DISPOSITIF D’AMPLIFICATION D’UN SIGNAL EN IMAGERIE DE PHASE QUANTITATIVE AUTOREFERENCEE Domaine Technique La présente invention concerne un dispositif d’imagerie de phase quantitative, en particulier pour la caractérisation de nano-objets. Technique antérieure Lorsqu’un objet transparent ou semi-transparent est observé en microscopie classique en transmission, c’est-à-dire en champ clair, le contraste observé sur l’image est généralement faible. Cela complexifie l’étude de l’objet, en particulier lorsque la taille de l’objet est inférieure au micromètre. La microscopie à contraste de phase développée par Frederik Zernike est une méthode d’imagerie consistant à exploiter les changements de phase d’une onde lumineuse traversant un objet à imager. Un inconvénient du microscope à contraste de phase est le halo qu’il introduit sur l’image autour des objets observés. La microscopie à contraste de phase repose sur une mesure de l’intensité de l’onde lumineuse, et sur l’hypothèse qu’une partie de l’information de phase se transmet dans l’intensité par phénomène d’interférences. Ainsi, elle présente l’inconvénient majeur de ne pas quantifier la phase de l’onde, et ne permet pas d’isoler la contribution d’intensité de la contribution de phase. Or comme cela est décrit ci- après, la mesure précise de la phase est particulièrement importante dans de nombreuses applications, notamment pour l’étude de micro-organismes ou la caractérisation de nanoparticules. La microscopie de phase quantitative est une autre méthode d’imagerie basée sur l’analyse du front d’onde de la lumière qui illumine et interagit avec l’objet à imager. Elle mesure la phase optique, ou une grandeur proportionnelle de cette onde. Dans la plupart des cas, elle mesure simultanément l’intensité lumineuse. Elle met en œuvre une mesure, par une caméra numérique adjointe d’éléments optiques diffractifs, réfractifs ou réfléchissants, d’un champ total résultant de la somme d’un champ incident et d’un champ diffusé par l’objet, par exemple semi-transparent, non absorbant et faiblement diffusant. La microscopie de phase quantitative génère des contrastes supérieurs à ceux obtenus en microscopie classique pour des objets transparents ou semi-transparents, et permet ainsi d’étudier en détail des objets de plus petite taille qu’en microscopie classique. La mesure quantitative de la phase permet notamment d’accéder à la mesure de densité ou de masse d’un objet observé. Parmi les techniques de microscopie de phase quantitative, on distingue : - les techniques dites à « bras de référence », basées sur la mesure des interférences entre une onde de référence et une onde ayant interagi avec l’objet à imager, comme l’holographie, et - les techniques autoréférencées reposant sur une mesure de gradient de phase. En particulier, les techniques autoréférencées peuvent être mise en œuvre à l’aide d’un analyseur de front d’onde imageant l’objet. En particulier, l’analyseur de front d’onde peut être basé sur l’utilisation d’un masque optique, par exemple une matrice de trous de type Hartmann, une matrice de microlentilles de type Shack-Hartmann, un réseau, un masque de Hartmann modifié, un diffuseur, ou une méta-surface, en amont d’une caméra. Contrairement aux techniques à bras de référence, qui nécessitent des montages optiques complexes et sensibles aux vibrations, les techniques d’imagerie de phase quantitative autoréférencées sont simples à mettre en œuvre et permettent d’obtenir une bonne sensibilité de phase. La microscopie de phase quantitative a de nombreuses applications, notamment en biologie pour imager des composants subcellulaires faiblement diffusants tout en obtenant des valeurs biophysiques caractéristiques. Mais l’observation à l’échelle moléculaire est complexe, voire impossible, du fait de la faible interaction lumière-matière des nano-objets semi-transparents. La microscopie de phase quantitative permet aussi de détecter et caractériser des nanoparticules ou de suivre des réactions chimiques. La limite de détection des objets ou des flux de matière dépend directement de la sensibilité de phase de la méthode employée. La microscopie de phase quantitative permet également de cartographier des variations de l’indice de réfraction résultant d’une perturbation thermique. Elle permet ainsi de cartographier une distribution de température avec une précision spatiale micrométrique. Augmenter la sensibilité de phase permettrait alors d’augmenter la sensibilité en température. Cela permettrait également de cartographier avec une plus grande sensibilité des modifications de l’indice de réfraction résultant d’une perturbation électrique, acoustique ou magnétique. En métrologie optique, en particulier pour du contrôle qualité en lithographie ou en nano-impression, la microscopie de phase quantitative permet de mesurer le profil d’une surface, les variations d’épaisseur induisant une variation locale du déphasage mesuré. Une bonne sensibilité de phase est cruciale pour quantifier des variations sub-nanométriques d’épaisseur. Cependant, un défaut commun aux techniques connues de microscopie de phase quantitative, est le fait que l’amplitude du champ diffusé par le ou les objets à imager est très faible par rapport à l’amplitude du champ incident. Il en résulte alors un faible signal de phase, qui rend difficile la caractérisation de nano-objets, encore plus quand ces derniers sont en mouvement. Des modifications des techniques à bras de référence ont été proposées pour tenter de surmonter cet inconvénient, mais elles restent complexes à implémenter et sont caractérisées par une sensibilité limitée par les vibrations du bras de référence du montage optique. Il existe donc un besoin pour améliorer la détectabilité des techniques d’imagerie de phase quantitative autoréférencées, c’est-à-dire de disposer d’une technique d’imagerie de phase quantitative autoréférencée apte à détecter au moins un objet, notamment semi- transparent et/ou d’une taille inférieure à 100 nanomètres, notamment un tel objet en mouvement, avec un contraste élevé. Résumé de l’invention L’invention propose un dispositif d’imagerie de phase quantitative comportant : - un système optique imageur pour imager un objet dans un plan image, - une source lumineuse pour émettre un rayonnement lumineux sur au moins une partie du plan de Fourier du système optique imageur, - un filtre spatial optique s’étendant dans le plan de Fourier du système optique imageur et comportant une zone de moindre atténuation du rayonnement lumineux et une zone de plus grande atténuation du rayonnement lumineux, - un capteur de front d’onde pour mesurer, dans le plan image, l’intensité et la phase du champ électromagnétique associé au rayonnement lumineux émis par la source lumineuse et qui a traversé le système optique imageur et le filtre spatial optique, et dont au moins une partie a interagi avec l’objet, afin de quantifier la phase induite par l’objet, la source lumineuse, le système optique imageur et le filtre spatial optique étant agencés pour qu’en l’absence de l’objet à imager, le rayonnement lumineux soit focalisé sur la zone de plus grande atténuation. Le « plan de Fourier » du système optique imageur est le plan dans lequel la figure de diffraction de Fraunhofer, c’est-à-dire la transformée de Fourier de l’objet étudié, peut être observée. Ainsi, l’utilisateur du dispositif peut visualiser, dans le plan de Fourier, les fréquences spatiales de l’objet étudié. Dans une variante, le système optique imageur est télécentrique, c’est-à-dire que sa pupille d’entrée ou sa pupille de sortie est à l’infini, et le plan de Fourier est confondu avec un plan pupillaire du système optique imageur. Un « plan pupillaire » du système optique imageur est un plan dans lequel on observe la pupille du système optique, ou une image d’elle par une partie du système optique. En présence d’un objet à imager par le système optique imageur, le rayonnement lumineux incident issu de la source lumineuse et non diffracté et/ou non diffusé par l’objet est focalisé sur la zone de plus grande atténuation du filtre spatial, alors que le rayonnement lumineux diffracté et/ou diffusé par l’objet est localisé au moins en partie sur la zone de moindre atténuation. Ainsi, le filtre spatial optique atténue spécifiquement l’intensité du rayonnement lumineux incident non diffracté et/ou diffusé par l’objet, tout en conservant quasi-inchangée l’intensité du rayonnement diffracté et/ou diffusé par l’objet hors de la zone de plus grande atténuation. L’invention permet d’atténuer la contribution du champ électromagnétique incident associé au rayonnement lumineux incident émis par la source lumineuse et non diffracté et/ou diffusé par l’objet au champ électromagnétique détecté par le capteur de front d’onde, ce qui amplifie le signal de phase. A partir de la mesure de la phase et de l’intensité, et en tenant compte de la transmittance complexe des zones de plus grande et de moindre atténuation, un modèle analytique ou un traitement numérique permet de déterminer la valeur quantifiée de la phase qui serait mesurée en l’absence du filtre spatial optique, avec un rapport signal sur bruit augmenté. Il est ainsi possible de calculer des grandeurs quantitatives pertinentes, telles que la masse sèche de l’objet, la valeur d’indice de l’objet, ou l’épaisseur de l’objet, à partir de cette valeur quantifiée de la phase. Les zones de plus grande et de moindre atténuation affectent, de préférence, la phase de l’onde de manière différente. La « zone de plus grande atténuation » induit une atténuation à la ou les longueurs d’onde qui composent le rayonnement lumineux émis par la source lumineuse, plus faible en norme que la « zone de moindre atténuation ». Capteur de front d’onde Le capteur de front d’onde mesure au moins une variation, notamment un gradient, de la phase du rayonnement lumineux ayant traversé l’objet, le système optique imageur et le filtre spatial optique, ou une grandeur caractéristique de ladite phase telle que la différence de chemin optique parcourue par deux rayons lumineux. La phase induite par l’objet peut être déterminée à partir de la grandeur caractéristique, par intégration du gradient mesuré. Le capteur de front d’onde mesure en outre l’intensité dudit rayonnement. Le capteur de front d’onde comporte de préférence un détecteur du rayonnement lumineux, par exemple une caméra, et en particulier comporter un capteur bidimensionnel permettant d’échantillonner l’intensité. Optionnellement, le capteur de front d'onde comporte un masque d’analyse de front d’onde disposé devant le détecteur le long du trajet optique du rayonnement lumineux, afin de déterminer la distribution spatiale du gradient de la phase du rayonnement lumineux ou d’un signal proportionnel à ladite phase. La masque d’analyse de front d’onde peut notamment mesurer simultanément la phase et l’intensité du rayonnement lumineux détecté. Le masque d’analyse de front d’onde comporte de préférence un élément optique diffractif, périodique ou apériodique, et/ou un élément optique réfractif. Le masque d’analyse de front d’onde peut être placé proche du détecteur ou proche d’un plan conjugué au plan dans lequel s’étend le détecteur. Le masque d’analyse de front d’onde peut être choisi notamment parmi un masque comportant un réseau de microlentilles, par exemple un masque de Shack-Hartmann, un masque de Hartmann modifié, par exemple tel que décrit par P. Bon et al. Dans « Quadriwave lateral shearing interferometry for quantitative phase microscopy of living cells », Opt. Express, 17, 13080-13094 (2009), et un diffuseur mince, par exemple tel que décrit par P. Berto, H. Rigneault and M. Guillon dans « Wavefront sensing with a thin diffuser », Opt. Lett. 42, 5117-5120 (2017). Le détecteur du rayonnement lumineux comporte de préférence une caméra numérique pour acquérir le rayonnement lumineux qui, de préférence, a interagi avec le masque d’analyse de front d’onde. La caméra numérique peut comporter un capteur lumineux, par exemple CMOS ou CCD, pour acquérir le rayonnement lumineux et qui mesure l’intensité dudit rayonnement lumineux. Filtre spatial optique La zone de plus grande atténuation et, optionnellement, la zone de moindre atténuation, sont adaptées à atténuer l’intensité du rayonnement lumineux. De préférence, la zone de moindre atténuation n’atténue pas l’intensité du rayonnement lumineux, afin de conserver une intensité lumineuse maximale pour la mesure. La zone de plus grande atténuation induit une atténuation de l’intensité du rayonnement lumineux plus grande que la zone de moindre atténuation. La zone de plus grande atténuation et/ou la zone de moindre atténuation peuvent induire un déphasage entre le rayonnement lumineux qui est incident sur lesdites zones respectivement et le rayonnement lumineux atténué par lesdites zones de manière à amplifier le rapport signal sur bruit des signaux de phase et d’intensité mesurés Selon une variante, le filtre spatial optique est adapté à réfléchir le rayonnement lumineux, la zone de plus grande atténuation étant semi-réfléchissante. La zone de moindre atténuation peut être semi-réfléchissante ou, de préférence, réfléchissante. Les zones de moindre atténuation et de plus grande atténuation peuvent présenter des épaisseurs différentes, afin d’induire des déphasages différents aux rayonnements lumineux qu’elles atténuent. Selon une autre variante, le filtre spatial est adapté à transmettre le rayonnement lumineux, la zone de plus grande atténuation étant semi-transparente. La zone de moindre atténuation peut être semi-transparente ou, de préférence, transparente. Plus l’atténuation de l’intensité est élevée, plus la transmission est faible. La zone de plus grande atténuation peut présenter une transmittance complexe t définie par la relation t=t0*e ^-Lȕ avec 0 < t0 ^^^^7, l’amplitude t ₀ étant mesurée sur au moins une partie du spectre de longueur(s) d’onde(s) du rayonnement lumineux émis par la source lumineuse, et optionnellement le déphasage ȕ^est tel que -1 rad [S] ^^ȕ^^^1 rad [S], notamment afin d’amplifier le signal sur la phase en valeur absolue. L’amplitude t ₀ de la transmittance complexe peut être mesurée en focalisant un faisceau lumineux sur la zone de plus grande atténuation et en mesurant l’atténuation de l’intensité du faisceau lumineux ce qui donne accès à la transmission T= t0². Le GpSKDVDJH^ȕ peut être mesuré par interférométrie. 'H^ SUpIpUHQFH^^ 7^ ^^ ^^15, par exemple T = 0,1. Le GpSKDVDJH^ȕ^SHXW^rWUH^pJDO^j^^^ Le filtre spatial optique peut comporter un support transparent et un revêtement semi-opaque recouvrant partiellement le support, la zone de plus grande atténuation étant définie par la superposition du support et du revêtement semi-opaque. Le support transparent peut être en verre. Le revêtement semi-opaque peut avoir la forme d’au moins un disque de rayon r _fs , de préférence inférieur à 0,1*r _p , r _p étant le rayon maximal du disque à l’intérieur duquel se répartissent les fréquences spatiales collectées dans le plan de Fourier. Par exemple, rfs ^^ 100 µm. Selon la variante où le système optique imageur est télécentrique, le plan de Fourier est confondu avec un plan pupillaire. r _p représente alors le rayon de l’image de la pupille d’ouverture du système optique imageur dans le plan de Fourier. En variante, le revêtement semi-opaque a la forme d’un anneau. Il peut présenter toute forme correspondant au spectre angulaire de l’illumination. Le revêtement semi-opaque peut être centré sur l’axe optique du filtre spatial optique. Le revêtement semi-opaque peut présenter une épaisseur inférieure à 100 nm. Le revêtement semi-opaque peut comporter une couche semi opaque en un métal choisi parmi l’or, l’argent, l’aluminium, le chrome, le titane, et leurs alliages, par exemple en or. Le revêtement semi-opaque peut comporter une couche d’accroche prise en sandwich entre et au contact du support et de la couche semi-opaque, par exemple faite de chrome et/ou de titane. La zone de plus grande atténuation peut présenter une transmittance complexe variable, notamment en fonction de la polarisation du rayonnement lumineux et/ou de la température de ladite zone, et/ou modifiable par l’utilisateur. La zone de plus grande atténuation peut comporter un matériau thermochrome, dont la transmission peut varier en fonction de la température, et/ou polarisant, dont la transmission peut varier en fonction de la polarisation du rayonnement lumineux. Le matériau thermochrome peut être choisi parmi les cristaux liquides thermochromes, les leuco-colorants thermochromes, les oxydes thermochromes, optionnellement dopés, et leurs mélanges, par exemple étant choisi dans le groupe formé par VO ₂ , BiVO ₄ , NbO ₂ et leurs mélanges. La zone de plus grande atténuation et/ou la zone de moindre atténuation peuvent comporter au moins une couche en un matériau apte à induire un déphasage entre le rayonnement incident sur lesdites zones respectivement, et le rayonnement atténué par lesdites zones. Par exemple, elles comportent une couche comportant un polymère, un verre, ou du dioxyde de titane. Elles peuvent comporter un empilement de couches faites d’au moins deux matériaux différentes, par exemple un empilement d’une couche de dioxyde de titane, d’une couche de dioxyde de silicium et d’une autre couche de dioxyde de titane, ou une métasurface. La zone de plus grande atténuation et/ou la zone de moindre atténuation peuvent comporter une couche d’un matériau biréfringent qui induit un déphasage entre le rayonnement incident sur lesdites zones respectivement et le rayonnement atténué par lesdites zones, modulable par rotation de la direction de polarisation de la source lumineuse. La zone de plus grande atténuation et/ou la zone de moindre atténuation peuvent comporter une couche d’un matériau présentant un coefficient thermo-optique non nul, qui induit un déphasage variant en fonction de la température, notamment un liquide, par exemple du glycerol, ou un polymère, par exemple du polydiméthylsiloxane. Le dispositif peut comporter un module de régulation thermique pour modifier la température de la zone de plus grande atténuation et/ou de la zone de moindre atténuation afin de modifier la transmission desdites zones et/ou le déphasage induit par lesdites zones. Le module de régulation thermique peut comporter un organe de chauffage optique, électrique ou magnétique, par exemple par effet Joule. Par exemple, dans une variante où la zone de moindre transmittance comporte une couche en or, le chauffage optique de ladite couche modifie l’indice de réfraction de la couche, ce qui résulte en une variation du déphasage optique induit par la zone de plus grande atténuation entre le rayonnement incident sur ladite zone et le rayonnement atténué par ladite zone. En variante, le chauffage peut être induit électriquement par un fil résistif, en particulier un fil en oxyde d’indium- étain (ITO). L’utilisation d'un module de régulation thermique permet notamment de faire varier le déphasage induit par le filtre spatial optique en temps réel, de manière à optimiser le rapport signal sur bruit à la fois sur le signal d’intensité et sur le signal de phase. Le filtre spatial optique peut comporter un modulateur spatial de lumière, connu sous l’abréviation SLM (Space Light Modulator), ou un réseau optique à commande de phase, notamment afin de moduler la transmittance complexe Le modulateur spatial de lumière peut être éventuellement couplé à un masque opaque afin d’atténuer une partir du rayonnement diffracté et/ diffusé par l’objet. Le filtre spatial peut comporter plusieurs zones de plus grande atténuation du rayonnement lumineux qui sont séparées les unes des autres. Le dispositif peut comporter plusieurs filtres spatiaux optiques. Les filtres spatiaux optiques peuvent être disposés les uns à la suite des autres le long du trajet de propagation du rayonnement lumineux. Les filtres spatiaux optiques peuvent être amovibles, l’ajout ou le retrait d’au moins un des filtres spatiaux optiques modifiant la transmittance complexe équivalente de l’ensemble desdits filtres spatiaux. Système optique imageur Le système optique imageur peut conjuguer un plan objet avec le plan image, l’objet étant par exemple situé hors du plan objet mais proche de celui-ci. Le dispositif permet de refocaliser numériquement un objet situé hors du plan objet. Le système optique peut comporter un objectif. En variante, le système optique comporte de préférence une, voire plusieurs lentilles supplémentaires, notamment convergente, et/ou un, voire plusieurs miroirs. Le système optique est de préférence stigmatique ou sensiblement stigmatique. Le système optique est de préférence aplanétique. L’ouverture numérique objet NAobjet du système optique est comprise de préférence entre 0,12 et 1,7 pour maximiser le rayonnement lumineux diffracté et/ou diffusé par l’objet qui sera détecté par le capteur de front d’onde. Le grandissement du système optique imageur, qui est lié à l’ouverture numérique image par la relation NAimage = NAobjet / grandissement, est de préférence choisi pour échantillonner en phase la réponse percussionnelle image (PSF _image ) du système optique imageur en répondant au critère de Nyquist (>2 points de mesures / PSFimage). Source lumineuse La source lumineuse comporte de préférence un générateur de lumière pour générer le rayonnement lumineux, par exemple choisi parmi une lampe, notamment à halogène, et un laser intense, notamment un laser super-continuum. Le rayonnement lumineux émis par la source lumineuse présente un spectre angulaire qui peut être mis en forme par un système optique supplémentaire en amont de l’objet à imager afin de répartir l’énergie du rayonnement lumineux incident sur la zone de plus grande atténuation. Dans un exemple de réalisation, la zone de plus grande atténuation a une forme d’un disque centré sur l’axe optique et la source lumineuse peut comporter un système optique supplémentaire pour générer une illumination de Köhler. Le système optique supplémentaire peut être disposé entre le générateur de lumière et l’objet, dans le sens de propagation du rayonnement lumineux, notamment afin de collimater le rayonnement lumineux incident sur l’objet. La source lumineuse peut être configurée pour émettre un rayonnement monochromatique ou polychromatique. Lorsque le déphasage induit par le filtre spatial optique entre le rayonnement qui lui est incident et le rayonnement filtré est non-nul, le rayonnement lumineux de longueur d’onde nominale ^ _^^^^^^^^ présente une étendue spectrale ο^ satisfaisant de préférence la condition ǻȕ^ȕnominale < 50 %. ȕnominale HW^ǻȕ correspondent au déphasage et la variation de déphasage induits par le filtre spatial optique pour ^ _^^^^^^^^ et sur l’étendue spectrale ǻȕ respectivement. L’étendue spectrale du rayonnement lumineux est de préférence fixée par la manière de générer le déphasage induit par le filtre spatial optique. Pour un déphasage induit par le filtre spatial optique généré par effet réfractif, 1^ < 50%. Le rayonnement peut être un rayonnement visible, X ou infrarouge. Le rayonnement lumineux émis par la source lumineuse peut être polarisé. La source lumineuse peut comporter un filtre de sélection d’au moins une longueur d’onde du rayonnement lumineux émis par le générateur de lumière et/ou un filtre de polarisation dudit rayonnement lumineux. Le filtre de sélection et/ou le filtre de polarisation peuvent être disposés, le long du trajet du rayonnement lumineux, entre le générateur de lumière et l’objet à imager. Autres organes du dispositif Le dispositif peut comporter une caméra numérique supplémentaire, notamment pour mesurer l’intensité du rayonnement lumineux dans le plan de Fourier du système optique imageur. La caméra numérique supplémentaire permet notamment d’imager le plan de Fourier afin de positionner précisément le filtre spatial optique dans ce plan. Le dispositif peut comporter un microscope disposant d’un objectif, le filtre spatial optique étant distant ou non du microscope. Le microscope peut comporter la source lumineuse, en particulier le microscope peut émettre lui-même une illumination de Köhler. Le microscope peut comporter un porte -échantillon. Le microscope peut comporter d’autres éléments du système optique, notamment un ou plusieurs lentilles et/ou un ou plusieurs miroirs. Le dispositif peut comporter un ou plusieurs éléments optiques supplémentaires, par exemple choisi parmi une lentille, notamment convergente, un miroir réfléchissant, un miroir semi-réfléchissant, un miroir dichroïque, et des filtres en longueur d’onde. Procédé Par ailleurs, l’invention a encore pour objet un procédé d’acquisition d’au moins une image numérique d’un échantillon comportant un objet au moyen du dispositif selon l’invention, le procédé comportant : a) l’émission avec la source lumineuse d’un rayonnement lumineux incident dirigé sur l’objet, b) la détection par le capteur de front d’onde du rayonnement lumineux total ayant interagi avec l’objet, transmis par le système optique imageur et le filtre spatial optique, et c) le traitement du signal détecté à l’étape b) pour quantifier une grandeur choisie parmi la phase du rayonnement et/ou une variation de la phase du rayonnement, et optionnellement pour générer une image numérique de ladite grandeur. De préférence, le traitement à l’étape c) comporte en outre la quantification de l’intensité du rayonnement lumineux et de préférence la génération d’une image numérique de l’intensité du rayonnement lumineux. Le traitement à l’étape c) est quantitatif, i.e. il comporte la correction du signal détecté à l’étape b) en prenant en compte l’effet du déphasage et de l’atténuation induits par le filtre optique sur la valeur de la grandeur. L’échantillon peut comporter un, voire plusieurs objets dont la taille est inférieure à la résolution du système optique imageur. La résolution du système optique imageur est définie par R , où ^ est la longueur d’onde du rayonnement lumineux et ^^ _^^^^௧ est l’ouverture numérique objet du système optique imageur. L’objet peut être transparent ou semi-transparent au rayonnement lumineux. En variante, l’objet peut être opaque audit rayonnement. L’échantillon peut être choisi parmi une matière biologique comportant un micro-organisme, une poudre, une solution de culture biologique, un groupe de cellules ou micro-tissus, une matière inerte comportant une nanoparticule ou une solution de mélange de particules. Le micro-organisme peut être une bactérie, une vésicule ou un virus. Le rayonnement lumineux peut présenter un spectre de longueur d’onde tel que décrit ci-dessus. L’invention concerne enfin l’utilisation du dispositif pour l’étude d’une ou plusieurs nanoparticules, ou pour l’analyse d’une réaction chimique ou d’une réaction électrochimique, ou d’une réaction de photogreffage ou de photopolymérisation, ou pour la cartographie d’une distribution de températures ou la détection spécifique de molécules via leur absorption dans un régime pompe sonde. Brève description des dessins L’invention pourra être mieux comprise à la lecture de la description détaillée qui va suivre, d’exemples de mise en œuvre non limitatifs de celle-ci, et à l’examen du dessin annexé, sur lequel : - la figure 1A représente, de manière schématique et partielle, un exemple de dispositif selon l’invention, - la figure 1B représente, de manière schématique et partielle, un exemple de capteur de front d’onde, - les figures 2A et 2B illustrent de manière schématique les distributions spatiales des champs incidents et diffusé dans le plan de Fourier, pour le dispositif selon l’invention, respectivement sans et avec la présence du filtre spatial, et les figures 2C, 2D et 2E montrent les représentations complexes des champs incident, diffusé et total, dans le cas de la figure 2A pour la figure 2C et dans le cas de la figure 2B pour les figures 2D et 2E, - les figures 3A, 3B et 3C représentent des résultats de simulations numériques des images de phase et les figures 3D, 3E et 3F des simulations numériques des images d’intensité, d’un objet sphérique, respectivement sans filtrage (3A et 3D), avec filtrage (3B et 3E), et avec filtrage et traitement quantitatif (3C et 3F), - les figures 4A et 4B représentent respectivement des cartes des valeurs de gain en phase et en contraste d’intensité simulées en fonction du coefficient de transmission et du déphasage du filtre spatial, - les figures 5A et 5B représentent des cartes des erreurs relatives en phase et en intensité simulées en fonction du coefficient de transmission et du déphasage du filtre spatial, - les figures 6A et 6B représentent les erreurs relatives en phase et en intensité simulées en fonction du ratio entre le rayon du filtre spatial et le rayon de la pupille de sortie du système optique, - la figure 7A est une image expérimentale du plan de Fourier, les figures 7B et 7C sont chacune l’image et le profil du rayonnement incident dans le plan de Fourier, respectivement avec et sans filtre, - les figures 8A, 8B et 8C sont chacune des images d’intensité et de phase ainsi que des profils d’intensité et de phase selon les segments représentés sur les images d’intensité et de phase, - les figures 9A et 9B montrent des agrandissements des images de phase des figures 8A et 8C, - les figures 10A, 10B et 10C montrent trois spectres angulaires différents du rayonnement lumineux dans le plan de Fourier et les figures 10D, 10E et 10F montrent les filtrent spatiaux optiques correspondants, - la figure 11A représente de manière schématique et partielle une variante de réalisation du filtre spatial optique et la figure 11B montre les représentations complexes des champs incident, diffusé et total après filtrage par le filtre spatial optique de la figure 11A, - les figures 12A et 12B sont des images expérimentales d’intensité et de phase respectivement, d’un même objet en l’absence du filtre spatial optique de la figure 11A (groupe 1 de gauche) et en présence du filtre spatial optique de la figure 11A (groupe 2 de droite) pour différentes valeurs de déphasage variable appliqué, et - les figures 13A et 13B représentent l’évolution du contraste d’intensité et du gain de phase respectivement, correspondants aux figures 12A et 12B. Description détaillée On a illustré à la figure 1A un exemple de dispositif d’imagerie de phase quantitative 1 selon l’invention. Le dispositif comporte une source lumineuse 2, un système optique imageur 3 télécentrique, un filtre spatial optique 4 et un capteur de front d’onde 5. Une partie du système optique 3 est logée dans un microscope 9. Cette partie du système optique 3 comporte un objectif 31, un miroir 32 et une lentille de tube 33. Le microscope 9 comporte également un porte-échantillon 10 disposé dans le plan focal objet A du système optique 3. Pour imager un objet, l’utilisateur du dispositif 1 place un échantillon 14 comportant l’objet sur le porte-échantillon 10. La source lumineuse 2 comporte un générateur de lumière 21 et peut comporter, entre le générateur de lumière 21 et le plan focal objet A, un système optique 22 permettant de créer une illumination de type Köhler au niveau du plan focal objet A, et donc au niveau de l’échantillon 14 le cas échéant. Le rayonnement incident I, issu de la source 2, est ainsi collimaté et en incidence normale dans le plan focal objet A, sur le porte-échantillon 10. Une partie D de ce rayonnement est alors diffusée par l’échantillon 14. Dans l’exemple illustré, le plan focal image B de l'objectif 31, correspondant au plan de Fourier du système optique, est inaccessible car situé à l'intérieur du microscope 9. Avantageusement le filtre spatial 4 peut être disposé dans un plan conjugué C au plan de Fourier B, reporté après la lentille de tube 33 par une lentille convergente 34 du système optique imageur 3. Le plan conjugué C correspond ainsi au plan de Fourrier du système optique 3. Comme illustré sur la figure 1B, le capteur de front d’onde 5 peut comporter une caméra numérique 51 et un masque d’analyse de front d’onde 53, par exemple de type Shack- Hartman, disposé en amont de la caméra 51. Un rayonnement R caractérisé par son front d’onde F arrive sur le masque d’analyse de front d’onde 53 avant d’être détecté par la caméra 51. Le masque d’analyse de front d’onde 53 peut modifier le trajet du rayonnement lumineux et la variation d’amplitude complexe engendrée permet de mesurer simultanément la phase et l’intensité du rayonnement lumineux. Ainsi, le capteur de front d’onde illustré sur la figure 1B mesure l’intensité et la phase du rayonnement lumineux total qu’il reçoit. Le capteur de front d’onde 5 est précédé, dans l’exemple illustré sur la figure 1A, dans le sens de propagation du rayonnement lumineux, d’une lentille convergente 35 faisant partie du système optique imageur 3 et permettant d’imager l’échantillon 14 sur la caméra numérique 51. Le dispositif 1 comporte également une caméra supplémentaire 15 pour imager le plan de Fourier C grâce à un miroir pivotant ou semi-transparent 16 et un système optique 17 à deux lentilles. Le filtre spatial 4 peut ainsi être positionné précisément dans le plan de Fourier C, centré sur l’axe optique, par exemple à l’aide d’une platine de translation, non représentée. Le filtre spatial optique 4 présente une zone de plus grande atténuation 41 et une zone de moindre atténuation 42. Dans l’exemple illustré, le filtre spatial comporte un support 43 présentant la forme d’une plaque transparente, par exemple en verre, et de forme carrée, recouverte d’un revêtement 44 métallique ayant la forme d’un disque de rayon r _fs disposé au centre de la plaque. La zone de moindre atténuation 42 peut être délimitée par la portion du support 43 non recouverte par le revêtement 44 et la zone de plus grande atténuation est délimitée par la superposition du support 43 et du revêtement 44. La figure 2A illustre schématiquement les distributions spatiales dans le plan de Fourier des champs électromagnétiques incident et diffusé obtenus par le dispositif 1 selon l’invention, sans la présence du filtre spatial 4. Lorsqu’un échantillon 14 est disposé dans le plan focal objet A sur le porte-échantillon 10 du dispositif sans filtre spatial 4, le champ électromagnétique incident correspondant au rayonnement incident I non impacté par l’échantillon est noté ^ _^ et le champ électromagnétique diffusé correspondant au rayonnement diffusé D est noté ^ _ௗ . ^ ^{^} _ௗ ^^ ^ ^{^} _^ représentent respectivement les transformées de Fourier spatiale des champs diffusés ^ _ௗ et ^ _^ . Dans le cas où l’échantillon 14 est un objet semi transparent, non absorbant et ^{faiblement diffusant, le champ électromagnétique total ^} ௧ ^{est exprimé par la relation (1) :} ^ _{௧ = ^^ + ^ௗ (1)} Dans cet exemple, le rayonnement incident I étant collimaté au niveau de l’échantillon 14, il présente une distribution ponctuelle au centre du plan de Fourier C, correspondant à l’image de la pupille du système optique 3. Lorsque l’échantillon 14 est plus petit que la ou les longueurs d’onde du rayonnement incident, par exemple de dimension inférieure à 100 nm, le rayonnement D est diffusé de manière quasi isotrope. Il présente ainsi une distribution homogène sur l’image de la pupille du système optique 3 dans le plan de Fourier C. Les champs ^ _^ et ^ _ௗ peuvent être observés dans le plan de Fourier C comme illustré schématiquement sur la figure 2A, grâce à la caméra supplémentaire 15 qui image le plan de Fourier C. Le champ ^ _ௗ remplit le plan de Fourier C alors que le champ ^ _^ est ici concentré en un point au centre du plan de Fourier C. Plus généralement, le champ ^ _^ est réparti selon la répartition angulaire du rayonnement lumineux I émis par la source lumineuse 2. Dans le cas d’un objet faiblement diffusant, et comme illustré sur la figure 2C, le module |^ _ௗ | du champ diffusé est petit par rapport au module du champ incident |^ _^ |. Il est par exemple plus de 1000 fois inférieur au module du champ incident |^ _^ |. Il peut alors ^{être considéré que le champ total ^௧ est égal au champ incident ^^ déphasé d’un déphasage} _{^, d’où la relation (2) :} ^ _௧ = ^ _^ ^ ^{ି^ఝ (2)} Pour des objets biologiques, tels que des vésicules ou des virus, ou encore des nanoparticules, le déphasage ^ est faible, notamment inférieur à 0,05 rad, de sorte que l’on ^{peut utiliser le développement de Taylor en ^, d’où la relation (4) :} ^ _{௧ ^ ^^(1 െ ^^) (4)} Par identification entre les relations (1) et (4), le champ diffusé ^ _ௗ peut être écrit, ^{selon la relation (5), comme le champ incident ^ గ ^ atténué de ^, et déphasé d’environ} _ଶ ^{: La figure 2C montre la représentation complexe des champs incident ^^, diffusé} _{^ௗ et total ^௧ obtenu avec le dispositif 1 sans filtre spatial. On observe sur cette figure le} déphasage proche de ^గ ଶ du champ diffusé ^ _ௗ par rapport au champ incident ^ _^ . Dans le cas du dispositif selon l’invention avec la présence du filtre spatial optique 4 dans le plan de Fourier C, ^ _^ ^ est la contribution du champ électromagnétique incident, correspondant au rayonnement incident I après transmission par le filtre spatial 4, et ^ _ௗ ^la contribution du champ électromagnétique diffusé, correspondant au rayonnement diffusé D après transmission par le filtre spatial 4, au champ électromagnétique total ^ _௧ ^ atteignant le capteur de front d’onde 5. Dans le cas où l’échantillon 14 est un objet semi transparent, non absorbant et ^{faiblement diffusant, la relation (6) suivante peut être définie :} ^ _{௧^ = ^^^ + ^ௗ^ (6)} La transmittance complexe t de la zone de moindre transmittance est définie comme ^ = ^ _^ ^ ^{ି^ఉ} . Le rayon ^ _^ de la zone de moindre transmittance est de préférence au moins 5 fois inférieur au rayon ^ _^ de l’image de la pupille du système optique 3 dans le plan de Fourier. Ainsi, la zone de plus grande atténuation n’affecte donc que le champ incident et pas le champ diffusé, comme cela peut être observé sur la figure 2B. Les relations (7) à (9) ^{suivantes peuvent ainsi être écrites :} On observe sur les figures 2D et 2E la représentation complexe des champs incident après filtrage ^ _^ ^ᇱ , diffusé après filtrage ^ _ௗ et total après filtrage ^ _௧ ^, respectivement GDQV^OH^FDV^R^^ȕ^HVW^QXO^HW^GDQV^OH^FDV^R^^ȕ^HVW^QRQ^QXO. On observe en particulier la diminution de l’amplitude du champ incident après filtrage ^ _^ ^ᇱ , par rapport à l’amplitude du champ incident ^ _^ non filtré illustré sur la figure 2C. L’amplitude t0 de la transmittance est choisie ^{telle que |^^^| = |^^^| ^ |^ௗ| afin d'atteindre le meilleur compromis entre atténuation de} _{^^ et niveau de signal nécessaire à une bonne reconstruction de phase. De préférence, 0 < t0} < 0,7. La zone de plus grande atténuation est semi-transparente. L'annulation complète du champ incident ^ _^ ^ = 0 par une zone de plus grande atténuation opaque produirait une illumination en champ sombre mais empêcherait de définir la phase du front d’onde sur l’ensemble du champ de vue. Le champ total transmis ^ _௧ ^ porte un nouveau déphasage ^ ^ᇱ > ^ par rapport au champ ^ _^ ^. Le déphasage ^ induit par l’échantillon 14 peut être quantifié à partir de la mesure de l’intensité et de la phase du champ ^ _௧ ^. E ^{n combinant les relations (1) et (8), on obtient la relation (10) :} ^ _{௧ et ^௧^ sont les intensités relatives respectivement des champs totaux ^௧ dans le} cas d’un dispositif 1 sans filtre spatial 4 et après filtrage ^ _௧ ^ dans le cas d’un dispositif 1 avec ^{filtre spatial 4. Les relations (11) et (12) peuvent être formulées : ainsi que la relation (13) à partir de la relation (10) :} Le capteur de front d’onde 5 mesure une intensité relative, c’est-à-dire le rapport entre une image de référence sans échantillon et une image en présence de l’échantillon 14. Les rapports d'intensité ^ _^ et ^ _^ ^ définis par les relations (14) et (15) peuvent ainsi être ^{mesurés :} L ^{a relation (16) peut alors être formulée à partir de la relation (13) :} En connaissant la transmission complexe du filtre spatial 4 et à partir des ^{grandeurs mesurées ^^ ᇱ ^^ et ^ en présence du filtre spatial 4, le déphasage ^ et l'absorption} _{^^ induits par l’objet diffusant de l’échantillon 14 peuvent être quantifiés.} Des simulations numériques de la mise en œuvre du dispositif 1 ont été réalisées, afin d’en déterminer les conditions d’utilisation optimale. Elles ont été mises en œuvre en suivant la méthode définie dans l’article P. Bon, B. Wattellier, and S. Monneret, “Modeling quantitative phase image formation under tilted illuminations,” Opt. Lett. 37, 1718 (2012). L’échantillon 14 étudié est une bille de polystyrène d’indice optique égal à 1,62, immergées dans de l’eau d’indice optique égal à 1,33. L’échantillon 14 a été illuminé par un rayonnement lumineux monochromatique de ORQJXHXU^G¶RQGH^^^ ^^^^^QP^^/¶REMHFWLI^31 utilisé avait une ouverture numérique 1,4. Le filtrage spatial a été simulé sur le champ ^ ^{^} _௧ , transformée de Fourier spatiale du champ total ^ _௧ . Le champ électromagnétique simulé compris dans un disque de rayon ^ _^^ , rayon de la zone de plus grande atténuation 41 du filtre spatial 4, a été ensuite multiplié par la transmittance complexe ^ _^ ^ ^{ି^ఉ} du filtre spatial 4 pour simuler l’interaction avec ledit filtre spatial 4. La zone du champ située en dehors d’un disque de rayon ^ _^ , rayon de l’image de la pupille du système optique 3 dans le plan de Fourier C, a été mise à 0 pour simuler l’ouverture numérique finie du système optique 3. Le champ ^ ^{^} _௧ ^ a ainsi été simulé, selon la relation (17) : avec k les vecteurs images dans la pupille, et ^^ étant l’ouverture numérique du système optique 3 et ^ la longueur d’onde du rayonnement lumineux. La valeur du champ total après filtrage ^ _௧ ^, mesurable sur le capteur de front d’onde 5, a été calculée en effectuant une transformée de Fourier spatiale inverse de ce champ ^ ^{^} _௧ ^.ᇲ ^మ L'intensité ^ _^ ^ᇱ et la phase ^ ^ᇱ , calculées respectivement par ^{หா^ห} ௧ _{మ బ} et arg(^ _௧ ^ᇱ ), sont représentées sur les images d’intensité et de phase des figures 3E et 3B respectivement. Elles ont été calculées en considérant ^ ^{^} ^ = 0.1 , ^ = 0 et ^{^ೞ} ^ _^ = 7%. On vérifie sur la figure 3B l'obtention d'une amplification de la phase mesurée ^ ^ᇱ , dont la valeur est jusqu’à plus de dix fois plus élevée que la valeur du déphasage ^ calculé en l’absence du filtre spatial et représentée sur la figure 3A. Quant à la carte d'intensité de la figure 3E, elle correspond à une image en champ partiellement sombre, où la lumière diffusée par l'objet, au centre de la figure, est prépondérante par rapport à la lumière incidente. La figure 4A représente les amplifications en phase et la figure 4B les amplifications en contraste d’intensité simulées en fonction de la transmission T et du sage ^ du filtre spatial 4, pour ^{^} dépha ^{^ೞ} ^ _^ = 7%. Pour un déphasage ^ induit par le filtre spatial 4 proche de 0 [2^], l'amplification de la phase est d'autant plus forte que la transmission T ^{est faible. Cela traduit que le dispositif 1 fonctionne de manière optimale lorsque que le ratio} _{^ா^ ா^ ^ est équilibré.} Un traitement permettant de remonter aux grandeurs quantitatives a été appliqué ^{à l'intensité ^ᇱ ᇱ ^ et à la phase ^ calculées, selon la relation (18) :} En comparant les valeurs de phase et d’intensité réelles (^, ^ _^ ), et celles retrouvées après filtrage et traitement quantitatif (^ _^ , ^ _^,^ ), l’erreur relative induite par le filtre spatial 4 a été estimée et est particulièrement faible. On peut observer, en comparant la figure 3C avec la figure 3A, ainsi que la figure 3F et avec la figure 3D, que les valeurs de phases et d’intensité retrouvées (^ _^ , ^ _^,^ ) sont quasiment identiques aux valeurs de phase et d’intensité réelle (^, ^ _^ ). Cette comparaison traduit le bon fonctionnement du traitement quantitatif permettant de revenir aux valeurs en l’absence de filtre. Comme illustré sur la figure 5, modifier la transmission complexe du filtre spatial 4 conduit à des erreurs relatives inférieures à 10 ^ିଶ pour la phase (figure 5A) et à 10 ^ିସ pour l'intensité (figure 5B). La figure 6 illustre l’effet du rapport ^{^ ^} ^ _^ du rayon du filtre spatial 4 sur le rayon de l’image de la pupille du système optique 3 dans le plan de Fourier C, sur les erreurs relatives de phases et d’intensité. On constate qu'au-dessous de ^ _^ = 10%, les erreurs en phase sont inférieures à 1% (figure 6A) et celles en intensité inférieures à 10 ^ିଷ % (figure 6B). On établit alors cette valeur du ratio comme limite au-dessous de laquelle on considère raisonnable l'hypothèse selon laquelle la présence du filtre spatial 4 ne modifie pas le champ diffusé ^ _ௗ . Exemple 1 Le microscope 9 utilisé était un microscope commercial Olympus IX71, équipé d’un objectif de microscope de grossissement x60, et d’ouverture numérique 0,9 (Olympus UPlanFLN). L’illumination de l’échantillon 14 a été assurée grâce à l’illumination Köhler native du microscope 9 (lampe halogène), filtrée en longueur d’onde. Le capteur de front d’onde 5 était un analyseur ID4L (Interféromètre à Décalage Quadri-Latéral) composé d’une caméra Andor Zyla 5.5 et d’un réseau de diffraction 2D de périodicité 10 µm, optimisé pour la longueur d’onde 650 nm. Ce réseau a été réimagé sur la caméra via un télescope de grossissement x2, composé de 2 lentilles achromatiques. La distance effective entre le réseau de diffraction et la caméra était ^ = 1.2 ^^. La zone de plus grande atténuation 41 du filtre spatial 4 était un disque de 80 nm d’or sur 5 nm de chrome, et de rayon = 100 µm, déposé via évaporation par bombardement électronique sur une lame de verre. La transmission du filtre spatial optique a été mesurée expérimentalement à T = 7 % j^^^ ^^^^^HW^^^^^QP^^HQ^PHVXUDQW^ en l’absence d’échantillon, le signal d’intensité I ₁ sans filtre et le signal d’intensité I ₂ avec filtre, pour en déduire T=I ₂ /I _1. Le déphasage ^ = 0.5 ^^^ a été mesuré par interférométrie. On observe sur la figure 7A, une image du plan de Fourier du dispositif expérimental acquise par la caméra supplémentaire 15. Le disque blanc correspond au rayonnement diffusé D par un échantillon formé d’une superposition de feuilles de papier, sur toute l’image de la pupille du système optique 3 dans le plan de Fourier C, et le disque noir au milieu correspond au filtre spatial 4. La comparaison des figures 7B et 7C met en évidence l’effet du filtre spatial 4 sur l’intensité du rayonnement incident I. L’échantillon 14 étudié était un ensemble de billes de polystyrène d’indice ^{optique ^^^^௬ = 1.62 et de diamètre ^ = 100 ^^ immergées dans de l’eau d’indice optique} Les résultats obtenus dans le cas sans filtre spatial 4 et avec filtre spatial 4, ainsi qu’avec la reconstruction quantitative, en utilisant l’équation 16 à partir des images filtrées, sont présentées en figure 8. La figure 8A montre les résultats obtenus sans filtre spatial 4, la figure 8B montre les résultats obtenus avec filtre spatial 4 et la figure 8 C montre les résultats obtenus avec filtre spatial 4 et suite au traitement quantitatif à partir des mesures. Expérimentalement, on mesure un gain d’un facteur environ 3 du signal de phase passant de ^ = 3.5 ^^ sans filtre spatial, à ^ ^ᇱ = 11^^ avec filtre spatial, proche de la valeur théorique simulée par le modèle et illustrée sur la figure 4A. Les valeurs de phase sont exprimées en nm car elles font référence à la différence de chemin optique ^ parcourue, quantité qui peut être reliée à la phase en radian par la relation : ^ = 2^ ^ఋ ఒ, où ^ est la longueur d’onde du rayonnement. Le module du champ diffusé par les billes étant très faible devant celui du champ incident, les billes n’apparaissent pas sur l’image d’intensité sans filtrage de la figure 8A. On voit sur l’image 8B que la présence du filtre spatial 4 produit une configuration en champ partiellement sombre et permet de faire ressortir les billes avec un contraste de 0,2, lui aussi proche de la valeur théorique attendue que l’on trouve sur la figure 4B. Après reconstruction quantitative, les valeurs d’intensité et de phase reconstruites, visibles sur la figure 8C, sont identiques aux valeurs d’intensité et de phase brutes, mais avec un net gain dans le rapport signal sur bruit. La figure 9A représente un agrandissement de l’image de phase de la figure 8B et la figure 9B montre un agrandissement de l’image de phase de la figure 8C. Le bruit est calculé sur les zones délimitées en pointillés sur les figures 9A et 9B. On observe un bruit ^{de phase RMS de ^ = 0.42 ^^ pour les mesures sans filtre spatial de la figure 9A, et de} _{^ఝ = 0.29 ^^ pour les mesures filtrées puis reconstruites de la figure 9B.} Dans une variante, le spectre angulaire du rayonnement lumineux incident I est un disque centré dans le plan de Fourier C, comme on peut l’observer sur la figure 10A, la zone blanche correspondant au rayonnement lumineux incident I. La zone de plus grande atténuation 41 est un disque au centre du filtre spatial optique 4, comme représenté sur la figure 10D, la zone grise correspondant à la zone de plus grande atténuation 41. Dans une variante, le spectre angulaire du rayonnement lumineux incident I est représenté dans le plan de Fourier C par plusieurs disques espacés, comme observable sur la figure 10B, les zones blanches correspondant au rayonnement lumineux incident I. La zone de plus grande atténuation 41 est composée de plusieurs disques répartis sur le filtre spatial optique 4 de la même manière que le rayonnement lumineux incident I dans le plan de Fourier C, comme représenté sur la figure 10E, les zones grises correspondant à la zone de plus grande atténuation 41. Dans une autre variante, le spectre angulaire du rayonnement lumineux incident I est un anneau dans le plan de Fourier C, comme on peut l’observer sur la figure 10A, la zone blanche correspondant au rayonnement lumineux incident I. La zone de plus grande atténuation 41 est un anneau correspondant sur le filtre spatial optique 4, comme représenté sur la figure 10D, la zone grise correspondant à la zone de plus grande atténuation 41. Exemple 2 Le même échantillon 14 et le même dispositif que pour l’exemple 1 ont été utilisés, à l’exception du filtre spatial optique 4. Ce dernier, observable sur la figure 11A, présentait ici une zone de plus grande atténuation 41 comportant une chambre 48 contenant un milieu présentant un coefficient thermo-optique dn/dT élevé, tel que du glycérol pour lequel dn/dT=-2,7.10 ^-4 , au contact du disque d’or 46 de 80 nm d’épaisseur décrit précédemment, la chambre 48 et le disque 46 étant entre deux plaques de verre 45 du filtre spatial optique 4. La chambre 48 permettait, grâce à un système de chauffage 47 par laser focalisé, de faire varier le déphasage induit par le filtre spatial optique 4 sur le champ incident Ei. Le déphasage total ȕ _total induit par le filtre spatial optique 4 sur le champ incident E _i était alors la somme d’une composante variable ȕ _variable et d’une composante fixe ȕ _fixe , comme on peut l’observer sur la figure 11B, où ^ _^ ^ᇱ , ^ _ௗ et ^ _௧ ^ sont respectivement les représentations complexes des champs incident après filtrage, diffusé après filtrage et total après filtrage. Le déphasage ȕvariable permettait d’optimiser les valeurs du déphasage ^ ^ᇱ et de l’intensité |^^ _௧ | ^ଶ . On observe sur les figures 12A et 12B les images expérimentales d’intensité et de phase respectivement, en l’absence de filtre (groupe 1 de gauche) et en présence du filtre VSDWLDO^RSWLTXH^^^SRXU^GLIIpUHQWHV^YDOHXUV^GH^ȕ _variable obtenues en faisant chauffer la chambre thermosensible (groupe 2 de droite). Les courbes des figures 13A et 13B représentent respectivement la variation des contrastes en intensité et en phase, en fonction du déphasage induit par le filtre spatial optique 4. On remarque que l’on retrouve expérimentalement les résultats des simulations présentées en figure 4A et 4B, pour une transmission T égale à 7%. L’utilisation de la chambre 48 et du système de chauffage 47 permet de faire varier le déphasage induit par le filtre spatial optique 4 en temps réel, de manière à optimiser le rapport signal sur bruit à la fois sur le signal d’intensité et sur le signal de phase.