Title:
An operating method of an ultrasonic observation device and an ultrasonic observation device, and an operation program of an ultrasonic observation device
Document Type and Number:
Japanese Patent JP5927367
Kind Code:
B1
Abstract:
本発明にかかる超音波観測装置は、超音波信号の周波数を解析することによって得られた複数の周波数スペクトルの特徴量をそれぞれ算出する特徴量算出部と、超音波画像を複数の領域に分割した各分割領域において、互いに異なる減衰特性を与える複数の単位長さおよび単位周波数あたりの減衰率候補値の各々を用いることにより、各周波数スペクトルの特徴量に対して超音波の影響を排除する減衰補正を施すことによって減衰率候補値ごとの各周波数スペクトルの予備補正特徴量を算出し、複数の減衰率候補値の中から観測対象に最適な減衰率を設定する減衰率設定部と、超音波振動子の表面とサンプリング点との間に存在する分割領域の最適な減衰率を用いてサンプリング点における単位周波数あたりの累積減衰率を算出し、該累積減衰率を用いて特徴量の減衰補正を行うことにより補正特徴量を算出する特徴量補正部とを備える。
Inventors:
Hironaka Miyaki
Application Number:
JP2016505644A
Publication Date:
June 01, 2016
Filing Date:
October 07, 2015
Export Citation:
Assignee:
Olympus Endo Technology America Inc.
International Classes:
A61B8/12; A61B8/14
Domestic Patent References:
| JP2010246640A | 2010-11-04 |
Foreign References:
| WO2014054469A1 | 2014-04-10 | |||
| WO2014192954A1 | 2014-12-04 |
Attorney, Agent or Firm:
Sakai International Patent Office