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Title:
DEVICE FOR INSPECTING STRUCTURAL PARTS, ESPECIALLY DRILLED HOLES
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2004/099752
Kind Code:
A2
Abstract:
The invention relates to a device for examining mechanical components that are provided with depressions or breakthroughs, especially drilled holes. Said device comprises an imaging optical system consisting of a forward imaging system and a rear imaging system whose position relative to one another can be varied. The entrance diaphragm of the entire imaging system is reproduced in front of the first optically effective area while the zone of the drilled hole, which is to be examined, is reproduced onto an electronic receiver and means are provided for coupling an illuminating beam path into the optical image. The invention relates to a device for examining mechanical components that are provided with recesses and/or perforations, especially for examining drilled holes.

Inventors:
GEFFE JUERGEN (DE)
SCHUSTER NORBERT (DE)
Application Number:
PCT/DE2004/000942
Publication Date:
November 18, 2004
Filing Date:
May 04, 2004
Export Citation:
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Assignee:
VISION & CONTROL GMBH (DE)
GEFFE JUERGEN (DE)
SCHUSTER NORBERT (DE)
International Classes:
G01N21/954; (IPC1-7): G01M11/00
Foreign References:
DE19738827C11999-07-15
Other References:
BYSTRICKY K M ET AL: "AN IMPROVED ZOOM LENS WITH EXTERNAL ENTRANCE PUPIL" PROCEEDINGS OF THE SPIE, SPIE, BELLINGHAM, VA, US, Bd. 3, 1973, Seiten 299-304, XP009043340 ISSN: 0277-786X
"BORESCOPE WITH LARGE DEPTH OF FOCUS" NTIS TECH NOTES, US DEPARTMENT OF COMMERCE. SPRINGFIELD, VA, US, 1. November 1990 (1990-11-01), Seite 993, XP000298081 ISSN: 0889-8464
SOUTHWELL D ET AL: "A conical mirror pipeline inspection system" ROBOTICS AND AUTOMATION, 1996. PROCEEDINGS., 1996 IEEE INTERNATIONAL CONFERENCE ON MINNEAPOLIS, MN, USA 22-28 APRIL 1996, NEW YORK, NY, USA,IEEE, US, Bd. 4, 22. April 1996 (1996-04-22), Seiten 3253-3258, XP010163232 ISBN: 0-7803-2988-0
Attorney, Agent or Firm:
Liedtke, Klaus (Erfurt, DE)
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Claims:
PATENTANSPRÜCHE
1. Vorrichtung zur Untersuchung von mechanischen Bauteilen mit Vertiefungen und/oder Durchbrüchen, insbesondere zur Untersuchung von Bohrlöchern (3), dadurch gekennzeichnet, dass die Vorrichtung ein abbildendes optisches System enthält, das aus einem zweistufigen abbildenden System mit einem vorderen abbildenden System (1) und einem hinteren abbildenden System (2) besteht, die in ihrer gegenseitigen Lage variierbar sind, wobei die Eintrittspupille (4) des gesamten abbildenden Systems vor die erste optisch wirksame Fläche abgebildet wird, der zu untersuchende Bereich des Bohrloches (3) auf einen elektronischen Empfänger (6) abgebildet wird und Mittel zur Einkopplung eines Beleuchtungsstahlenganges in die optische Abbildung angeordnet sind.
2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass einzelne Bauteile des zweistufigen abbildenden Systems Anschlusselemente aufweisen, mit denen diese Bauteile und die Mittel zum Einkoppeln des Beleuchtungsstrahlengangs beliebig kombinierbar sind.
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zum Einkoppeln des Beleuchtungsstahlenganges zwischen den beiden Teilsystemen (1, 2) angeordnet sind.
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Mittel zur Einkopplung des Beleuchtungsstahlenganges vor der ersten optisch wirksamen Fläche der Vorrichtung angeordnet sind.
Description:
Vorrichtung zur Inspektion von Bauteilen, insbesondere von Bohrlöchern Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zur Untersuchung von mechanischen Bauteilen mit Vertiefungen und/oder Durchbrüchen, insbesondere zur Untersuchung von Bohrlöchern Die Vorrichtung ist geeignet zur optischen Inspektion der Oberflächenqualität der Zylinder-und Grundflächen von mechanisch eingebrachten Vertiefungen- vorzugsweise von Bohrlöchern-in Werkstoffen aller Art.

Im Stand der Technik sind verschieden Lösungen zur Inspektion von Bohrlöchern bekannt. Die meisten optischen Systeme zur Bohrlochinspektion benötigen eine Vorschubbewegung parallel zur Mittenachse der zu inspizierenden Bohrung.

Klassische Endoskoplösungen fahren in die Öffnung hinein und bilden je nach Ablenkwinkel einen Teil des Innenraums der Bohrung ab. Für die Zylinderfläche beträgt der Ablenkwinkel 90° und für die Grundfläche 0°. Dabei wird in Abhängigkeit der Einfahrtiefe jeweils nur ein Teil der Zylinderfläche

oder der Grundfläche der Bohrung erfasst.

Neuere Endoskoplösungen ermöglichen eine 360°-Abbildung der Zylinderfläche als Ringbild. Eine derartige Vorrichtung wird in der Produktinformation 2003"Endoskope und TV-Sonden"der ViSiTOOL GmbH beschrieben.

Weiterhin ist der Einsatz von Superweitwinkelobjektiven bekannt. Diese haben ein nicht festgelegtes Gesichtsfeld, das durch die Pupillenlage auf bestimmte Bohrlochformen beschränkt ist. Hier ist eine optimale Beleuchtung kaum realisierbar.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung der eingangs genannten Art anzugeben, bei dem Bohrungen unterschiedlichen Durchmessers und unterschiedlicher Tiefe inspiziert werden können, ohne dass Messmittel selbst in die Bohrung eintauchen müssen.

Erfindungsgemäß wird die Aufgabe mit einer Vorrichtung gelöst, welche die in Anspruch 1 angegebenen Merkmale enthält.

Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in den Unteransprüchen angegeben.

Durch die Anordnung des optischen Systems wird eine vollständige Inspektion der Bohrung gewährleistet, ohne dass das optische System selbst in die Bohrung eingetaucht werden muss. Die Erfindung ist damit einfach zu handhaben und ermöglicht eine vollständige und reproduzierbare Inspektion der zu untersuchenden Bohrung.

Das wird dadurch erreicht, dass ein zweistufig abbildendes optisches System mit Eintrittspupille vor der ersten wirksamen Fläche angewendet wird. Durch diese Lage der Eintrittspupille vor der ersten optisch wirksamen Fläche kann das Perspektivitätszentrum in der Bohrung liegen. Damit wird das erfasste Gesichtsfeld in weiten Grenzen variabel. Die modulare Bauweise der Erfindung erlaubt die Kombination einzelner Baugruppen. Durch Variation des Vorder- und Hintersystems kann das Gesichtsfeld der Bohrlochform angepasst werden.

Insbesondere kann bewusst die Inspektion des Bohrlochgrundes und die Inspektion des Bohrlochzylinders angestrebt werden. Eine Beleuchtungs- einspiegelung zwischen den beiden Systemen erlaubt zusätzlich die freie Gestaltung eines Auflicht-Hellfeld-Beleuchtungsstrahlengangs, so dass unterschiedliche Elemente erfasst werden können. Damit kann erreciht werden, dass verschiedenartige Defekte in einer Bohrung deutlich hervortreten.

Die Erfindung zeichnet sich durch eine Reihe von Vorteilen aus. Hierzu zählen insbesondere : 1. Durch Variation der beiden optisch abbildenden Teilsysteme kann entweder der Bohrlochgrund oder die Zylinderfläche eines Bohrlochs vorrangig scharf auf einen Sensor abgebildet werden.

2. Durch die Variation von Abständen, Brennweiten und Durchmessern der Bauteile des optischen Systems können verschiedene Bohrlochgrößen inspiziert werden.

3. Zwischen den beiden Teilsystemen kann ein Auflicht-Hellfeld- Beleuchtungsstrahlengang eingespiegelt werden, so dass die Anordnung durch Variationen der Lichtquelle und der Strahlablenkung der Inspektionsaufgabe optimal angepasst werden kann.

4. Durch die Anordnung einer Auflicht-Beleuchtung vor dem abbildenden System ist es möglich, auch die Lichtquelle der Inspektionsaufgabe optimal anzupassen. Die Erfindung wird im Folgenden anhand eines Ausführungsbeispieles näher erläutert.

In der zugehörigen Zeichnung zeigt : Figur 1 den schematischen Aufbau der optischen Anordnung des Strahlengangs sowie den Querschnitt eines zu inspizierenden Bohr- loches.

Die optische Anordnung zur Inspektion von Bohrlöchern besteht aus mindestens zwei optischen Systemen, dem vorderen abbildenden System 1 und dem hinteren abbildenden System 2, mit denen das Bohrloch 3 auf den Empfänger 6 abgebildet wird. Als Empfänger 6 wird vorzugsweise ein CCD- oder CMOS-Sensor verwendet. Die beiden abbildenden optischen Systeme 1 und 2 sind so angeordnet, dass die Eintrittspupille 4 für das Gesamtsystem vor die erste optisch wirksamen Fläche abgebildet wird. Die optischen Systeme 1 und 2 sind durch ihre Hauptebenen und ihre Brennpunkte dargestellt. Im dargestellten Beispiel wird der Bohrlochgrund 5 auf die Fläche des elektronischen Empfängers 6 abgebildet.

Eine zusätzliche Auflicht-Hellfeld-Beleuchtung kann zwischen den Systemen 1 und 2 über eine geeignete Einkoppelvorrichtung 7 eingespiegelt werden. Hierzu können teildurchlässige Spiegel oder Prismen verwendet werden. In Lichtrichtung vor der Einkoppelvorrichtung 7 kann der Beleuchtungsstrahlen- gang 8 durch zusätzliche Linsen beeinflusst und dem Messobjekt angepasst werden. Darüber hinaus ist es möglich, über Ringleuchten 9 vor dem System für eine kontrastreiche Ausleuchtung des Bohrloches zu sorgen.

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BEZUGSZEICHENLISTE 1 vorderes abbildendes System 2 hinteres abbildendes System 3 zu inspizierendes Bohrloch 4 gemeinsame Eintrittspupille der abbildenden Systeme 5 Grundfläche des Bohrloches 6 Fläche des elektronischen Empfängers 7 Einkoppelsystem für Auflicht-Hellfeld-Beleuchtung 8 Auflicht-Hellfeld-Beleuchtungsstrahlengang 9 Auflicht-Beleuchtung vor der abbildenden Optik