Title:
方法、測定環境および被試験装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2021528650
Kind Code:
A
Abstract:
少なくとも1つのアンテナアレイを有する装置を評価するための方法であって、装置はアンテナアレイを使用して複数の通信ビームパターンを形成するように構成され、この方法は、測定環境内の装置を位置決めするか、またはビームパターンを測定するように適合された装置の周囲の測定環境のプローブ/リンクアンテナを移動させる/切り替えるステップと、複数の通信ビームパターンの所定ビームパターンを形成するように装置を制御するステップとを含む。この方法は、測定環境および/または装置を使用して所定ビームパターンを測定するステップを含む。選択図:図3
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Inventors:
Howstein, Thomas
Leather, Paul Simon Holt
Aspin, Ramez
Rashkovski, Reshek
Grossman, Marx
Marx, Landman
Leather, Paul Simon Holt
Aspin, Ramez
Rashkovski, Reshek
Grossman, Marx
Marx, Landman
Application Number:
JP2020571697A
Publication Date:
October 21, 2021
Filing Date:
June 19, 2019
Export Citation:
Assignee:
Fraunhofer-Gesellschaft Tool Felderung del Angewanten Forsung Eingetler Genel Fehlein
International Classes:
G01R29/10; G01R29/26; H01Q1/24; H01Q21/06; H04B7/06; H04B7/08; H04B17/15
Domestic Patent References:
JP2008118484A | 2008-05-22 | |||
JP2013501480A | 2013-01-10 |
Foreign References:
US9954279B1 | 2018-04-24 | |||
EP3104539A1 | 2016-12-14 | |||
US20120230380A1 | 2012-09-13 | |||
EP3273257A1 | 2018-01-24 | |||
EP2750303A1 | 2014-07-02 | |||
US20110084887A1 | 2011-04-14 | |||
US20110237246A1 | 2011-09-29 | |||
WO2018030948A1 | 2018-02-15 |
Attorney, Agent or Firm:
Hitoshi Suzuki