Title:
光干渉断層撮影のための走査パターンおよび信号処理
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023536882
Kind Code:
A
Abstract:
眼の健康監視および診断システムの一部として網膜を測定するためのＯＣＴシステム。ＯＣＴシステムは、ＯＣＴ干渉計を含み、干渉計は、光源または測定ビームと、ビームを患者の眼の網膜上で移動させるためのスキャナと、スキャナに測定ビームを網膜上で走査パターンにおいて移動させるための命令を実行するように構成されたプロセッサとを備えている。走査パターンは、複数のローブを備えている連続パターンである。測定ビームは、測定ビームを捕捉し、その向きを変えるミラーの運動によって、網膜上で移動させられ得る。ミラー位置は、ミラーを軸または複数の軸まわりに回転させることによって駆動信号に対して応答する１つ以上のアクチュエータへの駆動信号の印加によって改変され得る。
Inventors:
Ryo Kubota
weider, stephan
Buscemi, Philip M.
Pfister, Matthias
holzer, alexander
weider, stephan
Buscemi, Philip M.
Pfister, Matthias
holzer, alexander
Application Number:
JP2023507423A
Publication Date:
August 30, 2023
Filing Date:
July 28, 2021
Export Citation:
Assignee:
Accusera Incorporated
International Classes:
A61B3/10
Attorney, Agent or Firm:
Shusaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Takatoshi Iida
Daisuke Ishikawa
Kensaku Yamamoto
Natsuki Morishita
Takatoshi Iida
Daisuke Ishikawa
Kensaku Yamamoto
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