産業用変化点検出のための方法およびシステム

Japanese Patent JP2024506994

A

本発明は、以下のステップを備える、プロセス自動化システムの信号における変化点ＣＰを検出するためのコンピュータ実装方法に関する。第１のステップ（１１０）において、オフライン学習段階において、教師なし検出方法を使用して少なくとも１つのオフライン信号上で、教師なし、候補ＣＰが検出される。後続のステップ（１２０）において、候補ＣＰからＣＰが選択される。選択されたＣＰは、教師ありプロセスに提供される。次のステップ（１３０、１４０）において、教師ありプロセスにおいて、オフライン機械学習（ＭＬ）システムが、教師あり機械学習方法を使用して、選択されたＣＰからのＣＰを改良するようにトレーニングされる。次のステップ（１６０）において、オンラインＭＬシステムのためのトレーニングデータセットが、改良されたＣＰを上記信号上に投影することによって、オフラインＭＬシステムを使用して作成される。さらなるステップ（１７０）において、オンラインＭＬシステムは、作成されたトレーニングデータセットを使用して、教師あり様式でトレーニングされる。オフライン学習段階の後に、ＣＰは、トレーニングされたオンラインＭＬシステムを使用して検出される（１８０）。

JP2022509126	Interactive repetitive image annotation
JP7044333	Machine learning device, sliding surface diagnostic device, inference device, machine learning method, machine learning program, sliding surface diagnostic method, sliding surface diagnostic program, inference method, and inference program
WO/2022/051823	SYSTEM, EQUIPMENT, AND PROCEDURE FOR MONITORING, PREDICTIVE MAINTENANCE, AND OPERATIONAL OPTIMIZATION OF VIBRATING SCREENERS

Tan, Luom
Gertler, Marco
Klepper, Benjamin
McGee, Sylvia
Pochka, Andreas
Hollander, Martin
Schmidt, Benedict

JP2023551154A

February 15, 2024

February 23, 2022

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ABB Schweiz AG

G06N20/00

Patent Attorney Corporation Suzue Patent General Office

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