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Title:
EUV光用回転楕円体ミラーの反射率計測装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2016151682
Kind Code:
A1
Abstract:
本開示によるEUV光用回転楕円体ミラーの反射率計測装置は、回転楕円反射面を含む回転楕円体ミラーに向けて、EUV光を出力するEUV光源と、EUV光を回転楕円体ミラーの第1の焦点位置を通過させた後、回転楕円反射面に入射させる光学系と、回転楕円体ミラーの第2の焦点位置に配置され、第1の焦点位置を通過した後、回転楕円反射面で反射したEUV光を検出する第1の光センサとを備えてもよい。

Inventors:
Yohei Kobayashi
Mizoguchi
Junichi Fujimoto
Katsunori Isomoto
Wakabayashi Osamu
Georg Smann
Application Number:
JP2017507148A
Publication Date:
January 18, 2018
Filing Date:
March 20, 2015
Export Citation:
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Assignee:
National University Corporation Tokyo University
Gigaphoton Co., Ltd.
International Classes:
G01M11/00; G02F1/37; G03F7/20; H01S3/00; H01S3/10
Domestic Patent References:
JP2011180039A2011-09-15
JP2005241597A2005-09-08
JPH01202637A1989-08-15
Foreign References:
US20070091314A12007-04-26
US5056917A1991-10-15
Other References:
長野 晃尚、外6名: "強制再結合LiターゲットEUV光源のレーザー波長依存性", 第68回応用物理学会学術講演会講演予稿集, vol. Vol.2, JPN6019004953, 2007, pages 7 - 3
永田 豊、外3名: "極微パタン構造計測のためのコヒーレント13nm高次高調波光源の開発I", 2010年秋季第71回応用物理学会学術講演会講演予稿集, JPN6019004955, 2010, pages 07 - 044
Attorney, Agent or Firm:
Patent Business Corporation Tsubasa International Patent Office