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Patent Searching and Data


Title:
ベベル形状のためにストレートスケルトンからメッシュジオメトリを抽出するためのシステムおよび方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2023540121
Kind Code:
A
Abstract:
モデリングアプリケーションにおけるベベル操作のためのポリゴンメッシュジオメトリ抽出のためのシステムおよび方法が開示される。1つの方法は、原形形状輪郭を受け取ることと、原形形状輪郭のストレートスケルトングラフであって複数のエッジを含むストレートスケルトングラフを判定することとを含む。次に、ストレートスケルトングラフに基づいて原形形状輪郭の1つまたは複数の逆オフセット輪郭が判定されてもよい。方法は、ストレートスケルトングラフと、原形形状輪郭と、1つまたは複数の逆オフセット輪郭との和集合に基づいて、1つまたは複数のポリゴンを判定することをさらに含み得る。1つまたは複数のポリゴンは、1つまたは複数のグラフポリゴンと1つまたは複数のサブポリゴンとを含み得る。1つまたは複数のポリゴンに基づいて原形形状輪郭のベベル形状が生成され得る。【選択図】図1A

Inventors:
kemler fritz
Application Number:
JP2023514953A
Publication Date:
September 21, 2023
Filing Date:
August 19, 2021
Export Citation:
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Assignee:
maxon computer gesellschaft mit beschlenktel hafzung
International Classes:
G06T17/00
Attorney, Agent or Firm:
Shinichiro Tanaka
▲吉▼田 和彦
Hiroyuki Suda
Fumiaki Otsuka
Hiroshi Uesugi
Naoki Kondo
Takeo Nasu
Nobuhiko Suzuki
Yoshiaki Kudo