspin, Ramez
Rashkovski, Reshek
Grossman, Marx
Marx, Landman
Application Number:
JP2020571697A
Publication Date:
October 21, 2021
Filing Date:
June 19, 2019
Export Citation:
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Assignee:
Fraunhofer-Gesellschaft Tool Felderung del Angewanten Forsung Eingetler Genel Fehlein
International Classes:
G01R29/10; G01R29/26; H01Q1/24; H01Q21/06; H04B7/06; H04B7/08; H04B17/15
Domestic Patent References:
JP2008118484A2008-05-22
JP2013501480A2013-01-10
Foreign References:
US9954279B12018-04-24
EP3104539A12016-12-14
US20120230380A12012-09-13
EP3273257A12018-01-24
EP2750303A12014-07-02
US20110084887A12011-04-14
US20110237246A12011-09-29
WO2018030948A12018-02-15
Attorney, Agent or Firm:
Hitoshi Suzuki