Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Adaptersystem für Baugruppen- Platinen, wie sie in großer Anzahl und in verschiedensten Ausfuhrungen in elektronischen Geräten unterschiedlichster Größe verwendet werden. Solche Platinen werden mit einzelnen elektronischen Bauelementen bestückt.

Auf einer solchen Baugruppen-Platine befinden sich eine Vielzahl Bauelemente, Baugruppen und dgl. sowie sind zahlreiche Kontakt- und Lötstellen vorhanden, von denen nicht ausgeschlossen werden kann, daß ein Bauelement, eine Lötstelle und dgl. fehlerbehaftet sein können. Durch eben solchen Fehler ist meistensteils die ganze Baugruppen-Platine nicht verwendbar und würde, eingebaut in ein elektronisches Gerät, nicht tolerierbar sein bzw. zu Beanstandungen seitens des Kunden fuhren. Es ist daher vorgesehen, die Baugruppen-Platinen jede einzeln entsprechend einem vorzugebenden Prüfprogramm auf vollständige Fehlerfreϊhe.t zu überprüfen. Es ist dabei u.a. die große Anzahl Kontaktstellen daraufhin zu überprüfen, daß die zwischen ihnen auf der Platine vorhandenen Leiterbahnen, Bauelemente und Baugruppen die vorgegebenen elektronischen Eigenschaften haben. Ersichtlich ist dies wirtschaftlich nur mittels einer automatisch arbeitenden Prüfeinrichtung durchzufuhren, die an vorgegebenen Prüfstellen der Platine die Leiterbahnverbindungen und die Elemente überprüft, mit denen diese Baugruppen- Platine bestückt ist. Für eine automatisch ablaufende derartige Prüfung sind Prüf- /Testemrichtungen entwickelt worden und erhältlich, die z.B. in einer Ebene eine große Anzahl Anschlüsse, z.B. federnde Kontaktspitzen, aufweisen. Diese Kontaktspitzen sind die jeweiligen äußeren Anschlüsse der Testkanäle der Prüf- Testeinrichtung, wobei die Funktionen der einzelnen Testkanäle standardmäßig festgelegt sind. Werden die Prüfstellen eines Bauelementes bzw. einer Baugruppe mit je einer solchen Kontaktspitze, d.h. einem Testkanal der I ifeinrichtung verbunden, kann mit der Prüfeinrichtung das angeschlossene Element der Baugruppen-Platine auf seine Fehlerfreiheit hin überprüft werden.

Bekannt sind, z.B. aus DE-A-4226069, standardisierte Prüfeinrichtungen mit einem jeweiligen speziellen Adapterteil, mit dem ausgewählte elektrische Verbindungen zwischen einer jeweiligen Prüfstelle einer Baugruppen-Platine und einer Kontaktspitze der Prüfeinrichtung hergestellt werden. Dazu werden die Ebene dieser Kontaktspitzen und die Baugruppen-Platine parallel zueinander und im Abstand übereinanderliegend angeordnet und Kontaktelemente befinden sich in dem Raum zwischen der Platine und der Prüfeinrichtung, die für den jeweiligen Fall in ausgewählter Weise diese Verbindungen herstellen. Üblich ist es hierfür, jeweilige mit einem elektrischen Draht miteinander verbundene Kontakt- Stiftpaare vorzusehen, von denen der eine Stift die ausgewählte Prüfstelle und der andere Stift eine jeweilige zugeordnet ausgewählte Kontaktspitze der Prüfeinrichtung kontaktiert.

Nachteilig bei solchen bekannten Anordnungen ist der Umstand, daß individuelle teilweise längere Drahtverbindungen zwischen den Stiften eines jeweiligen Paares vorzusehen sind, die hohe Erstellungskosten verursachen und sich gegebenenfalls hochfrequenztechnisch ungünstig auswirken. Auch ist das Hantieren mit den und das Einsetzen der Kontakt- Stiftpaare umständlich und zeitraubend. Auch können bei dieser Technik, insbesondere im Falle von Platinen mit hoher Packungsdichte, Probleme auftreten, weil der verfügbare Platz für die jeweils zwei Stifte pro Kontaktverbindung nicht immer ausreichend ist.

Aus der EP-0233992 AI ist seit fast einem Jahrzehnt eine weitere Prüfeinrichtung mit Adapter zur kontaktierenden Anpassung an eine jeweilige Baugruppen-Platine bekannt und ist in Benutzung. Der Adapter weist in einer ersten Platte befestigte erste Federkontaktstifte auf, die der geforderten Kontaktierung von Prüfstellen der

Platine entsprechend, dieser entgegengerichtet, auf der Platte verteilt fläch enmäßig positioniert sind. Der Prüfeinrichtung zugewandt sind in dieser Platte längenkonstante zweite Kontaktstifte befestigt, die jeweils einem der ersten

Federkontaktstifte zugeordnet, diesem benachbart, positioniert sind. Mit Drähten sind diese jeweiligen Kontakt- Stiftpaare miteinander elektrisch verbunden. Dieser bekannte Adapter umfaßt noch eine zweite Platte, mit deren den zweiten

Kontaktstiften zugewandten trichterförmigen Löchern die verbiegbaren Kontaktenden der zweiten Kontaktstifte bei Aufschieben der Platte auf die Enden

dieser Kontaktstifte so ausgerichtet werden, daß die Kontaktierungsenden die ausgewählten federnden Kontaktspitzen der Prüfeinrichtung treffen. Bei diesem bekannten Adapter sind immer zwei Stifte eines Stiftpaares für eine jeweilige Verbindung zwischen der Kontaktspitze der Prüfeinrichtung und der Prüfstelle der Platine vorgesehen. Für eine jeweilige Verbindung ist also Platz für zwei Stifte nebeneinander erforderlich. Im Bereich des Anschlusses eines großen Bauelemente-Bausteins auf der Platine ist dies nicht immer gegeben.

Aus der DE-A-3248694 ist ein weiteres Adaptersystem mit einer Leiterbahnplatte bekannt, die zwischen den genormt positionierten Prüf- Kontaktspitzen der

Prüfeinrichtung und den ebenfalls üblichen Federkontaktstiften angeordnet ist, mit denen die einzelnen Prüfstellen einer Schaltungsplatine kontaktiert werden. Die

Leiterbahnen dieser Platte sind der betreffenden Schaltungsplatine individuell angepaßt ausgeführt, so daß mit diesen Leiterbahnen, nämlich ebenso wie mit den Drähten der vorgenannten bekannten Ausführungen, der jeweilige laterale Versatz von zusammengehöriger Prüf-Kontaktspitze und Prüfstelle der Platine überbrückt ist. Auch beim Adaptersystem dieser Druckschrift ist für eine jede neue

Schaltungsplatine eine neue Leiterbahnplatte mit dem speziell angepaßten

Leiterbahnen-Muster herzustellen, und diese Platte ist auch nur für diese Platine als Adapter verwendbar.

Aus der EP-0374434 AI ist eine noch weitere Prüfeinrichtung, jedoch mit einer Art Universaladapter, bekannt. Dort sind in einer ersten Adapterplatte für die universale Verwendung dicht bei dicht axial verschiebbare, längenkonstante Kontaktstifte eingesetzt. In einer zugeordneten zweiten Adapterplatte sind einzelne Stifte für den speziellen Anwendungsfall ausgewählt positioniert befestigt, die dieser Auswahl entsprechend zugeordnete Stifte der ersten Adapterplatte anheben können und nurdiese somit mit der jeweiligen Prüfstelle der Platine in Kontakt bringen. Die Stifte der zweiten Platte sind mit jeweiliger beweglicher Drahtverbindung mit den Anschlüssen der Prüfeinrichtung elektrisch verbunden. Die zweite mit den Stiften versehene Platte ist an die zu prüfende Platine individuell angepaßt bestückt.

Die voranstehend genannten Nachteile werden mit der vorliegenden Erfindung behoben, die außerdem auch noch nachfolgend erörterte weitere Vorteile bietet.

Die Erfindung ist eine Einrichtung wie sie im Patentanspruch 1 angegeben ist und deren weitere Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.

Die vorliegende Erfindung besteht in erster Linie in einer einer Prüfeinrichtung zugeordneten erfindungsgemäßen universell verwendbaren Rasterplatte mit außerdem erfindungsgemäßer Wahl der Anordnung von Kontaktflächen. Weiterbildungen betreffen speziellere Ausgestaltungen der Rasterplatte und spezielle Lösungen mit Benutzung von besonderen Federkontaktstiften.

In der hier nachfolgenden Beschreibung wird die Erfindung ins einzelne gehend und anhand der beigefügten Figuren näher erläutert.

Die Figur 1 zeigt eine prinzipielle Darstellung eines bei der Erfindung verwendeten

Adapters mit einer erfindungsgemäßen Rasterplatte. Die Figur 2 zeigt ergänzend zur Figur 1 eine besondere Ausgestaltung eines bei der Erfindung zu verwendenden Federkontakt Stiftes.

Die Figuren 3 bis 5 zeigen Schemata eines Beispiels einer erfindungsgemäßen

Aufteilung Verteilung der Kontaktflächen der Rasterplatte der Erfindung.

Die Figuren 6 und 7 zeigen weitere Schemata abgewandelter spezialisierter Verteilungen gemäß der Erfindung.

Die Figuren 8 bis 10 zeigen Schema und Fließbilder zu einer rekursiven

Verteilungsanpassung.

Die Figur 11 zeigt eine bei der Erfindung für Sonderfälle verwendbare Ausführung eines Federkontakt-Stiftpaares. Die Figur 12 zeigt einen bevorzugten Aufbau einer erfindungsgemäßen

Rasterplatte.

Die Figuren 13 und 14 zeigen weitere Ausführungsformen der Federkontaktstift- Verbindungen im Zusammenwirken mit einer erfindungsgemäßen Rasteφlatte.

Die Figuren 15 und 16 zeigen weitere Ausgestaltungen. Die Figuren 17 zeigen die Ausführung einer weiteren Rasteφlatte für besonders weitgehende Vermischung der Kontaktflächen der Gruppe miteinander.

Bekannt sind Prüfeinrichtungen 28, die in der Darstellung der Figur 1 nach oben gerichtete federnde Kontaktspitzen 29 haben, und zwar für jeden Testkanal der Prüfeinrichtung einen solchen Kontakt. Erfindungsgemäß ist eine Rasteφlatte 21

vorgesehen, die gemäß einer Ausführung an die Prüfeinrichtung 28 angepaßt ist. Diese Rasteφlatte 21 weist auf ihrer in der Figur 1 oberen Oberfläche Kontaktflächen 22 auf Auf ihrer Unterseite sind weitere Kontaktierungsflächen 27 vorgesehen. Von diesen hat eine jede elektrischen Kontakt mit einer jeweiligen der Kontaktspitzen 29 der Prüfeinrichtung 28, nämlich wenn die Rasteφlatte 21 auf das Feld der Kontaktspitzen 29 aufgelegt ist.

Wie dies nachfolgend noch näher erläutert wird, ist die Anzahl der Kontaktflächen 22 der Oberseite der Rasteφlatte 21 erfindungsgemäß n-fach größer als die der Kontaktierungsflächen 27 der Unterseite, deren Anzahl im Regelfall gleich der der federnden Kontaktspitzen 29 bemessen ist. Bei besonderer Wahl und Ausgestaltung der Potential-(Vcc-) und Masseanschlüsse können sich die angegebenen Relationen auch etwas verschieben.

AuCin der Rasteφlatte 21 sind jeweils n Kontaktflächen 22 als eine Gruppe Nol, No2, ... mit einer jeweiligen Kontaktierungsfläche eines jeweiligen Anschlusses 27 elektrisch verbunden. Über den Kontakt einer Kontaktspitze 29 mit der Kontaktierungsfläche eines Anschlusses 27 sind also diese n Kontaktflächen 22 mit einem jeweiligen zugeordneten Testkanal der Prüfeinrichtung verbunden. Wie diese jeweils n Kontaktflächen 22 einer Gruppe mit den jeweils n Kontaktflächen anderer Gruppen, die mit jeweils einer der übrigen Kontaktierungsflächen der Anschlüsse 27 verbunden sind, untereinander vermischt auf der Rasteφlatte 21 verteilt/positioniert sind, wird noch weiter unten anhand mehrerer Ausführungsbeispiele näher beschrieben.

Es sei darauf hingewiesen, daß die Rasteφlatte 21 erfindungsgemäß auch ein Bestandteil der Prüfeinrichtung 28 sein kann, so daß insoweit diese Prüfeinrichtung derart erfindungsindividuell ausgestaltet ist. Die einzelnen Testkanäle der Prüfeinrichtung sind dann in noch nicht bekannt gewesener Weise an die Kontaktierungsflächen 27 oder entsprechenden Anschlüsse direkt angeschlossen (womit das Feld der federnden Kontaktspitzen 29 eingespart werden kann).

Die Figur 1 zeigt mit 1' bezeichnet ein gemäß eines weiteren Merkmals der

Erfindung ausgestaltetes und verwendetes Adapterteil für die Halterung von erfindungsspeziell verwendeten Federkontaktstiften, von denen hier zwei Stifte 2, 3

dargestellt sind. Mit 10, 1 1 und 12 sind notwendigerweise wenigstens zwei, hier dargestellt drei, erfindungsspezielle Führungs-Lochplatten bezeichnet, die der Führung der Stifte 2 und 3 dienen. Eine jede dieser Führungs-Lochplatten weist Bohrungen 13 auf, durch die hindurch diese Federkontaktstifte geführt sind. Die Lochplatten 10, 1 1, 12 sind, wie dargestellt, in einem Abstand voneinander angeordnet und die Bohrungen 13 sind in den einzelnen Lochplatten übereinanderliegend oder zueinander mehr oder weniger versetzt positioniert. Auf diese Weise erhalten die Federkontaktstifte 2, 3 eine vorgebbar definierte Ausrichtung im Raum zwischen der Rasteφlatte 21 und der Baugruppen- Platine 31, die beide in Bezug zum Adapterteil 1, wie noch näher beschrieben, angeordnet sind. Durch die mittels der Bohrungen 13 erreichte definierte Führung, die erfindungsgemäß gewollt insbesondere auch schräggerichtet ist, lassen sich bei der Erfindung Prüfstellen 32 der Platine 31 und Kontaktflächen 22 der Rasteφlatte 21 mit jeweils nur einem einzigen Federkontaktstift 2, 3 verbinden, auch wenn die Prüfstelle 32 und die Kontaktfläche 22 (bezogen auf die Normalenrichtung der Platine 31 und der Rasteφlatte 21) seitlich zueinander versetzt positioniert sind. Diese Schrägausrichtung ist stabil, d.h. die Federkontaktstifte 2, 3 können erfindungsgemäß in keiner Weise seitlich ausweichen.

Wie aus der Figur 1 ersichtlich, haben solche Federkontaktstifte durchaus zueinander verschieden gerichtete Schrägstellungen.

Um ein beispielhaftes Größenverhältnis einer Anordnung der Figur 1 anzugeben, seien z.B. 60 mm für den Abstand zwischen der Rasteφlatte 21 und der Baugruppen-Platine 31 genannt. Der Abstand benachbarter Kontaktflächen 22 einer erfindungsgemäßen Rasteφlatte 21 ist z.B. mit etwa 1 mm bemessen. Ein übliches Rastermaß von Bauteilen der Baugruppen-Platine ist z.B. 1,27 mm. Die beiden in Figur 1 mit Federkontaktstiften kontaktierten, an der Baugruppen-Platine befindlichen Prüfstellen 32, 32', an die Bauelemente 33 bzw. 33' mit jeweils einem Anschluß angeschlossen sind, haben in Praxis einen das Mehrfache dieses Rastermaßes 1,27 mm betragenden Abstand voneinander. Lediglich der Vollständigkeit halber sei daraufhingewiesen, daß die Bauelemente- Anschlüsse an den Prüfstellen 32, 32' ... ,wie aus Figur 1 ersichtlich, unterschiedlich ausgestattet sein können und dazu Federkontaktstifte mit entsprechend angepaßten Kontaktenden verwendet werden. Eine Prüfeinrichtung hat z.B. 1000 Testkanäle

und die Anzahl der (n mal so viele) Kontaktflächen 22 kann z.B. 50000 betragen. Wieviele Prüfstellen 32 der Platine zu kontaktieren sind, hängt vom Einzelfall, d.h. von der speziellen Platine ab.

Die Baugruppen-Platine 31 wird in einer für sie vorzusehenden, weil jedoch bekannt, nicht näher ins einzelne gehend erörterten Halterung so gehalten, daß der vorgegeben definierte Abstand zur Prüfeinrichtung 28 bzw. zur Rasteφlatte 21 eingehalten wird, und zwar auch entgegen den Federkräften einer großen Anzahl Federkontaktstifte 2, 3, .... Als Halterung für Baugruppen-Platinen sind mechanisch wirkende Niederhalter oder Ansaugung über Vakuumtechnik übliche Praxis. Für letzteren Fall ist vakuumdichte Abdichtung unterhalb der Platine 31 erforderlich. Aus dem Stand der Technik ist es dafür bekannt, Federkontaktstifte zu verwenden, deren Außenhülse, nämlich wie Figur 2 zeigt, in einer Platte 112 vakuumdicht eingesetzt ist. Dies würde an sich die bei der Erfindung nicht nur zugelassene, sondern die Erfindung weiterbildende Möglichkeit der Schrägstellung der Federkontaktstifte, nämlich wie sie Figur 1 zeigt, verhindern. Für diesen Fall sind für die Erfindung spezielle Federkontaktstifte 102 vorgesehen, die ein richtungsmäßig ablenkbares Teilstück 1002 besitzen. Mit 1012 ist ein Gelenk bezeichnet, das der an sich nur geringen erforderlichen Auslenkung wegen relativ einfach realisierbar ist, z.B. als ein Gummigelenk (mit elektrischer Überbrückung), als ein Kugelgelenk, ein Federgelenk und dgl. Ein solcher Kontaktfederstift soll oberhalb und unterhalb der festen Einspann ung in die Platte 112 einen federnden Kontaktstift, z.B. gemäß irgendeiner bekannten Ausführung, aufweisen.

Auch bei einer Ausführungsform nach Figur 2 ist zur Platte 1 12 wenigstens eine weitere Führungs-Lochplatte 10, nämlich für den auszulenkenden Stiftanteil 1002, vorzusehen.

Die Führungs-Lochplatten werden, dem Einzelfall angepaßt, mit den Bohrungen 13 versehen und im Abstand voneinander übereinanderliegend derart starr verbunden, daß spätere laterale Verschiebung der Lochplatten 10, 1 1. 12 ( 1 12) gegeneinander ausgeschlossen ist. Dies erfolgt mit z.B. üblichen mechanischen Mitteln, z.B. (nicht dargestellten) Verbindungsstangen 16, mit denen das Adapterteil außerdem auch gegenüber der Rasteφlatte 21 verschiebungsfrei und mit definiertem Abstand zu hartem ist.

Nachfolgend wird ausgehend vom Stand der Technik ein ganz wesentlicher weiterer Teil der Erfindung beschrieben.

Um eine bestimmte Prüfstelle einer Baugruppen-Platine gemäß der Praxis des Standes der Technik mit der Kontaktfläche eines geeigneten Testkanals einer Prüfeinrichtung zu verbinden, sind im Stand der Technik die bereits erwähnten Federkoutakt-Stiftpaare mit Drahtverbindung verwendet worden. Damit war es im wesentlichen problemlos, in der wenn auch weiteren Umgebung der Prüfstelle unter den von der Prüfeinrichtung angebotenen Testkanälen einen solchen zu finden, der nicht schon anderweitig belegt ist, wobei es auf lateralen Versatz der Prüfstelle und der zugeordneten Kontaktfläche des Testkanals zueinander nicht wesentlich ankam. Ein solcher Versatz von Prüfstelle und Kontaktfläche zueinander kann nach dem Stand der Technik ohne weiteres bis zum Hundertfachen des Rastermaßes groß sein. Ersichthch ist Derartiges für ein erfindungsgemäßes Adapterteil mit singulären Federkontaktstiften unmöglich, da diese, wie auch aus Figur 1 ersichthch, nur geringen seitlichen Versatz der miteinander zu verbindenden Prüfstelle und Kontaktfläche, d.h. nur geringe Schrägstellung des dafür verwendeten jeweils nur einzelnen Kontaktstiftes, zulassen.

Gemäß einer Ausführung der Erfindung soll aber (im wesentüchen) nur mit solchen wie in Figur 1 gezeigten einzelnen Federkontaktstiften gearbeitet werden. Der Vorteil dieser Bescl-jänkung hegt darin, daß das Einsetzen der Federkontaktstifte in das aus wenigstens zwei Lochplatten 10, 11, 12 bestehende Adapterteil 1 ganz wesentlich vereinfacht ist gegenüber dem Zusammensetzen eines bekannten Adapterteils mit darin eingesetzten Federkontakt- Stiftpaaren. Ein zu berücksichtigender Umstand hegt darin, daß bestimmten Baugruppen-Platinen zugeordnete Adapterteile in Fertigungsbetrieben aufgehoben werden, jedoch bei der Erfindung aus Einsparungsgründen diese Adapterteile auch ohne darin befindliche Federkontaktstifte verwahrt werden können. Die eine nicht unbeträchtliche Investition bildenden Federkontaktstifte werden vorteilhafterweise vielfach zwischen-Aviederverwendet und auch in ein Adapterteil wieder eingesetzt, in dem sie eine Zeit zurückhegend schon einmal benutzt worden sind.

Mit der Kenntnis der Erfindung ist es ersichtlich, daß solche äußerlich glatten Federkontaktstifte, wie sie in Figur 1 gezeigt sind und bei der Erfindung verwendet werden, mit sehr wenig Aufwand in ein vorbereitetes bzw. bereits vorhegendes Adapterteil eingesetzt und nach Verwendung dieses Adapterteils auch ebenso leicht wieder herausgenommen werden können. Das Einsetzen kann in einfacher Weise geschehen, indem man ein Bündel Federkontaktstifte über die beispielsweise oberste Lochplatte des Adapterteils aufrechtstehend hinüberschiebt und in jedes einzelne Loch dieser (oberen) Lochplatte einen der Federkontaktstifte des Bündels hineinfallen läßt.

Oben ist bereits angegeben, daß bei der Erfindung einem jeden Testkanal der Prüfeinrichtung jeweils eine n-fache Anzahl Kontaktflächen 22 auf der Rasteφlatte 21 zugeordnet ist. Dies und die nachfolgend beschriebene, ein weiteres Merkmal der Erfindung bildende Verteilung dieser Kontaktflächen 22 dienen dazu, die bevorzugte, vorteilhafte, praktisch und möglichst ausschließliche Verwendung von nur einzelnen Federkontaktstiften 2, 3 zu ermöglichen.

Es lassen sich eine Vielzahl Ordnungsschemata für die Untereinander- Verteilung der Kontaktflächen 22 verschiedener Testkanäle angeben, mit denen die Präsenz bzw. Zugänghchkeit der/zu den einzetoen Testkanälen der Prüfeinrichtung über die Fläche der Rasteφlatte 21 hinweg mehr oder weniger gleichmäßig verteilt gemacht werden kann. Mit mehr oder weniger gleichmäßiger Verteilung der Zugänghchkeit der Testkanäle auf der Rasteφlatte 21 ist es möglich zu erreichen, daß von einer jegüchen Prüfstelle 32 (irgendeiner zu testenden Platine 31) in deren Nähe (unterhalb) auf der Rasteφlatte 21 mit einem nur einzigen Federkontaktstift 2, 3 eine Kontaktverbindung mit einem von mehreren auswählbaren Testkanälen herstellbar ist. Um dies zu realisieren, ist bei der Erfindung (wie auch schon in der Figur 1 angedeutet) vorgesehen, daß solche einzelnen Federkontaktstifte 2, 3 auch in Schrägstellung verwendet werden, nämlich mittels des Adapterteils 1' schräggehakert. Ersichthch kann aber nur ein vorzugebendes Maß an maximaler Schrägstellung zugelassen werden.

Ein vorgegebenes Maß maximaler Schrägstellung eines jeweiligen

Federkontaktstiftes 1, 2 ..., d.h. ein Maß tolerierbaren seitlichen Versatzes, sei beispielsweise auf Plus/Minus das (diagonale) Rastermaß der Kontaktflächen der

/ O

Rasteφlatte 21, d.h. z.B. auf das Maß +1,4 mm beschränkt. Das heißt, daß z.B. ausgehend von einer mit einem Testkanal zu verbindenden Prüfstelle 32, mittels des Federkontakstiftes 2, 3 ... nur die (im wesentlichen) senkrecht darunterliegende Kontaktstelle und wahlweise eine der in der Fläche vorhandenen acht weiteren Kontaktstellen, die diese senkrechte darunterliegende Kontaktstelle unmittelbar umgeben, kontaktiert werden können. Das heißt, daß unter Berücksichtigung der obengenannten Einschränkung von dieser Prüfstelle 32 ausgehend wahlweise neun Kontaktstellen 22 angesteuert werden können. Ist also die senkrecht unter der Prüfstelle 32 hegende Kontaktstelle 22 diejenige eines schon besetzten (oder schaltungstechnisch hier nicht verwendbaren) Testkanals, der also nicht zur Verfügung steht, oder ist dies ein mit keinem Testkanal verbundener Vcc- oder Masseanschluß, so kann mit dem Federkontaktstift durch entsprechend zueinander gewählte Positionierung der Bohrungen 13 in den Lochplatten 10, 1 1, 12 (wie in Figur 1 gezeigt) von der Prüfstelle 32 ausgehend eine benachbarte Kontaktfläche 22 eines anderen Testkanals kontaktiert werden.

Die Figur 3 zeigt als ein erstes Beispiel eine für die Erfindung allgemein bevorzugte Aufteilung bzw. Verteilung der Kontaktflächen einer erfindungsgemäß ausgestalteten Rasteφlatte. Die lediglich der einfacheren Erläuterung halber als quadratisch angenommene Rasteφlatte ist gedanklich in die vier Sektoren A/B, B/C. C/D und D/A aufgeteilt. Am Außenrand des Sektors A/B ist ein Viertel (= a) aller vorhandenen Testkanäle angeschlossen. In der Figur 3 sind lediglich als Beispiel nur 20 Kanäle aj bis a20 f r den Sektor A/B angegeben. Am Sektor B/C ist ein weiteres Viertel der verfügbaren Testkanäle b\ bis b20 angeschlossen. Entsprechendes gilt für die beiden weiteren Sektoren. Im Sektor A/B ist die eine Hälfte der dort vorhandenen Kontaktflächen 22 mit den Kanälen a \ bis a O ^xm ^ die andere Hälfte mit anderen Testkanälen, hier beispielsweise mit den Testkanälen bj bis b2G _% verbunden. Das heißt, daß in dem Sektor A/B Kontaktflächen 22 der Kanäle aj bis a20 und °1 bis b20 _τ und zwar alle untereinander verteilt, zugänglich sind. Im Sektor A/B ist es also möghch unter Einschluß einer Schrägstellung des jeweiligen einzelnen Federkontaktstiftes mit einem solchen einzetoen Federkontaktstift 2, 3 Kontaktverbindungen von Prüfstellen 32 zur Hälfte aller überhaupt verfügbaren Kanäle herzustellen. Im Sektor B/C sind sinngemäß die Kontaktflächen der Testkanäle b\ bis b20 und cj bis C20 verfügbar, wobei die Kanäle c _j bis C20 beispielsweise am Außenrand des Sektors C/D angeschlossen

sind. Entsprechendes gilt für die Sektoren C D und D/A. Im Sektor C/D sind Kontaktflächen der Testkanäle cj bis C20 und d\ bis d2fj. und im Sektor D/A sind Kontaktflächen der Testkanäle dj bis d20 und a j bis a20 verfügbar. Ersichthch sind in zwei benachbarten Sektoren zusammengenommen (z.B. A/B und B/C) Kontaktflächen von drei Viertel aller überhaupt vorhandenen Testkanäle verfügbar. Eine solche Verteilung der den Testkanälen zugeordneten Kontaktflächen untereinander ist im Sinne der Erfindung eine genügend gleichmäßige Verteilung, auch wenn, wie ersichthch, Bereiche der Rasteroberfläche angebbar sind, in denen nebeneinander nicht alle überhaupt vorhandenen Testkanäle verfügbar sind. Dies gilt für die Erfindung auch deshalb, weil gemäß einer Weiterbildung der Erfindung noch ein rekursives Auswahlverfaliren zusätzlich zur Verfügung gestellt ist.

Die Figur 4 zeigt als Ausschnitt, wie gemäß einer bevorzugten weiteren Ausgestaltung des Ausführungsbeispiels der Figur 4 die Testkanäle innerhalb eines jeweiligen Sektors mit ihren jeweils mehrfachen Kontaktflächen in der Ebene verteilt sein können.

Die Figur 4 zeigt für den Sektor A/B, wie die Kontaktflächen der Testkanäle a _j bis a20 und bj bis b20 untereinander zeilenweise und zeilenverschachtelt vorteilhafterweise verteilt sein können. Die in der Figur 4 unterste Zeile des Sektors A/B enthält nebeneinander Kontaktflächen der Kanäle aj bis a20 Die darüberliegende zweite, weiter innen hegende und damit in ihrer Länge verkürzte Zeile enthält den Testkanälen b\ bis b20 zugeordnete, in der Figur 4 mit den Nummern 21 bis 40 bezeichnete Kontaktflächen, ausgenommen die Kontaktflächen No. 27 und No. 34, die (wegen der Verkürzung der Zeile) in die nächst drüberliegende dritte Zeile eingefügt sind. Desweiteren enthält diese dritte, noch mehr verkürzte Zeile wieder zu den Kanälen a j bis a20 gehörende Kontaktflächen No. 1 bis No. 20. ausgenommen sechs Kontaktflächen, die schon in die darüberliegende vierte Zeile eingefügt sind. Die vierte Zeile und bei diesem Beispiel vollständig die fünfte Zeile enthalten wieder Kontaktflächen No. 21 bis No. 40 der Gruppe der Testkanäle b \ bis b20 •

Es ist zu berücksichtigen, daß in der Praxis die Anzahl der Kanäle und damit die Anzahl der Kontaktflächen sehr viel größer ist und damit die Verteilung sehr viel

feiner ist als dies anhand des vereinfachten Beispiels der Figur 4 angenommen werden könnte.

In der zu prüfenden Baugruppen-Platine müssen bei einigen Testverfahren die einzelnen zu prüfenden Teilbereiche steuerbar mit elektrischer Spannung versorgt werden, und zwar im Regelfall ohne daß andere, momentan nicht zu prüfende Teilbereiche durch anhegende Spannung in Betrieb gesetzt werden. Es ist dementsprechend nützlich, ebenso wie man einzetae Prüfstellen kontaktiert, auch Erdung und die Stror-αzuführung aus der Prüfeinrichtung in die zu prüfende Platine über Federkontaktstifte zu bewirken. Zu diesem Zwecke sind einzelne Kontaktflächen mit Masse oder mit Betriebsspannung (von der Prüfeinrichtu-ig steuerbar gespeist) verbunden. Zur oben beschriebenen Verteilung der Kontaktflächen und Testkanäle miteinander, kommt somit noch die der Verteilung von Masse- und Potential-Anschlüssen hinzu. Zum Beispiel stehen dann statt der oben angegebenen neun Auswahlmöghchkerten z.B. nur acht Möglichkeiten zur Verfügung und die neunte Möglichkeit ist für die Spai-nungszuführung reserviert. Dies bedeutet aber keinerlei praktische Etosctoänkung der Brauchbarkeit der Erfindung, da die erfindungsgemäßen zur Verfügung stehenden Variations- öglichkeiten sehr groß sind.

Die Figur 5 zeigt wiederum als Ausschnitt eine den Figuren 3 und 4 entsprechende Verteilung, in der auch Koutaktflächen für Erdung und Stromzuführung in beispielhafter Weise berücksichtigt sind. Wieder enthält die unterste Zeile Kontaktflächen der Kanäle a \ bis a2fj . nämlich mit No. 1 bis No. 20 bezeichnet. Die Kontaktflächen No. 21 bis No. 40 sind den Testkanälen b\ bis b20 zugeordnet. Kontaktflächen mit den Nummern 41 bis 60 sind den Testkanälen cj bis C20 zugeordnet. Diese Kontaktflächen sind im Sektor B/C enthahen, der sich vom rechten senkrechten Rand der Darstellung der Figur 5 dreiecksmäßig zum Zentrum hin erstreckt. Der Figur 5 ist zu entnehmen wie. wie schon oben angegeben, innerhalb der unteren/rechten Diagonalhälfte der Rasteφlatte 21 der Figur 5 drei Viertel aller verfügbaren Kanäle mit Kontaktfläche untereinander verteilt präsent sind.

Die Figuren 6 und 7 zeigen ein zu dem Beispiel der Figuren 3 bis 5 zwertes Beispiel einer Verteilung der den einzetoen Testkanälen zugeordneten mehrfach

vorhandenen Kontaktflächen. Das Schema der Figur 6 weist eine geringere Gleichmäßigkeit der Verteilung der Kontaktflächen der einzelnen Testkanäle auf, hat jedoch den Vorzug, daß die aufin der Rasteφlatte vorzusehende elektrische Verbindung der einzelnen verteilten Kontaktflächen zu ihrem zugeordneten Testkanalanschluß relativ kurz gehalten ausgeführt werden kann. In Figur 6 sind mit al bis a8 die Anschlüsse von acht Testkanälen einer ersten Gruppe bezeichnet. Die Anschlüsse von Testkanälen weiterer Gruppen sind mit b] bis bg, c _j bis cg und dj bis dg bezeichnet. Mit schwarzen ausgefüllten Punkten sind den einzetoen Testkanälen zugeordnete Kontaktflächen dargestellt, die, wie aus der Figur ersichthch, mit kurzen elektrischen Leiterbahnen mit ihrem Testkanal- Anschluß verbunden sind. Ebenfalls aus der Figur ersichthch und keiner weiteren Erläuterung bedürfend, sind die Kontaktflächen verschiedener Testkanäle in ihrer Nachbarschaft untereinander verteik. Eine solche weniger gleichverteilte Anordnung der Kontaktflächen der Testkanäle ist dann vorteilhaft, wenn es auf sehr kurze Verbindungen zwischen dem Testkanalanschluß und der Prüfstelle 32 der Platine ankommt. Nur die kurzen Leiterbahnen und der einzelne Federkontaktstift bilden die Gesamtlänge der Verbindung zwischen Testkanalanschluß und Prüfstelle.

Die Figur 7 zeigt ein der Figur 6 sehr ähnhches Schema, mit jedoch, wie mit einigen wenigen Bezeichnungen der hier nicht ausgefüllt dargestellten Kontaktflächeu angedeutet, gegenüber der Figur 6 weitergehender Verteilung der Kontaktflächen untereinander. Beim Beispiel der Figur 7 sind die Verbindungen der Kontaktflächen teilweise jedoch bereits etwas länger. Es ist für den Einzelfall abzuwägen, welches Maß an Gleichmäßigkeit der Verteilung einerseits und minimierter Länge der Verbindungen auf/in der Rasteφlatte andererseits für die Lösung des einzelnen Problems günstiger ist.

Vo Einzelfall abhängig und auch abhängig von der Anzahl der Prüfstellen einer Platine vergleichsweise zur Anzahl der überhaupt zur Verfügung stehenden Testkanäle, kann auch der Fall eintreten, daß für eine Prüfstelle 32 der Platine kein passender Testkanal im (mit einem einzetoen Federkontaktstift erreichbaren) Umgebungsbereich verfügbar ist. Diese NichtVerfügbarkeit ist dann gegeben, wenn sämtliche Kontaktflächen des Umgebungsbereiches einer solchen Prüfstelle zu Testkanälen gehören, die andernorts der Rasteφlatte bereits belegt sind, nämlich

IV

weil die Testkanäle auch dort mit zugeordneten Kontaktflächen präsent und bererts mit anderen Prüfstellen kontaktiert sind.

Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ist die folgende Lösung des Problems vorgesehen. Läßt sich in einem unterhalb der Prüfstelle 32 hegenden Bereich einander benachbarter Kontaktflächen keine solche finden, deren Testkanal noch frei ist, kann man in rekursiver Weise in einem anderen Bereich, in dem einer dieser Testkanäle auf seiner Kontaktfläche schon kontaktiert belegt ist, nach einer Möglichkeit suchen, durch Verlegen dieser Kontaktierung, d.h. durch Ausrichten des dort befindlichen Federkontaktstiftes auf eine andere Kontaktfläche eines noch freien Testkanals, die zuvor belegte Kontaktstelle freizumachen. Damit ergibt sich dann im zunächst erörterten Bereich der Prüfstelle 32 eine kontaktierbare Kontaktfläche eines jetzt frei gewordenen Testkanals. Natürlich wird diese Auswahl, wie noch nachfolgend näher beschrieben, zuvor "auf Papier", d.h. softwaremäßig, z.B. in einem Computer, errechnet und erst dann werden letztendlich die Führungs-Lochplatten 10, 1 1, 12 gebohrt. Lediglich ergänzend sei erwähnt, daß wenn z.B. im ersten rekursiven Schritt noch keine Kontaktstelle, d.h. kein Testkanal freigemacht werden kann, man zu einem anderen Bereich geht, in dem der Testkanal einer anderen Kontaktfläche des Bereichs der Prüfstelle 32 freigemacht werden kann. Man kann aber auch rekursiv in dem Bereich, in dem man den gewünschten Testkanal nicht freimachen konnte, eine noch weiter rekursive Freimachung vornehmen.

Die Figur 8 dient zur weiteren Erläuterung des rekursiven Verfahrens des Verteilungsalgorithmus. Es sei angenommen, daß in der erfindungsgemäßen

Vorrichtung ein (jeweiliger) Federkontaktstift bis zu dem Maß eines diagonalen

Rasterabstandes 1 der Kontaktflächen der Rasteφlatte schräggestellt werden kann.

Weiter sei angenommen, daß in den herausgegriffenen, in der Figur dargestellten

Bereichen I, II, III die mittlere der jeweils neun einander benachbarten Kontaktflächen ein Masseanschluß bzw. Potentialanschluß ist. Liegt nun der Fall vor, daß eine oberhalb (siehe auch Figur 1) befindliche Prüfstelle 32 mit einer der

Testkanal-Kontaktflächen des Feldes I mittels eines Federkontaktstiftes kontaktiert werden soll und die zu diesen weiteren acht Kontaktflächen dieses Bereiches I gehörenden Testkanäle bereits anderswo im gesamten Feld der Kontaktflächen der Rasteφlatte besetzt sind, wird versucht, z.B. die Kontaktfläche No. 1

is-

freizumachen, indem man an derjenigen Stelle der gesamten Rasteφlatte, an der der Testkanal, der zu dieser Fläche No. 1 gehört, belegt ist, dort diese Belegung zu ändern. Liegt diese Belegung z.B. im Bereich II vor, so wird dort dann die mit diesem Testkanal verbundene Kontaktfläche No. 1 freigemacht, indem in dem Bereich II stattdessen z.B. der (noch freie) Testkanal der Kontaktfläche No. 2 belegt wird. Da also in dem Bereich II nunmehr die dortige Kontaktfläche 1 und damit der zugehörige Testkanal frei ist, steht dann die Kontaktfläche 1 des Bereiches 1 für die Kontaktierung mit dem Federkontaktstift zur Verfügung, der die Verbindung mit der Prüfstelle 32 der Platine bewirkt. Sollte im Extremfall die Kontaktfläche No. 1 im Bereich II in der wie eben beschriebenen Weise nicht freigemacht werden können, weil dort die Testkanäle aller übrigen dargestellten Kontaktflächen ebenfalls schon belegt sind, geht man dazu über, in einem noch weiteren Bereich HI eine Umbelegung obiger Art, z.B. von der Kontaktfläche No. 2 auf z.B. die Kontaktfläche No. 3 eines anderen, noch freien Testkanals vorzunehmen. Diese Umbelegung macht im Bereich II den Testkanal der dortigen Kontaktflächen No. 2 frei, nämlich um so im Bereich II den Testkanal der Kontaktfläche No. 1 doch freizubekommen. Es ist dies das rekursive Verfahren. Man kann natürlich statt dessen versuchsweise auch den Schritt I --> HI vornehmen. nämlich unmittelbar im Bereich III den Testkanal der Kontaktfläche No. 1 wie gehabt freizumachen, dies aber nur dann wenn der Bereich Hl überhaupt eine diesem Testkanal zugeordnete Kontaktfläche No. 1 umfaßt.

Dieses nur scheinbar komplizierte Verfahren wird mittels eines Computers durchgeführt, dem ein entsprechendes Wahl- und Suchprogramm eingegeben ist. Das Fließbild- Schema der Figur 9 gibt ein solches Programm an mit Einlesen und Vorsortieren der Eingangsdaten, wobei dies die Koordinaten der Prüfpunkte der Baugruppen- Platine sind. Das Vorsortieren berücksichtigt z.B. Kriterien, wie sie gegebenenfalls aufgrund interner Strukturen der Prüfsysteme sinnvoll sind. Im nächsten Schritt erfolgt die Auswahl der besten konfliktfreieu Kontaktposition auf der Rasteφlatte für eine gegebene Prüfstelle. Ist dies geschehen, erfolgt die gleiche Auswahl für die nächste anzuschließende Prüfstelle. Sind schließlich alle Prüfstellen zugeordnet, kann die Berechnung der Koordinaten für die Bohrungen 13 in den Führungs-Lochplatten 10, 1 1, 12 erfolgen und können die weiteren Arbeiten ausgeführt werden. Konnten nicht für alle Prüfstellen Kontaktflächen jeweils freie Testkanäle gefunden werden, geht das Programm wieder zurück auf den Schritt

Ib

der Auswahl, um bessere Kontaktposition zu finden. Das Fließbild der Figur 10 gibt das Schema des schon obenbeschriebenen rekursiven Verfahrens wieder. Zunächst ist eine Auswahl einer Kontakφosition (in einem Bereich I) ausgewähk worden, die mh einem schräggestellten Federkontaktstift erreichbar ist. Es sei dies eine Posrtion erster Ordnung. Ist eine freie Position gefunden, geht das Schema sofort zur Übergabe der ausgewähhen Kontaktposition an das Hauptprogramm der Figur 9. Konnte keine freie Position gefunden werden, erfolgt eine Auswahl einer Kontaktposition durch Umplazierung in einem anderen Bereich π, HI mit bereits gesetzten Kontakφositionen (Positionen höherer Ordnung), nämhch um im Bereich des direkten Zugriffs (Position erster Ordnung) eine freie Posrtion zu schaffen. Damit geht das Schema dann in die Übergabe der ausgewählten Kontakφosition an das Hauptprogramm über.

Bei Prüfeinrichtungen, bei denen, bedingt durch den internen Aufbau (z.B. gemukiplexte Pinelektronik), gewisse Einschränkungen bei der Zuordnung zwischen Prüfstellen und Testkanälen vorgegeben sind, müssen bei der Auswahl der Kontaktflächen zusätzlich vom Hersteller der Prüfeinrichtung vorgegebene Regeln eingehalten werden. Das AuswaMverfahren erfolgt in diesem Falle in gleicher Weise. Es wird bei der Auswahl jedoch neben dem Kriterium, daß der Testkanal nicht bereits belegt ist. auch noch das Kriterium berücksichtigt, ob die Zuordnungsregeto der I ifeinrichtung erfüllt sind.

Im Extremfall ein solcher könnte z.B. im Bereich einer mit vielen Steckerbeinen versehenen Steckbaugruppe auftreten, ist eine Hilfsmaßnahme durchführbar, die in Figur 1 1 gezeigt ist. Dieser Extremfall kann häufiger auftreten, wenn insbesondere aus elektrischen Gründen Rasteφlatten 21 verwendet werden, die zu einer vorgegebenen Anzahl kontaktierbarer Testkanäle eine n-fache Anzahl Kontaktflächen 22 haben, bei der die Zahl n nur wenig groß gewählt ist. Diese Maßnahme ist ein Federkontakt- Stiftpaar mit jedoch gegenüber dem Stand der Tecinik außerordentlich kurzer, nur über wenige Rasterlängen der Rasteφlatte sich erstreckender elektrischer Drahtverbindung. Der einseitig mit Federkontakt versehene Stift 202 ist über den leitenden Draht 205 mit dem zweiten Federkontaktstift 203 mit nur einer Federkontaktspitze verbunden. An den jeweiligen anderen Enden der Stifte 202 und 203 sind elektrisch isolierende Köφer 204 vorgesehen. Die Federkontaktstifte 202 und 203 stützen sich dort an den

Platten 21 und 12 ab. Mit einem solchen Federkontakt- Stiftpaar ist es möghch, mehrere Rasterlängen zu überbrücken, wohingegen mit den generell vorgesehenen schräggerichteten Federkontaktstiften 2 und 3 nur Phis/Minus ein oder zwei Rasterlängen (quer und in der Diagonale) weit ausgewichen werden kann. Diese Hilfsmaßnahme widerspricht nicht dem erfindungsgemäßen Prinzip, weil sie zum einen nur dazu dient, lediglich für im Sonderfall eintretende Fälle eine Lösung zu bieten und zum anderen kompatibel im Hinblick auf die Führungs-Lochplatten des erfindungsgemäß vorgesehenen Adapterteils ist.

Bei der Erfindung sind, wie schon oben mehrfach erwähnt, in/auf der Rasteφlatte 21 elektrische Verbindungen von den auf deren Oberfläche befindlichen Koυtaktflächen 22 zu Punkten, z.B. zu den erwähnten Kontierungsflächen 27, vorzusehen. Besonders zweckmäßig ist es, diese Verbindungen als Lerterbahnen auszuführen.

Die Figur 12 zeigt in geschnittener Seitenansicht eine gemäß einer Weiterbildung der Erfindung ausgeführte Rasteφlatte 21 in Mehrschichten- Aufbau. Mit 22 sind wiederum die auf der (hier oberen) Oberfläche der Rasteφlatte 21 vorgesehenen Kontaktflächen bezeichnet. Mit 121 bis 125 sind Schichten oder dergleichen aus elektrisch isoherendem Material bezeichnet. Die Rasteφlatte 21 weist mit 131 bezeichnete, den Kontaktflächen 22 zugeordnete Bohrungen auf Zwischen den Schichten 122 und 123 sowie 124 und 125 sind bei diesem Beispiel flächenmäßig durchgehende Metallisierungen 132 und 133 vorgesehen, die für den Anschluß und die Weiterleitung von Massepotential und Stromversorgungs-Potential Vcc vorgesehen sind. Zwischen den Schichten 121 und 122 einerseits und 123 und 124 andererseits sind einige Leiterbahnen 141, 142, 143 dargestellt. Um z.B. die Kontaktfläche 22 _] mit der MetaUisierung 132, nämlich mit dem Masseanschluß, elektrisch zu verbinden, ist vorgesehen, daß die zu dieser Kontaktfläche 22 ] gehörende Bohrung 131 innenwandig derart metallisiert ist und daß die MetaUisierung 132 an diese Bohrung soweit herangeführt ist, daß über diese Innenmetalhsierung 136 der Bohrung elektrische Verbindung zwischen der MetaUisierung 132 und der Kontaktfläche 22] hergesteUt ist. Entsprechendes gehe für die Kontaktfläche 222 ⁿ ^ ^{t euιer} ώnenwandigen MetaUisierung der ihr zugehörigen Bohrung 131 und einer Kontaktverbindung mit der Metallisierung 133 des Vcc-Anschlusses. Dort wo keine elektrische Verbindung von den

Metallisierungen 132/133 zu Kontaktflächen 22 vorhegen soll, werden diese Metallisierungen um die betreffenden Bohrungen 131 herum zweckmäßigerweise ringförmig ausgespart.

Für z.B. in der Richtung der Horizontalen der Ebene der Figur 12 verlaufende Leiterbahnverbindungen 141 und 142 ist beispielsweise die Ebene zwischen den Schichten 121 und 122 reserviert. Zum Beispiel sind dort mit 223 und 223' einerseits und mit 224 und 224' andererseits bezeichnete Kontaktflächen vorgesehen, die jeweüs mittels der Leiterbahnverbindungen 141 und 142 elektrisch verbunden sein soUen. Dazu sind die Innenwände der jeweiligen Bohrungen 131 metaUisiert. daß zwischen der Leiterbahn 141 und der jeweiligen Kontaktfläche elektrische Verbindung besteht. Außerdem sind die den Kontaktflächen 223' und 22 ' zugehörigen Bohrungen 131 weiterreichend bis zu den zugehörigen Kontaktierungsflächen 27 der jeweiligen Kontaktspitze 28 der Prüfeinrichtung 29 elektrisch leitend metaUisiert. Ersichthch ist damit die elektrische Verbindung von der jeweiligen Kontaktierungsfläche 27, d.h. dem Anschluß für den Testkanal der Spkze 29, zu den beiden elektrisch parallel geschalteten Kontaktflächen 223 und 223- hergesteUt. Das Gleiche gut für die Kontaktflächen 224 und 224'. Dies entspricht einer n = 2-fachen Vervielfältigung der Testkanalanschlüsse auf der Oberfläche der Rasteφlatte 21. Erfindungsgemäß ist im RegelfaU die n- fache Vervielfältigung weit größer gewählt.

Die Ebene zwischen den Schichten 123 und 124 sei in sinngemäßer Weise für Leiterbahnen 143 reserviert, die in zur Ebene der Figur 12 senkrechter Richtung verlaufen, d.h. die Richtung der Verbindungen 141/142 im wesentlichen kreuzen.

Auch für Leiterbahnverbindungen 143 sind entsprechende innenwandige Metallisierungen der Bohrungen zur elektrischen Verbindung von Kontaktflächen 22 mit Kontaktierungsflächen 27 vorgesehen.

Solche Leiterbahnverbindungen 141, 142, 143, sowie auch die Verbindungen zwischen auf Masse- oder auf Vcc-Potential zu legende Kontaktflächen mit den Masse-/Vcc-Anschlüssen sind, verglichen mit nach dem Stand der Technik in bekannten Priifeinrichtungen verwendeten Drahtverbindungen, hinsichtlich Überlastung empfindlich. Gemäß einer Weiterbildung der Erfindung sind

Sicherungselemente 150 für die Lerterbahnverbindungen der Rasteφlatte vorgesehen. Es können dies Sicherungen nach Art einer Schmelzsicherung sein, die auf z.B. der unteren Oberfläche der Rasteφlatte 21 zwischen der Innenwand- Metallisierung einer Bohrung 131 und der jeweiligen Kontaktierungsfläche 27 (für den Anschluß der Prüfspitze 28) angeordnet sind. Dort kann eine durchgebrannte Schmelzsicherung 150 gezielt nach bekannten Methoden wieder repariert werden. Solche Überlastungen können auftreten, wenn eine schadhafte Baugruppen-Platine geprüft wird.

Diese voranstehend beschriebene Ausfiihiungsform einer gemäß einem Merkmal der Erfindung vorgesehene Rasteφlatte 21 kann, wie schon eingangs erwähnt, ein getrenntes AdapterteU zu einer bekannten Prüfeinrichtung sein oder kann auch ein integraler Bestandteü der insoweit dann neuen Prüfeinrichtung sein. In diesem FaUe können die Kontaktierungsflächen 27 und die einen nicht unwesentlichen Kostenfaktor bUdenden Kontaktspitzen 29 der Priffeinrichtung eingespart werden und direkte elektrische Drahtverbindungen von den Anschlüssen der einzetoen Testkanäle zu den Innenwand-Metallisierungen der jeweiligen Bohrungen 131 der Rasteφlatte vorgesehen sein.

Es ist oben eine gängige Praxis erwähnt, mittels Unterdruck die Baugruppen- Platine 31 anzusaugen und mit Hilfe des Atmosphärendruckes die Platine auf die große Anzahl Federkontaktspitzen zu drücken, um den gewünschten Kontakt zwischen den PrüfsteUen der Platine und diesen Federkontaktstiften zu gewährleisten. Zu diesem Zwecke bedarf es einer gegen Durchbiegung stabilen oberen Platte 112 des Adapters, wie sie schon in der Figur 2 gezeigt ist.

Die Figur 13 zeigt eine alternative Ausführungsform von im Zusammenhang mit der erfindungsgemäßen Rasteφlatte 21 zu verwendenden Federkontaktstiften. Ähnlich wie bei der Ausführungsform der Figur 2 sind Federkontaktstifte 302 vorgesehen, die fest und vakuumdicht in die Adapteφlatte 1 12 eingesetzt sind. Mk den nach oben ragenden gefederten Sprtzen koutaktieren diese Stifte die jeweiligen PrüfsteUen der Platine (wie in Figur 1 gezeigt). Das gegenüberhegende Ende dieser Federkontaktstifte 302 ist als Kontaktierungsende 303 ausgebildet. So wie in Figur 1 gezeigt, erfolgt die weitere Kontaktverbindung zu den Kontaktflächen 42 der Rasteφlatte 21 über Federkontaktstifte 2, 3 der obenbeschriebenen Art. Diese von

2 c

den Lochplatten 10, 11 geführten Federkontaktstifte können wie beim Beispiel der Figur 1 schräggerichtet ausgewählte KontaktsteUen 22 kontaktieren. Aus den das Adapterteil büdenden Lochplatten 10, 11, die, wie beim Beispiel der Figur 1 in die Prüfeinrichtung eingesetzt, mechanisch starr miteinander verbunden sind, können nach Gebrauch dieses Adapters die Federkontaktstifte 2 in einfacher Weise wieder herausgenommen und in einem anderen Adapter weiterverwendet werden. Wie im Stand der Technik, können auch die fest eingesetzten Kontaktstifte 302 wieder- /weiterverwendet werden, wenn man sie aus der Platte 1 12 wieder herauszieht.

Eine noch weitere Ausgestaltung zur Erfindung ist eine überwiegende bis ausschließliche Verwendung von Federkontakt-Stiftpaaren, wie in ähnlicher Form bereits in Figur 1 1 gezeigt. Wie schon oben erwähnt, sind solche Federkontakt- Stiftpaare vorteilhaft zu verwenden, wenn die erfindungsgemäße Rasteφlatte 21 eine nicht sehr große n-fache Anzahl der Koutaktflächen 42 hat. Solche Federkontakt- Stiftpaare 202', 203 können mit kurzen und mit längeren elektrischen Verbindungsdrähten 205 verwendet werden. Bei der in Figur 14 dargesteUten Ausführungsform sind die nach oben gerichteten Federkontaktspitzen 202' in eine für Ansaugung der Platine genügend stabile Adapteφlatte 1 12 vakuumdicht eingesetzt und gehaltert. Trotz der Verwendung der Federkontakt- Stiftpaare 202', 203' bietet auch diese Ausführungsform die meisten Vorteile, die sich aus der erfindungsgemäßen Rasteφlatte 21 mit vervielfältigter Anzahl KontaktsteUen 22, nämlich gegenüber der Anzahl der vorhandenen Prüfspitzen der Prüfeinrichtung. ergeben. Eben durch die Zugriffsmöglichkeit auf erfindungsgemäß n-fach vervielfältigte und dazu untereinander verteüte Kontaktflächen 42 der vorgegebenen kleineren Anzahl Testkanäle, bietet sich auch bei dieser Ausführungsform mit Stiftpaaren der Vorteil, jeweils mit sehr kurzen Verbindungsdrähten 205 auszukommen.

Die voranstellenden Ausfülirungsformen sehen im wesentlichen nur in EinzelfaUen bz . bei Einzelpositionen (Figuren 1 1, 13 und 14) elektrische Drahtverbindungen zwischen spezieU vorgesehenen (Feder- )Stiften vor. Für die Rasteφlatte 21 sind den bisher beschriebenen Beispielen entsprechend bevorzugt Leiterbahnverbindungen zwischen im RegelfaU in n-facher Anzahl vorhandenen Kontaktflächen 22 der einen (oberen) Oberfläche dieser Rasteφlatte und den Kontaktflächen der Anschlüsse 27 der anderen (unteren) Oberfläche vorgesehen.

Es kann aber für die HersteUung und/oder Verwendung der aufgabengemäß und erfindungsgemäß universeU verwendbaren Rasteφlatte von Vorteil sein, diese Lekerbahnverbindungen zum Teü oder insbesondere auch vollständig durch elektrische Drahtverbindungen zu ersetzen. Insbesondere verringert sich nämlich mit dieser Maßnahme der Aufwand für das Design des die Erfindung betreffenden Verbindungsmusters für die obengenannten Verbindungen zwischen jeweils den n- fachen, über die eine Oberfläche der Rasteφlatte verteiken Kontaktflächen 22 mit den zugeordneten jeweUigen Kontaktflächen der Anschlüsse 27 der anderen Oberfläche. Gemäß der Erfindung sind die n-fach vorhandenen, paraUelgeschaketen Kontaktflächen 22, die einer Kontaktfläche eines jeweihgen Anschlusses 27 der anderen Seite der Rasteφlatte zugeordnet sind, auf der einen Oberfläche der Rasteφlatte innerhalb wenigstens eines Bereiches dieser Oberfläche mit werteren n-fachen Kontaktflächen, die jeweihgen anderen Kontaktflächen der Anschlüsse 27 zugeordnet sind, untereinander vermischt positioniert.

Mit Drahtverbindungen können nämlich praktisch behebige elektrisch isolierte Überkreuzungen mit Drahtverbindungen anderer Kontaktflächen ausgeführt werden, was für Leiterbahnen leider nicht ohne weiteres bzw. nur sehr aufwendig auszuführen der FaU ist. Vor aUem läßt sich mit solchen Drahtverbindungen für die n-fachen Kontaktflächen 22, zugeordnet den jeweihgen Anschlüssen 27, noch größere Durchmischung über noch größere Bereiche oder die gesamte Oberfläche der Rasteφlatte 21 realisieren.

Nachfolgend wird ein Beispiel einer erfindungsgemäßen Rasteφlatte 21' mit elektrisch kontaktierenden Drahtverbindungen und ein Verfahren zur HersteUung einer solchen Platte beschrieben.

Die Figur 15a zeigt zwei für eine komplette Rasteφlatte vorgesehene Platten 1210 und 121 1. Die erste 1210 der beiden Platten hat Bohrungen 71 in der Anzahl und wahlfreien Positionierung der Kontaktflächen 22 einer für vorangehend beschriebene Beispiele verwendeten Rasteφlatte 21. Die zweite Platte 1211 hat die Bohrungen 72, die in der Anzahl entsprechend den Kontaktflächen der Anschlüsse 27 vorhanden sind. Diese Poskionen sind wie oben von der (genormten) Priifeinrichtung 28 und deren Kontaktstifte 29 vorgegeben.

In zunächst größerem Abstand A der beiden Platten voneinander werden in die z.B. erste Platte 1210, wie in der Figur 15a beispielhaft gezeigt, geformte Kontaktstifte 73 mit vorzugsweise einem Kopf für eine Kontaktfläche 22 in die vorbereiteten Löcher 71 vorzugsweise eingeklemmt/eingepreßt eingesetzt. Ein solcher Kontaktstift 73 hat z.B. eine Axialbohrung im Stiftteil, durch die ein dünner Leitungsdraht 77 hindurchgezogen wird ist. Dieser Draht wird im/am Stift 73 elektrisch kontaktiert angebracht, z.B. angelötet, und hat einen elektrisch isolierenden Mantel. Alternativ kann der jeweilige Draht 77 auch aUein am (unteren) Ende des Stiftes 73 kontaktierend befestigt sein.

Wie in Figur 15a dargesteUt, wird/ist dieser jeweilige Draht 77 desweiteren durch ein vorgebbar auszuwählendes Loch 72 der zweiten Platte 121 1 geführt, wobei im RegelfaU jeweUs mehr oder weniger großer seitlicher Versatz des jeweihgen Loches 1 zum Loch 72 vorgesehen ist. Der der Erfindung gemäß vorgesehenen/vorgegebenen VerteUung der Kontaktflächen 22 to erfindungsgemäß miteinander und untereinander vermischter Positionierung auf der Rasteφlatte, hier jetzt der ersten Platte, sind nämlich die in folglich n-facher Anzahl vorhegenden Drähte der Stifte bzw. Kontaktflächen 22, die erfindungsgemäß einer jeweUigen Kontaktfläche 27 der gegenüberhegenden Oberfläche der Rasteφlatte zugeordnet sind, zum jeweihgen Loch 72 der zwe en Platte hingeführt, insbesondere durch dieses Loch hindurchgeführt. Die Drähte des jeweihgen Loches 72 werden dann mit der jeweihgen Kontaktfläche der Anschlüsse 27, wie auch noch nachfolgend näher beschrieben, elektrisch kontaktierend, insbesondere eingelötet, verbunden und befestigt. Wegen der n-fachen Vielzahl der Kontaktflächen 22 gegenüber den durch die Prüfeinrichtung vorgegebenen Kontaktflächen 27 sind durch ein jeweiliges Loch 72 der zweiten Platte die Anzahl n Drähte z.B. hindurchgefürt und dort folglich untereinander elektrisch verbunden. Die Figur 15 zeigt ein Beispiel mit n = 3.

Es ist aus dem vorangehend Beschriebenen und aus Figur 15b ersichthch, daß für die elektrischen Verbindungen der n-fachen paraUelgeschaketen Kontaktflächen 22 einer Gruppe Nol, No2, ... mk den jeweihgen Kontaktflächen der Anschlüsse 27, denen die Kontaktflächen 22 einer solchen Gruppe jeweUs elektrisch verbunden zugeordnet sind, praktisch sich behebig überkreuzende Verbindungen der Drähte 77 ausgeführt werden können. Der Übersichtlichkeit halber und lediglich

beispielhaft zeigt die Figur 15b die Verdrahtung von einzelnen Kontaktflächen 27 _j und 272 mit je drei untereinander verteilt positionierten Stiften bzw. Kontaktflächen 22] und 222- In der Praxis befinden sich zwischen zwei Kontaktflächen 22 einer Gruppe eine Vielzahl Kontaktflächen 22 anderer Gruppen

Zweckmäßigerweise werden nach erfolgter wie beschriebener Verdrahtung dieser beiden Platten 1210 und 121 1 diese aufeinander zu bewegt, d.h. ihr in Figur 15a gezeigter Abstand A voneinander verringert. Es können dann noch die Drähte 77 durch Ziehen gestrafft werden und vorteilhafterweise wird auch erst entsprechend danach die Lötkontaktierung an den Kontaktflächen der Anschlüsse 27 ausgeführt. Der sich dann noch ergebende Zwischenraum mit den darin enthaltenen Verbindungsdrähten 77 kann dann z.B. durch Vergießen mit Gießharz 78 ausgefüUt werden oder es erfolgt eine sonstige Befestigung der ersten und zweken Platte miteinander. Dies ergibt dann eine der Rasteφlatte 21 äquivalente Rasteφlatte 21'. Diese Rasteφlatte 21' ist genauso universeU verwendbar, d.h. nicht indrvidueU an eine jeweilige zu prüfende Schaltungsplatine angepaßt, und ist ebenso wie die Rasteφlatte 21 vielfaltig zu verwenden.

Die Figur 16 zeigt eine spezieUe Ausführungsform, die als WeiterbUdung für tosbesondere eine Ausführung nach den Figurl 5b aber auch solche nach weiter vorangehend beschriebenen Ausführungen nutzbar ist. Insbesondere bei sehr weitgehender, für universeUe Verwendbarkeit vorteilhafter Vermischung der

Positionierungen der Kontaktflächen 22 untereinander, kommt es dazu, daß entsprechend dem seitlichen Versatz einer jeweUigen Kontaktfläche 22 zur zugeordneten Kontaktfläche des Anschlusses 27 auch relativ lange Verbindungen erforderlich sind. Dies gut insbesondere für die Maßnahme mit Drahtverbindungen der Figuren 15a/ 15b, mit der praktisch unbegrenzte Vermischung der

Kontaktflächen 22 untereinander ermöglicht ist. Solche langen Verbindungen können aber etwa wie Antennen wirken und kapazitive Störungen der einzetoen Prüfkanäle untereinander hervorrufen. Diese WeiterbUdung ist vorteilhaft insbesondere für FäUe mit sehr hochfrequenten Testsignalen der Prüfeinrichtung

28.

Die WeiterbUdung gemäß Figur 16 sieht zur Abhilfe eines solchen FaUes vor, die Kontaktflächen der Anschlüsse 27, wie dargesteUt, in mehrere in der Fläche nahe

2.«. bei einander hegende Teilkontaktflächen 27 _x aufzuteUen. In der Figur 16 sind jeweils zwei Teilkonftaktflächen 27] und 272 sichtbar abgebüdet, wobei zwei weitere TeUkontaktflächen dahint erliegend verdeckt sind. Figur 16a zeigt dazu im Ausschnitt in Aufsicht diese beispielsweise vierfache Aufteüung einer Kontaktfläche eines Anschlusses 27.

Mit wie beispielhaft dargesteUten (Feder- )Kontaktstiften 81, die gemäß dieser WeiterbUdung (wie in der Figur für eine Achse angedeutet) vorzugsweise biaxial etwas schwenkbar gehaltert ausgeführt sind, kann eine Verbindung zwischen einer jeweihgen der TeUkontaktflächen 27], 272 .... zum betreffenden Prüfeingang 29 der Prüfeinrichtung 28 wahlweise eingesteUt werden. Wegen einer solchen Aufteüung der Kontaktfläche des Anschlusses 27 läßt sich entsprechend dem dargesteUten Beispiel erreichen, daß die jeweilige vorgesehene Verbindung von einem Prüfeingang 29 der Prüfeinrichtung 28 zum ausgewähken Kontakt 32 der zu prüfenden Schaltungsplatine 31 so ausgeführt ist, daß jeweils nur das eine Viertel der vorhandenen elektrischen Verbindungen, z.B. der Verbindungsdrähte zu den n- fachen Kontaktflächen 22, in der Rasteφlatte elektrisch an diesen Prüfeingang 29 angeschlossen ist. Es kann also bei dieser WeiterbUdung der Erfindung nur dieses eine Viertel der n-fachen Verbindungen zu Koutaktflächen 22 aUenfaUs in störender Weise wirksam werden. Je nach Aufwand und/oder Zweckmäßigkeit kann auch weitergehende AufteUung vorgesehen sein. Solche TeUkontaktflächen 27] .... werden in der Oberfläche der Rasteφlatte sinnvoUerweise/in der Regel entsprechend zweidimensional, z.B. vierfach, fünffach, neunfach und dergleichen in engem Abstand voneinander aufgeteUt. Zweckmäßig ist, ein biaxiales Gelenk 82 oder dergleichen eines jeweihgen Stiftes 81 vorzusehen.

Die schwenkbaren Stifte 81 werden (wie Figur 16b ausschnktsweise für einen Stift zeigt) z.B. durch eine Zusatz-Lochplatte 82 geführt gehaltert. Diese Lochplatte 82 ist auf die getroffene Auswahl der bn EinzelfaU benutzten Teilkontaktfläche bezogen mit entsprechend positionierten Führungslöchern 83 versehen hergesteUt. Diese Zusatzlochplatte ist zwar nicht mehr universeU wie die Rasteφlatten 21, 21' verwendbar. Dies ist aber keine Einschränkung der Erfindung, denn der geringe Aufwand für die spezifische Zusatz-Lochplatte wird durch den VorteU verringerten "Antenneneffekts" im jeweihgen BedarfsfäUe weit aufgehoben.

zr

Die schwenkbaren Kontaktstifte 81 sind dann im RegelfaU TeU der Prüfeinrichtung 28 und die Zusatz-Lochplatte 82 wird dann für eine spezieUe Schaltungsplatine zusammen mit den schon beschriebenen Platten 10, 1 1, .... verwendet bzw. zur jeweihgen Verwendung aufgehoben/bereitgelegt.

Es kann auch eine Aktuator-gesteuerte wahlweise Ausrichtung der Stifte 81 vorgesehen sein. Mit dem jeweihgen Aktuator erfolgt eine Winkelausrichtung, die z.B. mittels eines Programms gesteuert einsteUbar sein kann. Statt eine für eine spezieUe Schaltungsplatine spezifische Lochplatte aufzubewahren, wird dann das für eine bestimmte Schaltungsplatine spezielle Steueφrogramm der Stifte 81 aufbewahrt.

Die Figuren 3 bis 5 betreffen Schemata für die Vermischung der Positionen von verschiedenen Anschlüssen 27 zugeordneten Kontaktflächen 22 untereinander. Bei diesen Beispielen ist das VerteUungsmuster vom Rande der Fläche ausgehend auf die Mitte zulaufend konzipiert. Die Figuren 17a, 17b betreffen dagegen ein weiteres neues Verteüungsschema, das zueinander kreuzweise, insbesondere diagonal, in verschiedenen Ebenen der Rasteφlatte verlaufende innere Zuleitungen zu den einzetoen gruppenweise n-fach paraUelgeschaketen Kontaktflächen 22 der Oberfläche der universeU verwendbaren Rasteφlatte vorsieht.

Die Figuren 17a und 17b zeigen zwei Ebenen mit Leiterbahnen 91 bzw. 92. Das Schema mit den Leiterbahnen 91 der einen Ebene und das Schema der Leiterbahnen 92 der anderen Ebene hegen to der Praxis in der Rasteφlatte 21 übereinander. In der jeweihgen Ebene sind, wie dargesteUt, mit jeweUigen Anschlüssen 93 elektrische Verbindungen von der jeweihgen Leitung 91/92 zur betreffenden Kontaktierungsbohrung 1 133 vorgesehen. Diese

Kontaktierungsbohrungen sind in den Figuren im Schnitt zu sehen und sie weisen als elektrische Leitungen Innenmetalhsierungen auf. Diese Innenmetalhsierungen reichen in der Regel bis zur Oberfläche der Rasteφlatte, auf der sich die zahlreichen Kontaktflächen 22 befinden. Über diese Metallisierungen der Bohrungen 1133 sind also bereits eine jeweilige Anzahl Kontaktflächen 22 der Oberfläche der Rasteφlatte 21 mit einer jeweihgen Leitung 91/92 über jeweilige Anschlüsse 93 (to der betreffenden Ebene) elektrisch miteinander verbunden. Hinzukommend oder unter den Kontaktflächen 22 enthalten sind Bohrungen zu

solchen Kontaktflächen, die für den Masseanschluß oder den Anschluß von Versorgungsspannungen Vcc vorgesehen sind und die auch anderweitig, z.B. an eine noch weitere innere Kontaktierungsebene der Rasteφlatte 21, angeschlossen sein können.

Die Figur 17c zeigt eine wehere, in der Rasteφlatte der Oberfläche mk den Kontaktflächen 22 näherhegende Ebene. Die Figur 17c zeigt to der DarsteUung auch nicht-ausgefüUte Kreise, die jeweUs den Querschnitt jeweiliger weniger weit in die Tiefe reichender, weiterer Bohrungen in der Rasteφlatte 21 angeben. Diese Bohrungen 1134 reichen z.B. nur zwei Lagen tief in die Platte hinein, erreichen also nicht die Ebenen der Verbtodungsleitungen 91/92. Diese weiteren Bohrungen hegen wie ersichthch zwischen den Positionen der Bohrungen 1133 in der regelmäßigen VerteUung der vorgesehenen Kontaktflächen 22 der Oberfläche der Rasteφlatte 21. Mit wie in Figur 17c gezeigten werteren Verbindungen 95 in dieser Ebene sind im Inneren der Platte einzelne Bohrungen 1133 mit Bohrungen 1 134 elektrisch verbunden.

Figur 17d zeigt in Seitenansicht in rein schematischer DarsteUung die Lage voranstehend beschriebener Ebenen von Leitungsbahnen und Bohrungen 1133 und 1134, wie sie oben beschrieben sind. Soweit die Ränder der Bohrungen mit dickem Strich ausgezogen dargesteUt sind, reichen die InnenmetaUisierungen. Es ist aus der DarsteUung der Figur 17d zu erkennen, wie verschiedene an der Oberfläche vorhandene Kontaktflächen 22 der Rasteφlatte 21 im Inneren an die einzetoen beschriebenen Ebenen d.h. an in diesen Ebenen vorhandene Leitungen 91/92 angeschlossen werden können. Zwischen der Ebene der Figur 17c und der Oberfläche mit den Kontaktflächen 22 ist noch eine weitere Ebene 17c' eingetragen, die zusätzlich vorgesehen sein kann und in ihrer Ausführung prinzipieU der Figur 17c entspricht, jedoch zur Figur 17c orthogonal ausgerichtete Leiterbahnen hat. Mit 17m ist auch noch eine (wie oben erwähnte) Metalhsierungsebene berücksichtigt. Es sei darauf hingewiesen, daß Figur 17d nur prinzipieUe Anschaulichkeit vermitteln kann, da sie nicht die zur ZeichnungsdarsteUung senkrechte zweite Dimension der Ebene wiedergeben kann, über die hinweg sich die VerteUung von Verbindungen der InnenmetaUisierungen der verschiedenen Bohrungen erstreckt.

Wie aus einem Vergleich der Figuren 17a bis 17d ersichthch, verlaufen in der Rasteφlatte an Orten der Bohrungen 1134 unterhalb deren Bohrungstiefe die Leiterbahnen 91/92. Durch die geringere Tiefe der Bohrungen 1134 und größere Tiefe der Bohrungen 1133 läßt sich bei dieser Ausgestaltung der erfindungsgemäßen Rasteφlatte Platz für die diagonal (Figuren 17a/ 17b) zum Raster der Kontaktierungen 22 verlaufenden Leiterbahnen 91/92 gewinnen, wobei diese Leiterbahnen jeweUs auch von Rand zu Rand der ganzen Rasteφlatte verlaufen können, jedoch aber auch (wie die Figuren 17a/b zeigen) elektrisch unterbrochen sein können.

Die Figur 17e zeigt, wie eine jeweilige Bohrung 1 133' auch als Verbindung einer Leiterbahn 91 der einen Ebene mit einer rechtwinklig dazu verlaufenden Leiterbahn 92 der entsprechenden anderen Ebene dienen kann. Mit solchen inneren Verbindungen zwischen kreuzweise verlaufenden Leiterbahnen 91 und 92 der beiden Ebenen lassen sich die über die gesamte Fläche der Rasteφlatte hinweg verteüten (einem jeweihgen Anschluß 27 zugeordneten) n-fachen Kontaktflächen einer jeweUigen Gruppe trotz untereinander größerer Abstände derselben voneinander miteinander und mit diesem zugeordneten Anschluß 27 elektrisch verbinden.

Es ist ersichthch, daß nach einem solchen Prinzip wertestgehend wahlfreie Verbindungen von Leitungen 1/92 über Bohrungskontaktierungen und Leitungen 93, 94 und 95 vorgesehen sein können, um die Kontaktflächen 22 der Oberfläche der Rasteφlatte, die gruppenweise (No. l, No.2 ...) einem jeweihgen anderen Anschluß 27 elektrisch zugeordnet sind, praktisch behebig miteinander vermischt über diese Oberfläche verteüt positioniert anordnen zu können. Trotz engen Rasters der Kontaktflächen 22 bietet diese Ausgestaltung genügend Platz für die zahlreichen Leiterbahnen.

Die Kontaktflächen der Anschlüsse 27 befinden sich an der (in den Figuren) Unterseite der Platte. Diese Anschlüsse sind mit jeweihgen der durchgehenden und bis zur Unterseite der Platte innenmetallisierten Bohrungen 1133 elektrisch verbunden.

Mit der Erfindung und insbesondere mit dem besonders vorteilhaften vorangehend beschriebenen mehrlagigen Verteilungsschema mit sich kreuzenden Zuleitungsbahnen 91 und 92 läßt sich praktisch in jedem Teübereich der gesamten Oberfläche die Kontaktflächen 22 enthakenden Rasteφlatte eine Kontaktfläche finden, die es ermöghcht, von einer behebig poshionierten PrüfsteUe 32 einer spezieUen Schaltungsplatine 31 über Federkontaktstifte 2, 3 (siehe auch Figur 1 ) eine Verbindung zu einem Prüfeingang 29 der Prüfeinrichtung 28 zu realisieren, auch wenn dieser Prüfeingang (to der Figur 1 betrachtet) lateral erhebhch versetzt ist gegenüber der spezieUen PrüfsteUe 32 der Schaltungsplatine 31. Durch das durchmischte n-fache Vorhandensein von Kontaktflächen eines jeweihgen Anschlusses 27 bzw. eines jeweUigen Prüfeinganges 29 ist Kontaktverbindungsmöghchkek von praktisch jeglichem Punkt der Schaltungsplatine zu jeglichem Eingang der Piüfeinrichtung angeboten. Ermöghcht wird dies durch die erfindungsgemäß ausgestaltete universeU verwendbare Rasteφlatte 21, 21 ^* . Diese Rasteφlatte ist, um es nochmal zu betonen, nicht auf eine spezieUe Schaltungsplatine und auch nicht auf eine spezieUe Prüfeinrichtung beschränkt verwendbar, wobei hinsichtlich der Beziehung von Rasteφlatte und Prüfeinrichtung zueinander Übereinstimmung des Rasters der Anschlüsse 27 m dem Raster der Prüfeingänge 29 bestehen muß.