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Patent Searching and Data


Title:
CONNECTION DEVICE AND METHOD, AND TESTING DEVICE AND METHOD
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2008/117405
Kind Code:
A1
Abstract:
A connection device (110) has contacts (126) provided with openings (126a) into which plug-like connector terminals (2) of a wiring board (1) are inserted, and also has pressing parts (130) for deforming the contacts (126) so that a gap (Wb) at the narrowest portion of an opening (126a) of a contact (126) is changed between a state where the gap (Wb) is greater than the thickness (Wa) of a connector terminal (2) measured in the direction corresponding to the direction of the gap (Wb) and a state where the gap (Wb) is smaller than the thickness (Wa).

Inventors:
ISHIZUKA TOSHIHIRO (JP)
OGAWA TAKEO (JP)
Application Number:
PCT/JP2007/056269
Publication Date:
October 02, 2008
Filing Date:
March 26, 2007
Export Citation:
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Assignee:
FUJITSU LTD (JP)
ISHIZUKA TOSHIHIRO (JP)
OGAWA TAKEO (JP)
International Classes:
G01R31/26; H01R13/193; H01R43/00
Foreign References:
JPH08273761A1996-10-18
JPH07229940A1995-08-29
JPH0564774U1993-08-27
Attorney, Agent or Firm:
FUJIMOTO, Ryosuke (Yaesu Nagoya Building 6thFloor 2-10, Yaesu 2-chome, Chuo-k, Tokyo 28, JP)
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Claims:
 被検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入される開口部を有するソケットと、
 前記開口部の最も狭い部分の間隔を前記コネクタ端子の対応する方向の厚さよりも大きくした第1の状態と、前記開口部の前記間隔を前記コネクタ端子の前記厚さよりも狭くした第2の状態との間で変化するように前記ソケットを変形させる変形部とを有することを特徴とする接続装置。
 被検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入される開口部を一端に形成する一対の接触子と、
 当該一対の接触子の他端の間に配置され、前記一対の接触子の前記開口部の最も狭い部分の間隔を前記コネクタ端子の対応する方向の厚さよりも大きく設定する絶縁部と、
 前記開口部の前記間隔が前記コネクタ端子の前記厚さよりも小さくなるように前記一対の接触子を外側から押圧する押圧部品と、
 前記押圧部品を前記一対の接触子に対して移動する移動部とを有することを特徴とする接続装置。
 前記一対の接触子を前記コネクタ端子に対して移動する別の移動部を更に有することを特徴とする請求項2記載の接続装置。
 平行な複数の貫通溝を有して絶縁材料から構成される直方体形状のコンタクトユニットを更に有し、前記絶縁部は隣接する2つの貫通溝に挟まれた部分として形成され、前記一対の接触子の前記他端は前記部分の両側に固定され、前記押圧部品は前記複数の貫通溝に挿入される脚部を有することを特徴とする請求項2又は3記載の接続装置。
 前記一対の接触子の外側に設けられた別の一対の接触子とを更に有し、前記押圧部品は前記別の一対の接触子を介して前記一対の接触子を押圧することを特徴とする請求項2乃至4のうちいずれか一項記載の接続装置。
 前記別の一対の接触子は金属材料から構成されることを特徴とする請求項5記載の接続装置。
 前記押圧部品は樹脂製であることを特徴とする請求項2乃至6のうちいずれか一項記載の接続装置。
 被検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入される開口部を有するソケットの前記開口部の最も狭い部分の間隔を前記コネクタ端子の対応する方向の厚さよりも大きくした状態で、前記ソケットが前記コネクタ端子の両側に非接触で配置されるように、前記コネクタ端子と前記ソケットの少なくとも一方を移動するステップと、
 前記移動ステップ後に、前記開口部の間隔を前記コネクタ端子の厚さよりも狭くして前記ソケットと前記コネクタ端子とが接触するように前記ソケットを変形させるステップとを有することを特徴とする接続方法。
 被検電子部品の接続装置であって、
 請求項1乃至7のうちいずれか一項記載の接続装置と、
 前記被検電子部品の前記電気的特性を測定する測定部とを有することを特徴とする接続装置。
 一対のプラグ状コネクタ端子のそれぞれが挿入される開口部を一端に形成する二対の接触子を有し、
 前記測定部は、
 各対の接触子の一方に接続された電流源と、
 各対の接触子の他方に接続された電圧計とを有し、
 四端子法によって前記被検電子部品の抵抗を測定することを特徴とする請求項9記載の接続装置。
 被検電子部品の電気的特性を試験する試験装置であって、
 請求項1乃至7のうちいずれか一項記載の接続装置と、
 前記被検電子部品の前記電気的特性を測定する測定部とを有することを特徴とする試験装置。
 前記試験装置は、一対のプラグ状コネクタ端子のそれぞれが挿入される開口部を一端に形成する二対の接触子を有し、
 前記測定部は、
 各対の接触子の一方に接続された電流源と、
 各対の接触子の他方に接続された電圧計とを有し、
 四端子法によって前記被検電子部品の抵抗を測定することを特徴とする請求項11記載の試験装置。
 被検電子部品の電気的特性を試験するのに使用される接続装置であって、
 被検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入される開口部を一端に形成する一対の接触子と、
 前記一対の接触子の一方を電流を流す端子として使用し、
 前記一対の接触子の他方を前記一対の接触子と前記コネクタ端子との接触状態を監視する端子を有することを特徴とする接続装置。
 被検電子部品の電気的特性を試験する試験装置であって、
 被検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入される開口部を一端に形成する一対の接触子と、
 前記一対の接触子の一方を電流を流す端子として使用して前記被検電子部品の前記電気的特性を測定する測定部と、
 前記一対の接触子の他方を前記一対の接触子と前記コネクタ端子との接触状態を監視する監視部とを有することを特徴とする試験装置。
 前記試験装置は二対の接触子を有し、前記測定部は各対の接触子の一方を電源に接続して電流を流す端子として使用して前記被検電子部品の前記電気的特性を測定し、前記監視部は各対の他方の間の電位差を監視することを特徴とする請求項14記載の試験装置。
 被検電子部品の電気的特性を試験する試験方法であって、
 被検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入される開口部を有するソケットの前記開口部の最も狭い部分の間隔を前記コネクタ端子の対応する方向の厚さよりも大きくした状態で、前記ソケットが前記コネクタ端子の両側に非接触で配置されるように、前記コネクタ端子と前記ソケットの少なくとも一方を移動するステップと、
 前記移動ステップ後に、前記開口部の間隔を前記コネクタ端子の厚さよりも狭くして前記ソケットと前記コネクタ端子とが接触するように前記ソケットを変形させるステップと、
 前記被検電子部品の電気的特性を測定するステップとを有することを特徴とする試験方法。
 前記ソケットと前記コネクタ端子との接触状態を監視するステップを更に有することを特徴とする請求項16記載の試験方法。
Description:
接続装置及び方法、並びに、試 装置及び方法

 本発明は、一般には、コネクタ端子の接 方法及びそれを利用した試験方法に係り、 に、プラグ状のコネクタ端子とソケットと 接続方法及びそれを使用した試験方法に関 る。本出願では、以下、車載用配線板のプ グ状のコネクタ端子とソケットを有する試 装置との接続方法を例として説明する。

技術背景

 大量の高性能な配線板を安価に提供する めには、配線板の電気的特性を安価に且つ 精度に試験する必要がある。高精度に試験 るためには試験装置の接続部と配線板の接 部との接続を安定する必要があるので、両 を機械的に係合する方法が従来から採用さ ている。

 例えば、車載用配線板のプラグ状コネク 端子を試験装置のソケット(プラグ受け)に し込んで配線板の電気的特性を試験する場 がある。ある試験装置10では、図10(a)及び図1 0(b)に示すように、配線板1上のプラグ状のコ クタ端子2を試験装置10の弾性的に開閉する ート状ソケット16に挿入する。ここで、図10 (a)は接続前の配線板1と試験装置10の概略断面 図であり、図10(b)は両者の接続後の概略断面 である。ソケット16は、試験装置10の絶縁部 12に固定された接触子14が分岐した先端部で る。ソケット16はコネクタ端子2と接触する れ部16aを有し、接続前の間隔Wbはコネクタ端 子2のX方向の幅Waよりも狭い。コネクタ端子2 ソケット16に挿入される際に一対の括れ部16 aに接触してその間隔を広げながらに進入す 。接触子14はコネクタ端子2に電流を供給す 電流供給端子として機能する。

 別の試験装置20では、図11(a)及び図11(b)に すように、配線板1上のプラグ状のコネクタ 端子2を試験装置20のクラウン状ソケット28に 入する。ここで、図11(a)は接続前の配線板1 試験装置20の概略断面図であり、図11(b)は両 者の接続後の概略断面図である。ソケット28 、試験装置20の絶縁部22に固定されたソケッ ト本体24に接続されたプローブピン26の先端 である。

 従来技術としては、特許文献1乃至3がある

特開平5-190238号公報

特開平7-122687号公報

特開平1-110753号公報

 しかし、従来の試験装置10及び20は、コネ クタ端子2との接続部であるソケット16及び28 コネクタ端子2との摩擦により両者が変形し たり磨耗したりするという問題があった。ソ ケットが変形すれば、両者の接触状態が劣化 するため、ソケット16及び28を一定間隔で交 しなければならず、試験費用が増加する。 た、従来の試験装置10及び20は、そもそもソ ット16及び28とコネクタ端子2との接触状態 劣化を監視することができない。更に、磨 した金属粉がコネクタ端子2やソケット16及 28に付着して短絡や絶縁不良を起こし、試験 の信頼性が低下するおそれがある。また、ソ ケット28は接触面積が小さく大電流に適して ない。更に、コネクタ端子2の損傷を防止す る必要もある。

 本発明は、被検電子部品のプラグ状のコ クタ端子と安価に、かつ、安定して接続す 接続装置及び方法、並びに、これを使用し 試験装置及び方法に関する。

 本発明の一側面としての接続装置は、被 電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入さ る開口部を有するソケットと、前記開口部 最も狭い部分の間隔を前記コネクタ端子の 応する方向の厚さよりも大きくした第1の状 態と、前記開口部の前記間隔を前記コネクタ 端子の前記厚さよりも狭くした第2の状態と 間で変化するように前記ソケットを変形さ る変形部とを有することを特徴とする。か る接続装置は、ソケットをコネクタ端子の りに非接触で配置した後で第1の状態から第2 の状態に変化させて両者を接続することがで きる。これにより、最初から第2の状態で両 を接続する場合に比較して両者の変形や磨 を防止することができる。

 本発明の別の側面としての接続装置は、 検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入 れる開口部を一端に形成する一対の接触子 、当該一対の接触子の他端の間に配置され 前記一対の接触子の前記開口部の最も狭い 分の間隔を前記コネクタ端子の対応する方 の厚さよりも大きく設定する絶縁部と、前 開口部の前記間隔が前記コネクタ端子の前 厚さよりも小さくなるように前記一対の接 子を外側から押圧する押圧部品と、前記押 部品を前記一対の接触子に対して移動する 動部とを有することを特徴とする。かかる 続装置によれば、一対の接触子をコネクタ 子の周りに非接触で配置した後で押圧部品 開口部の幅を狭めて両者を接続することが きる。これにより、最初から狭い幅の開口 を有する一対の接触子をコネクタ端子と接 する場合に比較して両者の変形や磨耗を防 することができる。前記一対の接触子を前 コネクタ端子に対して移動する別の移動部 更に有してもよい。

 平行な複数の貫通溝を有して絶縁材料か 構成される直方体形状のコンタクトユニッ を更に有し、前記絶縁部は隣接する2つの貫 通溝に挟まれた部分として形成され、前記一 対の接触子の前記他端は前記部分の両側に固 定され、前記押圧部品は前記複数の貫通溝に 挿入される脚部を有してもよい。コンタクト ユニットに絶縁部と接触子を一体にすること によって駆動が容易になり、また、押圧部品 と接触子との位置決めも容易になる。

 前記一対の接触子の外側に設けられた別 一対の接触子とを更に有し、前記押圧部品 前記別の一対の接触子を介して前記一対の 触子を押圧してもよい。接触子を二重構造 することによって接触が安定する。前記別 一対の接触子は金属材料から構成されても い。これによって、測定用の電流を分流す ことができる。前記押圧部品は、例えば、 脂製である。これにより、従来の金属同士 擦れる場合よりも金属粉の発生が少なくな 。

 本発明の別の側面としての接続方法は、 検電子部品のプラグ状コネクタ端子が挿入 れる開口部を有するソケットの前記開口部 最も狭い部分の間隔を前記コネクタ端子の 応する方向の厚さよりも大きくした状態で 前記ソケットが前記コネクタ端子の両側に 接触で配置されるように、前記コネクタ端 と前記ソケットの少なくとも一方を移動す ステップと、前記移動ステップ後に、前記 口部の間隔を前記コネクタ端子の厚さより 狭くして前記ソケットと前記コネクタ端子 が接触するように前記ソケットを変形させ ステップとを有することを特徴とする。か る接続方法によれば、ソケットをコネクタ 子の周りに非接触で配置した後で開口部の を狭めて両者を接続することができる。こ により、最初から狭い幅の開口部を有する ケットをコネクタ端子と接続する場合に比 して両者の変形や磨耗を防止することがで る。

 本発明の別の側面としての試験装置は、 検電子部品の電気的特性を試験する試験装 であって、上述の接続装置と、前記被検電 部品の前記電気的特性を測定する測定部と 有することを特徴とする。かかる試験装置 、上述の接続装置と同様の作用を奏し、接 装置の磨耗や変形を防止して試験の信頼性 維持し、接続装置の交換頻度を低減して試 費用のコストアップを防止する。前記試験 置は、一対のプラグ状コネクタ端子のそれ れが挿入される開口部を一端に形成する二 の接触子を有し、前記測定部は、各対の接 子の一方に接続された電流源と、各対の接 子の他方に接続された電圧計とを有し、四 子法によって前記被検電子部品の抵抗を測 してもよい。かかる試験装置によれば、四 子法を使用して接触抵抗の影響を受けずに 検電子部品の抵抗を測定することができる

 本発明の更に別の側面としての試験装置 、被検電子部品の電気的特性を試験する試 装置であって、被検電子部品のプラグ状コ クタ端子が挿入される開口部を一端に形成 る一対の接触子と、前記一対の接触子の一 を電流を流す端子として使用して前記被検 子部品の前記電気的特性を測定する測定部 、前記一対の接触子の他方を前記一対の接 子と前記コネクタ端子との接触状態を監視 る監視部とを有することを特徴とする。か る試験装置は、監視部が接触状態を監視す ので劣化がある場合に接続装置の交換など 行うことができる。この結果、試験の信頼 を維持することができる。例えば、前記試 装置は二対の接触子を有し、前記測定部は 対の接触子の一方を電源に接続して電流を す端子として使用して前記被検電子部品の 記電気的特性を測定し、前記監視部は各対 他方の間の電位差を監視してもよい。

 本発明の別の側面としての試験方法は、 検電子部品の電気的特性を試験する試験方 であって、被検電子部品のプラグ状コネク 端子が挿入される開口部を有するソケット 前記開口部の最も狭い部分の間隔を前記コ クタ端子の対応する方向の厚さよりも大き した状態で、前記ソケットが前記コネクタ 子の両側に非接触で配置されるように、前 コネクタ端子と前記ソケットの少なくとも 方を移動するステップと、前記移動ステッ 後に、前記開口部の間隔を前記コネクタ端 の厚さよりも狭くして前記ソケットと前記 ネクタ端子とが接触するように前記ソケッ を変形させるステップと、前記被検電子部 の電気的特性を測定するステップとを有す ことを特徴とする。かかる接続方法によれ 、ソケットをコネクタ端子の周りに非接触 配置した後で開口部の幅を狭めて両者を接 することができる。これにより、最初から い幅の開口部を有するソケットをコネクタ 子と接続する場合に比較して両者の変形や 耗を防止することができる。ソケットの磨 や変形を防止して試験の信頼性を維持し、 ケットの交換頻度を低減して試験費用のコ トアップを防止する。前記ソケットと前記 ネクタ端子との接触状態を監視するステッ を更に有してもよい。

 本発明の更なる目的又はその他の特徴は 以下、添付図面を参照して説明される好ま い実施例によって明らかにされるであろう

本発明の一実施例としての試験装置の 続装置の概略分解斜視図である。 図1に示す接続装置の概略部分断面図で ある。 図1に示す接続装置の押圧部品の概略拡 大断面図である。 図1に示す試験方法のフローチャートで ある。 図5(a)乃至図5(c)は図2に示す接続装置の 続方法を説明する概略断面図である。 図1に示す試験装置の測定部と監視部を 示す回路図である。 図6に示す測定部の変形例を示す回路図 である。 図2に示す接続装置の変形例を示す概略 部分断面図である。 図9(a)乃至図9(c)は図8に示す接続装置の 続方法を説明する概略断面図である。 図10(a)及び図10(b)は従来の接続装置の 略断面図である。 図11(a)及び図11(b)は従来の別の接続装 の概略断面図である。

 以下、本発明の一実施例の試験装置100に いて説明する。試験装置100は、被検電子部 の電気的特性を試験する。本実施例では、 検電子部品は、車載用配線板1であり、配線 板1は複数のプラグ状のコネクタ端子2を有す 。コネクタ端子2は金属の板状又は棒状形状 を有する。試験装置100は、接続装置110と、駆 動部140及び146と、測定部と、監視部156とを有 する。まず、図1乃至図5(c)を参照して、接続 置110について説明する。図1は接続装置110の 分解斜視図であり、図2は接続装置110の概略 面図である。

 接続装置110は、コンタクトユニット120と 押圧部品130とを有する。

 コンタクトユニット120は、コネクタ端子2 と接触する接触子126をコネクタ端子2の周り 配置し、本体121と、複数対の接触子126とを する。本体121は、絶縁材料から構成された 方体部材である。本体121は、複数の貫通溝12 2と複数の絶縁部123とを有する。

 貫通溝122は、X方向に所定間隔で配列され 、Z方向に本体121を貫通する。貫通溝122には 押圧部品130の脚部134が挿入される。コンタ トユニット120の貫通溝122によって、押圧部 と接触子との位置決めが容易になる。

 絶縁部123は、隣接する2つの貫通溝122の間 に挟まれた部分として規定され、両側には後 述するように接触子126の固定部126e(端部)が固 定される。コンタクトユニット120に絶縁部123 を接触子126を一体にすることによって後述す る駆動部140による駆動が容易になる。換言す れば、絶縁部123は、X方向に配置された一対 接触子126の端部の間に配置される。絶縁部12 3は略直方体形状を有する。

 各対の接触子126は、開口部126aを有するソ ケットを一端に形成する金属部材である。図 1では、複数対の接触子126がX方向及びY方向の それぞれに整列するが、これは例示である。 各対の接触子126は、ロート部126bと、括れ部12 6cと、膨らみ部126dと、固定部126eとを有する

 開口部126aは、ロート部126bと括れ部126cと膨 み部126dの内部で規定される。開口部126a内 コネクタ端子2が挿入される
 一対のロート部126bはV字又はY字形状を構成 、Z方向に対して外側に傾斜している。ロー ト部126bは、コネクタ端子2の受け入れを容易 する。

 括れ部126cはロート部126bに接続されてZ方 に延びる部分である。接触子126は、主とし 括れ部126cにおいてコネクタ端子2に両側か 接触する。プローブピンでコネクタ端子2に 触すると点接触になり接触状態が不安定に るが括れ部126cで面接触することによって接 触状態が安定する。

 膨らみ部126dは、傾斜部126d 1 及び126d 3 と、平行部126d 2 とを有する。傾斜部126d 1 は括れ部126cに接続されてコネクタ端子2から れるようにZ方向に対して傾斜する。平行部 126d 2 はZ方向に延びる。傾斜部126d 3 は平行部126d 2 に接続されて絶縁部123に近づくようにZ方向 対して傾斜する。傾斜部126d 3 は、押圧部品130に接触されて押圧される被押 圧部である。押圧部品130の後述する押圧部135 から傾斜部126d 3 にZ方向下向きの力が加わると、それは傾斜 126d 3 に平行な力成分と垂直な力成分に分解され、 垂直な力成分によって一対の接触子126は互い に近づく方向に力を受ける。この結果、一対 の括れ部126cは互いに近づく方向に変位され コネクタ端子2に押し付けられる。

 固定部126eは、Z方向に平行に延び、絶縁 123に固定される。固定方法は接着や機械的 合を含む。一対の接触子126は固定部126eが絶 部123に固定された状態でその弾性により互 に近づく方向及び互いに離れる方向に変形 ることができる。

 複数の絶縁部123は同一の略直方体形状を し、各絶縁部123のX方向の幅Wはコネクタ端 2のX方向の幅Waよりも若干広い。絶縁部123の Wは括れ部126cのX方向の間隔Wbと略等しい。 の結果、押圧部品130が膨らみ部126dに負荷を えない状態では開口部126aの括れ部126cの間 Wbはコネクタ端子2の幅Waよりも大きくなる。 図5(a)及び図5(b)にこの状態を示す。ここで、 5(a)は、コネクタ端子2を開口部126a内に配置 る前の状態を示す概略断面図である。図5(b) は、コネクタ端子2を開口部126a内に配置した 態を示す概略断面図である。図5(a)及び図5(b )において、コネクタ端子2は接触子126と非接 に開口部126aに配置される。

 押圧部品130は、X方向に配置された一対の接 触子126の括れ部126cの間隔Wbがコネクタ端子2 X方向の厚さWaよりも小さくなるように一対 接触子126の傾斜部126d 3 を外側から押圧する機能を有し、本体131と、 脚部134と、配線部138とを有する。押圧部品130 は、樹脂などの絶縁材料から構成される。

 押圧部品本体131は直方体部材であり、複数 貫通溝132を有する。貫通溝132は、X方向に所 定間隔で配列され、Z方向に本体131を貫通す 。貫通溝132は絶縁部123の上部に配置され、 縁部123よりも若干広い幅をX方向に有する。 通溝132には、図3に示すように、配線部138が 挿入される。配線部138は、一端が接触子126の 固定部126dの端部に接続され、他端がスイッ や電源などの試験用回路素子に接続される 脚部134は、図2に示すように、略Y字形状を有 し、押圧部135を有する。押圧部135は、接触子 126の傾斜部126d 3 に接触する。

 駆動部140は、コンタクトユニット120をZ方 向に沿って移動する。駆動部146は、押圧部品 130をZ方向に沿って移動する。駆動部140及び14 6は、Z方向に移動するエレベータとして構成 れている。

 以下、図4乃至図5(c)を参照して、接続装 110を使用した接続方法及び試験方法につい 説明する。ここで、図4は、接続装置110を使 した試験方法を説明するためのフローチャ トである。試験方法は、被検電子部品とし の配線板1の電気的特性を試験する試験方法 である。

 図5(a)に示すように、開口部126aの最も狭 部分である一対の括れ部126cの間隔Wbをコネ タ端子2の対応するX方向の厚さWaよりも絶縁 123によって大きく設定する。駆動部140がこ 状態からコンタクトユニット120をZ方向に沿 って降下させる。接触子126がコネクタ端子2 両側に非接触で配置されるように、駆動部14 0はコンタクトユニット120を移動する(ステッ 1100)。なお、ステップ1100においては、コン クトユニット120とコネクタ端子2の少なくと も一方が移動されれば足りる。この結果、図 5(b)に示すように、コネクタ端子2が開口部126a 内に配置される。図5(a)と図5(b)は、共に接続 の状態を示す概略断面図である。開口部126a の括れ部126cの間隔Wbはコネクタ端子2の厚さWa よりも大きく、開口部126aを開いた状態で非 触にコネクタ端子2の周りに配置される。

 次に、図5(c)に示すように、駆動部146が押圧 部品130をZ方向に沿って下降させる。この結 、脚部134が貫通溝122に挿入され、脚部134の 圧部135が傾斜部126d 3 を押圧する。この結果、開口部126aの間隔Wbを コネクタ端子2の厚さWaよりも狭くして接触子 126の括れ部126cとコネクタ端子2とが接触する うに接触子126を変形させる(ステップ1200)。

 押圧部品130は樹脂製であるため金属製の傾 部126d 3 に接触して押圧しても押圧部品130が磨耗しや すく接触子126が磨耗して金属粉を生じるおそ れが少ない。また、押圧部品130が磨耗したと しても金属製のコネクタ端子2と金属製の括 部126cとの変形や磨耗は殆どなくなり、接続 安定化する。また、括れ部126cの変形や磨耗 が少ないので交換頻度が低減し、試験費用の コストアップを防止することができる。

 なお、本実施例は押圧手段として2つの駆 動部140及び146を設けている。しかし、プレス 手段などの押圧手段に押圧部品130を取り付け 、押圧部品130にコンタクトユニット120をぶら 下げすれば押圧手段の数は1つで足りる。こ 場合、コンタクトユニット120がコネクタ端 2の所定位置に到達したら滑り始める構造と る。

 次に、配線板1の電気的特性を測定する( テップ1300)。測定は、測定部によって行う。 本実施例では、一つのコネクタ端子2に両側 ら別個の2つの接触子126が接触している。従 て、いずれか一つが電源に接続されていれ 電流計と電圧計を使用して配線板1の電気的 特性を検出することができる。また、本実施 例では更にコネクタ端子2と括れ部126cとの接 状態の劣化を監視することができる。

 以下、図6を参照して、一対の接触子126A び126Bともう一対の接触子126C及び126Dを有す 試験装置100の測定部と監視部156について説 する。ここで、図6は試験装置100の回路図で る。なお、図6は接触子126A乃至126Dを簡略的 示している。一対の接触子126A及び126Bの間 コネクタ端子2を挟み、一対の接触子126C及び 126Dの間で別のコネクタ端子2を挟む。

 測定部は、電源150と、電流計152と、電圧 154とを有する。電源150は、接触子126Aと126D コネクタ端子2とは反対の端部に配線部138を して接続されている。電流計152は電源150と 触子126Aと126Dを含む回路に直列に接続され 電圧計154はかかる回路に並列に接続されて る。電源150に接続された配線板1の電気的特 を電流計152と電圧計154が測定する。

 また、試験装置100は、接触子126Aに接続さ れた端子158aと、接触子126Dに接続された端子1 58bと、スイッチ157a及び157bと、監視部156とを する。監視部156は、スイッチ157a側に端子156 aを有し、スイッチ157b側に端子156bを有する電 圧計として構成されている。監視部156は、一 対の接触子126A及び126Bとコネクタ端子2との第 1の接触状態と、一対の接触子126C及び126Dとコ ネクタ端子2との第2の接触状態とを監視する より詳細には、監視部156は、第1及び第2の 視部の一方が磨耗などで劣化してその接触 態が他方の接触状態と異なったかどうかを 出する。監視部156は、スイッチ157aを端子156a に接続し、スイッチ157bを端子156bに接続した に、端子156a及び156b間の電圧を検出する。 イッチ157aが端子158aに接続され、スイッチ157 bが端子158bに接続されると従来と同様である 接触状態(又は接触抵抗)は、特に車載用基 などの大電流が流れる基板では重要である

 測定部は、図7に示すような四端子法を利 用した抵抗測定部であってもよい。ここで、 図7は、かかる抵抗測定部の回路図である。 の場合、抵抗測定部は、電流を流す端子と て機能する接触子126A及び126Dと電圧を測定す る端子として機能する接触子126B及び126Cを分 する。接触子126A及び126Dの一端を電流源160 接続し、接触子126B及び126Cの一端を電圧計に 接続する。これにより、配線板1の抵抗を、 触抵抗の影響をとり除いて高精度に測定す ことができる。

 図2に示す接続装置110の代わりに、図8に す接続装置110Aを使用してもよい。接続装置1 10Aは、接触子126と押圧部品130との間に接触子 128を有する点で接続装置110と相違する。接触 子128は、ステンレス、リン青銅、ベリリウム 銅等の弾性材料金属やバネ製を有する構造の 樹脂材料でもよい。金属材料を使用すれば電 流を分流させることができる。

 接触子128は、傾斜部128aと128cと、平行部12 8bと、固定部128dとを有する。

 傾斜部128aは平行部128bからコネクタ端子2 近づくようにZ方向に対して傾斜し、一対の 括れ部126cが互いに近接するように括れ部126c 外側から押圧する。傾斜部128aと、平行部128 bと、傾斜部128cは膨らみ部126dと同様の膨らみ 部を形成する。

 平行部128bはZ方向に延びる。

 傾斜部128cは平行部128bに接続され、平行 128bから絶縁部123に近づくようにZ方向に対し て傾斜する。傾斜部128cは、押圧部品130に接 されて押圧される被押圧部である。傾斜部12 8cにZ方向下向きの力が加わると、それは傾斜 部128cに平行な力成分と垂直な力成分に分解 れ、垂直な力成分によって一対の接触子128 互いに近づく方向に力を受ける。この結果 一対の傾斜部128aは互いに近づく方向に変位 て一対の括れ部126cは互いに近づく方向に変 形され、コネクタ端子2に押し付けられる。

 固定部128dはZ方向に平行に延び、固定部12 6eの外側に固定される。固定方法は接着や機 的係合を含む。一対の接触子128は固定部128d が固定部126eに固定された状態でその弾性に り互いに近づく方向及び互いに離れる方向 変位することができる。即ち、接触子128は ンタクトユニット120に取り付けられている

 図8に示す押圧部品130は、X方向に配置さ た一対の接触子126の括れ部126cの間隔Wbがコ クタ端子2のX方向の厚さWaよりも小さくなる うに一対の接触子128の傾斜部128cを外側から 押圧する以外は図2に示す押圧部品130と同様 ある。

 駆動部140は、コンタクトユニット120をZ方 向に沿って移動する。駆動部146は、押圧部品 130をZ方向に沿って移動する。駆動部140及び14 6は、Z方向に移動するエレベータとして構成 れている。

 以下、図9(a)乃至図9(c)を参照して、接続 置110Aを使用した接続方法について説明する かかる接続方法は、図4に示すフローチャー トと同様の動作によって行われる。

 即ち、まず、駆動部140がコンタクトユニ ト120をZ方向に沿って降下させる。この結果 、図9(a)に示すように、コネクタ端子2が開口 126a内に配置される。上述のように、開口部 126aの括れ部126cの間隔Wbはコネクタ端子2の厚 Waよりも大きい。即ち、開口部126aを開いた 態で非接触にコネクタ端子2の周りに配置す る。

 次に、図9(c)に示すように、駆動部146が押 圧部品130をZ方向に沿って下降させる。その 、図9(c)に示すように、押圧部品130の押圧部1 35が傾斜部128cと接触及び押圧し、傾斜部128a 括れ部126cを押圧してコネクタ端子2に接触さ せる。接触子126及び128を二重構造にすること により、接触子126はコネクタ端子2と接触し 接触子128は接触子126の裏面を押圧するとい 役割分担をすることができる。これにより 接触部分の磨耗をなくしたり、押圧部品130 圧力を確実に括れ部126cに案内したりするこ ができる。

 以上、本発明の好ましい実施例を説明し が、本発明はこれらの実施例に限定されず その要旨の範囲内で様々な変形及び変更が 能である。

産業上の利用の可能性

 本発明によれば、被検電子部品のプラグ のコネクタ端子と安価に、かつ、安定して 続する接続装置及び方法、並びに、これを 用した試験装置及び方法を提供することが きる。