Title:
人工ニューラルネットワーク内のアナログニューラルメモリのための試験回路及び方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024001083
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】ディープラーニング人工ニューラルネットワーク内のアナログニューラルメモリと共に使用する試験回路及び方法を提供する。【解決手段】方法は、ビット線サンプリングスクリーン試験の間、メモリセル又はメモリセルのセットを特定のレベルにプログラムし、ビット線電流をＫ回測定し、平均値を、Ｋ個の測定された値に基づいて計算し、Ｋ個の電流測定値のいずれかが、平均値よりスレッショルドを超えて小さいか大きい場合に、そのビット線を不良であるとみなす。【選択図】図３５
Inventors:
Trang, Hugh, Van
Boo, Sun
Trin, Stefan
Hong, Stanley
Li, Ann
Remke, Stephen
Nguyen, Nya
Tiwari, bipin
Doe, Nan
Boo, Sun
Trin, Stefan
Hong, Stanley
Li, Ann
Remke, Stephen
Nguyen, Nya
Tiwari, bipin
Doe, Nan
Application Number:
JP2023166764A
Publication Date:
January 09, 2024
Filing Date:
September 28, 2023
Export Citation:
Assignee:
SILICON STORAGE TECHNOLOGY, INC.
International Classes:
G06G7/60; G06N3/065; G11C11/54; G11C16/04; G11C16/34; G11C29/50
Attorney, Agent or Firm:
Patent Attorney Corporation Wisdom International Patent and Trademark Office