EVERS CHRISTIAN (DE)
NEIDHARDT STEFFEN (DE)
EVERS CHRISTIAN (DE)
| US20100164504A1 | 2010-07-01 | |||
| US20100164504A1 | 2010-07-01 | |||
| DE102006017018A1 | 2007-07-12 |
BAMIDELE ADEBISI ET AL: "Wire integrity testing using intermodulation product processing", POWER LINE COMMUNICATIONS AND ITS APPLICATIONS, 2008. ISPLC 2008. IEEE INTERNATIONAL SYMPOSIUM ON, IEEE, PISCATAWAY, NJ, USA, 2 April 2008 (2008-04-02), pages 213 - 217, XP031247897, ISBN: 978-1-4244-1975-3
DMITRY E ZELENCHUK ET AL: "Passive Intermodulation in Finite Lengths of Printed Microstrip Lines", IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES, IEEE SERVICE CENTER, PISCATAWAY, NJ, US, vol. 56, no. 11, 1 November 2008 (2008-11-01), pages 2426 - 2434, XP011236940, ISSN: 0018-9480, DOI: 10.1109/TMTT.2008.2005886
| Ansprüche 1. Verfahren zur Ermittlung des Entstehungsortes eines passiven Intermodulationsproduktes umfassend folgende Verfahrensschritte : • Anregen eines verteilten Messobjekts (1) mit zwei ersten Anregungssignalen { x^t) , x2(t) ) mit jeweils einer einzigen Spektrallinie, deren Frequenzen ( fi , f2 ) zueinander einen Frequenzabstand ( Af ) aufweisen, gekennzeichnet durch, • Messen einer Phase {<pM3Mess) eines am Entstehungsort im verteilten Messobjekt (1) durch nichtlineare Verzerrung aus den ersten Anregungssignalen ( x^t) , x2(t) ) erzeugten ersten passiven Intermodulationsproduktes, • Berechnen der Laufzeit ( At ) des ersten passiven Intermodulationsproduktes vom Entstehungsort zum Messgerät (5) aus der gemessenen Phase ( x^t) , x2(t) ) und der Frequenz [1- f- f2) des ersten passiven Intermodulationsproduktes und • Ermitteln des Entstehungsortes des passiven Intermodulationsproduktes aus der Laufzeit ( At ) und der Topologie des verteilten Messobjekts (1) . 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase {φΙΜ3ΕηΜ) des ersten Intermodulationsprodukts am Entstehungsort ermittelt wird und bei der Berechnung der Laufzeit ( At ) berücksichtigt wird . 3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase {φΙΜ3ΕηΜ) des ersten Intermodulationsprodukts am Entstehungsort mittels Bestimmung der Phase ( (plErzeug , (P2Erzeug ) ^es erzeugten ersten und zweiten Anregungssignals ( x^t) , x2(t) ) und der Phase ( PiMess ViMess ^es reflektierten ersten und zweiten Anregungssignals ( xl(t) , x2(t) ) am Ort der Signalerzeugung bestimmt wird. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekennzeichnet, dass vor dem Ermitteln des Entstehungsortes des passiven Intermodulationsproduktes folgende Verfahrensschritte durchgeführt werden: • Anregen des verteilten Messobjekts (1) mit zwei zweiten Anregungssignalen ( x (t) , x2'(t) ) mit jeweils einer einzigen Spektrallinie, deren Frequenzen ( fi , f2 ) jeweils unterschiedlich zu den Frequenzen ( fi, f2 ) der ersten Anregungssignale ( xl(t) , x2(t) ) sind und einen zum Frequenzabstand ( Af ) der ersten Anregungssignale ( xl(t) , x2(t) ) identischen Frequenzabstand ( Af ) aufweisen, und • Messen der Phase {φΙΜ3Μ^ ) eines am Entstehungsort im verteilten Messobjekt (1) durch nichtlineare Verzerrung aus den zweiten Anregungssignalen ( x (t) , x2'if) ) erzeugten zweiten passiven Intermodulationsproduktes. 5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, dass zur Ermittlung des Entstehungsortes zusätzlich die gemessene Phasen {<pM3Mess') und die Frequenz { 2 - f -f2 ' ) des zweiten passiven Intermodulationsproduktes berücksichtigt werden. 6. Verfahren nach Anspruch 4 oder 5, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase ( 2·φι-φ2) des ersten passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukt zur Phase [ 2·φ^—φ2') des zweiten passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukt phasenkohärent ist. 7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase ( φΜ3Μαα ; q>M3Mess , φΜ3Μαα' ) des am Entstehungsort im Messobjekt (1) erzeugten und reflektierten ersten passiven Intermodulationsproduktes bzw. des am Entstehungsort im Messobjekt (1) erzeugten und reflektierten ersten und zweiten passiven Intermodulationsproduktes gemessen wird. 8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, dass eine Phasenänderung des ersten passiven Intermodulationsproduktes bzw. des ersten und zweiten passiven Intermodulationsproduktes aufgrund der Reflexion für alle verwendeten Frequenzen des ersten und zweiten Anregungssignals konstant ist. 9. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass die Phase ( φΜ3Μαα ; q>M3Mess , φΜ3Μαα' ) des am Entstehungsort im Messobjekt (1) erzeugten und transmittierten ersten passiven Intermodulationsproduktes und des am Entstehungsort im Messobjekt (1) erzeugten und transmittierten ersten und zweiten passiven Intermodulationsproduktes gemessen wird. 10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass bevorzugt das passive Intermodulationsprodukt dritter Ordnung gemessen wird. 11. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass in einer Vormessung die Phasenänderung ( A(PiM3Div_MeSS > A<PiM3DUT_MeSS' ) der ersten und zweiten Anregungssignale ( j(t) , x2(t) , x (t) , x2'(t) ) vom Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss (2,3) des Meßobjekts (1) bis zum Messgerät (5) gemessen wird und in der gemessenen Phase ( VIMIMZSS ' <PiM3Mess' ) des ersten und zweiten passiven Intermodulationsproduktes kompensiert wird. 12. System zur Ermittlung des Entstehungsortes eines passiven Intermodulationsproduktes innerhalb eines verteilten Messobjekts (1) mit einer Signalquelle (16) zur Erzeugung von zwei Anregungssignalen ( j(t) , x2 (t) , x (t) , x2 '(t) ) mit jeweils einer einzigen Spektrallinie, deren Frequenzen ( f f2 , f , f2 ' ) zueinander einen Frequenzabstand ( Af ) aufweisen, dem verteilten Messobjekt (1), dessen Eingangsanschluss (2) mit der Signalquelle (16) verbunden ist, gekennzeichnet durch ein Messgerät (5), das mit dem Eingangs- oder dem Ausgangsanschluss (2,3) des verteilten Messobjekts (1) verbunden ist, zur Messung der Phase ( φΜ Μ(,33 , (pIM3Mess ' ) von am Entstehungsort durch nichtlineare Verzerrung der beiden Anregungssignale ( Xj(t) , x2 (t) , x (t) , x2 '(t) ) erzeugten passiven Intermodulationsprodukten und eine Berechnungseinheit (17) zur Ermittlung der Laufzeit ( At ) von passiven Intermodulationsprodukten zwischen dem Entstehungsort von passiven Intermodulationsprodukten und dem Messgerät (5) und damit des Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten . |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zur Ermittlung des Entstehungsortes von passiven
Intermodulationsprodukten in Messob ekten.
Werden passive Baugruppen, beispielsweise Steckverbinder, Kabel und Antennen, von zwei Hochfrequenzsignalen
beaufschlagt, so entstehen an Orten mit nichtlinearer Übertragungscharakteristik aufgrund des Effektes der nichtlinearen Verzerrung passive Intermodulationsprodukte. Derartige Ort mit nichtlinearer Übertragungscharakteristik sind beispielsweise verunreinigte oder oxidierte Stellen im leitenden Material, magnetische Materialien im
Leitungspfad, Übergänge zwischen verschiedenen Metallen, geometrische Inhomogenitäten im Leitungspfad z.B.
Metallspäne an Metallkanten.
Fallen diese passiven Intermodulationsprodukte in den Frequenzbereich des Übertragungssystems, so führen sie im Empfänger zu unerwünschten Störungen, die eine korrekte Dekodierung bzw. Detektion der übertragenen Nutzdaten erschweren bzw. unmöglich machen.
Aus der US 2010/0164504 AI ist ein Messverfahren bekannt, bei welchem eines der beiden Anregungssignale gesweept wird. Dies hat sich jedoch in der Praxis nicht bewährt.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, ein Verfahren und ein System zur Ermittlung des exakten Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten in verteilten
Messobjekten im Hinblick auf eine darauf aufbauende
Beseitigung der störenden Nichtlinearität im verteilten Messobj ekt .
Die Aufgabe wird durch ein erfindungsgemäßes Verfahren zur Ermittlung des Entstehungsortes eines passiven Intermodulationsproduktes mit den Merkmalen des
Patentanspruchs 1 und durch ein erfindungsgemäßes System zur Ermittlung des Entstehungsortes eines passiven
Intermodulationsproduktes mit den Merkmalen des
Patentanspruchs 12 gelöst. Vorteilhafte technische
Erweiterungen sind in den abhängigen Patentansprüchen aufgeführt .
Erfindungsgemäß wird das verteilte Messobjekt mit zwei rein sinusförmigen Anregungssignalen (Continuous-Wave- Signalen, CW-Signalen) beaufschlagt, deren Frequenzen einen bestimmten Frequenzabstand aufweisen. Durch die Anregung des verteilten Messobjekts entsteht an der
Nichtidealität des verteilten Messobjekts ein passives Intermodulationsprodukt , das am Entstehungsort reflektiert und/oder transmittiert wird. Durch Messung der Phase des passiven Intermodulationsprodukts mit einem Messgerät am Eingangsanschluss des verteilten Messobjekts im Fall der Reflexion des passiven Intermodulationsproduktes oder am Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts im Fall der Transmission des passiven Intermodulationsproduktes wird bei bekannter Frequenz und bekannter Phase des passiven Intermodulationsproduktes am Entstehungsort die Laufzeit des passiven Intermodulationsproduktes vom Entstehungsort zum Messgerät ermittelt. Aus der bekannten Topologie des verteilten Messobjekts wird mithilfe der ermittelten
Laufzeit des passiven Intermodulationsproduktes auf den Entstehungsort des passiven Intermodulationsproduktes geschlossen .
Als passives Intermodulationsprodukt wird typischerweise das passive Intermodulationsprodukt dritter Ordnung gemessen, das sich aus der Subtraktion der doppelten
Frequenz des einen Anregungssignals und der einfachen Frequenz des anderen Anregungssignals ergibt ( f M3 = 2 - f 2 - f , wobei f und f 2 die Frequenzen der beiden Anregungssignale sind) . Jedes andere beliebige Intermodulationsprodukt kann aber genauso verwendet werden und ist von der Erfindung mit abgedeckt.
In einer ersten Aus führungs form der Erfindung ist die Phase des passiven Intermodulationsprodukts am
Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts ermittelbar. Die Phase des passiven
Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts ergibt sich aus den Phasen der beiden Anregungssignale am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts, die mittig zu den messbaren Phasen der erzeugten Anregungssignale bei der Erzeugung und den messbaren Phasen der an der Nichtidealität des verteilten Meßobjekts reflektierten Anregungssignale beim Eintreffen im Messgerät liegen.
In einer zweiten Aus führungs form der Erfindung wird die Phase des passiven Intermodulationsprodukts am
Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts nicht ermittelt. Staatdessen wird das verteilte Messobjekt mit zwei rein sinusförmigen Anregungssignalen ein zweites Mal beaufschlagt, deren Frequenzen unterschiedlich zu den Frequenzen bei der ersten Anregung sind und deren
Frequenzabstand aber identisch zum Frequenzabstand bei der ersten Anregung ist. Sind die Phasen der beiden
Anregungssignale bei der Erzeugung und damit auch am
Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts zwischen den beiden Anregungen phasenkohärent, so sind auch die Phasen des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts bei beiden Anregungen zueinander phasenkohärent.
Durch Differenzbildung der gemessenen Phasen der beiden passiven Intermodulationsprodukte, die sich bei den beiden Anregungen des verteilten Messobjekts ergeben, heben sich die Phasen des erzeugten passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts auf und werden für die Berechnung der Laufzeit des passiven Intermodulationsprodukt zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukt und dem Ort des Messgeräts und damit für die Bestimmung des Entstehungsorts nicht benötigt. Für die Ermittlung der Laufzeit des passiven Intermodulationsprodukts vom
Entstehungsort zum Ort des Messgeräts werden die beiden Phasen und die beiden Frequenzen des passiven
Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts bei den beiden Anregungen
benötigt .
Zusätzliche Phasenänderungen des erzeugten passiven
Intermodulationsprodukts aufgrund der Reflexion und der Transmission an der Nichtidealität des verteilten
Messobjekts werden vernachlässigt, wenn die
Frequenzänderungen zwischen den beiden Anregungen minimal sind .
Phasenänderungen der passiven Intermodulationsprodukte zwischen dem Eingangsanschluss des verteilten Messobjekts - im Fall der Reflexion des passiven
Intermodulationsprodukts am Entstehungsort - bzw. dem Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts - im Fall der Transmission des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort - und dem Messgerät werden in einer
Vormessung ermittelt und werden bei der Berechnung der Laufzeit des passiven Intermodulationsprodukts zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts berücksichtigt.
Im Folgenden werden die beiden Aus führungs formen des erfindungsgemäßen Verfahrens und des erfindungsgemäßen Systems zur Ermittlung des Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten in Messobjekten anhand der
Zeichnung im Detail erläutert. Die Figuren der Zeichnung zeigen : Fig. 1 ein Blockdiagramm eines erfindungsgemäßen
Systems zur Ermittlung des Entstehungsortes passiven Intermodulationsprodukten in Messob ekten,
Fig. 2 ein Flussdiagramm einer ersten Aus führungs form des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Ermittlung des Entstehungsortes von passiven
Intermodulationsprodukten in Messobjekten und
Fig. 3 ein Flussdiagramm einer zweiten Aus führungs form des erfindungsgemäßen Verfahrens zur Ermittlung des Entstehungsortes von passiven
Intermodulationsprodukten in Messob ekten.
Bevor das erfindungsgemäße Verfahren und das
erfindungsgemäße System zur Ermittlung des
Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten in Messobjekten anhand der Figuren 1 bis 3 im Detail
erläutert werden, werden im Folgenden die für das
Verständnis der Erfindung erforderlichen mathematischen Grundlagen hergeleitet:
Wird eine Nichtidealität in einem verteilten Messobjekt gleichzeitig von zwei Anregungssignalen x^t) und x 2 (t) gemäß Gleichung (1A) und (1B) angeregt, die jeweils eine rein sinusförmige Signalcharakteristik aufweisen, also CW- Signale (Continuous Wave) darstellen und somit jeweils eine einzige Spektrallinie aufweisen, deren Frequenzen f und f 2 gemäß Gleichung (IC) einen bestimmten
Frequenzabstand Af besitzen, so wird aufgrund des
nichtlinearen Übertragungsverhaltens dieser Nichtidealität gemäß Gleichung (2) u.a. auch ein passives
Intermodulationsprodukt dritter Ordnung x IM3 (t) gemäß
Gleichung (3) produziert. j(t) = e (1A) _ > j(2 f r t+f 1 )
* 2 ( : IB; g-[x(t)] = k 0 +k l [x(t)] + & 2 + x 2 (t)
(IC)
(2;
Die Phase φ Μ Εη(5( dieses passiven Intermodulationsprodukt dritter Ordnung am Entstehungsort ergibt sich folglich gemäß Gleichung (4) .
<PlM 3Entst = 2 -<P 2 -<Pl (4)
Die in einem Messgerät gemessene Phase <p M3Mess eines passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung, das mit den Eingangs- oder Ausgangsanschluss des verteilten
Messobjekts verbunden ist, ergibt sich gemäß Gleichung (5), wenn man voraussetzt, dass die Laufzeit zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Messgerät At ist. f2)- t + 2- ( Pl - (p 2 (5)
Die Laufzeit At des passiven Intermodulationsprodukts zwischen dem Entstehungsort des passiven
Intermodulationsprodukt und dem Messgerät ergibt sich folglich gemäß Gleichung (6) aus der im Messgerät
gemessenen Phase φ ΙΜ3Μ(;:!:! des passiven
Intermodulationsprodukts, der Phase ^ Μ3β10 des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und der Frequenz 1- f-f 2 des passiven Intermodulationsprodukts .
(6)
~ 2-2n-f x -2n-f 2 Die m einer Vormessung ermittelte Phasenänderung
^■Ψ ΐΜΐ ουτ Mess des passiven Intermodulationsproduktes zwischen dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten
Messobjekts und dem Messgerät wird gemäß Gleichung (7) zur Berechnung der Laufzeit At des passiven
Intermodulationsprodukts zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts
berücksichtigt . fo j -—
Die Phase φ ΙΜ3ΕηΜ des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts wird bestimmt, indem die Phasen φ ι und φ 2 der beiden
Anregungssignale x^t) und x 2 (t) am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts gemäß Gleichung (8A) bzw. (8B) als mittige Phasen zwischen den Phasen (p lErzeug bzw. (p 2Er zeug der beiden Anregungssignale χ λ (ί) und x 2 (t) bei der Erzeugung der beiden Anregungssignale x^t) und x 2 (t) und den Phasen (p lMess bzw. <p 2Mess der beiden am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts reflektierten
Anregungssignale x^t) und x 2 (t) bei einer Messung in einem am Ort der Erzeugung positionierten Messgerät gemessen werden .
< p 2 = (p 2Erzeug + ( 8B )
Will man die Bestimmung der Phase (p M3Entst des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts umgehen, so wird das verteilte Messobjekt ein zweites Mal mit zwei rein sinusförmigen
Anregungssignalen x (t) und x 2 {t) gemäß Gleichung (9A) und (9B) beaufschlagt, deren Frequenzen fi und f 2
unterschiedlich zu den Frequenzen f und f 2 der beiden Anregungssignale x^t) und x 2 (t) bei der ersten Anregung des verteilten Messobjekts sind und deren Frequenzabstand Af gemäß Gleichung (10) identisch zum Frequenzabstand Af der Frequenzen f und f 2 der beiden Anregungssignale x^t) und 2( bei der ersten Anregung des verteilten Messobjekt sind . x/0) = β ]{1πίι +φι) ( 9A)
Das bei der zweiten Anregung des verteilten Messobjekts erzeugte passive Intermodulationsprodukt dritter Ordnung x IM3 ' (t) ergibt sich somit gemäß Gleichung (11) .
Die Phase (p M3Entst ' dieses passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung am Entstehungsort bei der zweiten Anregung des verteilten Messobjekts ergibt sich folglich gemäß Gleichung ( 12 ) . < iM E„M = 2 - < 2 -< i (12)
Da Phasenkohärenz zwischen den Phasen φ ι und φ 2 der beiden Anregungssignale vorausgesetzt ist, ist die Phase des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts auch bei Änderung der Frequenzen der beiden Anregungssignale gemäß Gleichung (13) konstant.
VatZEntst = 2 - <P 2 - <P 1 = <Pat3En t '= 2 <Pl ~ <IK (13)
Die Phase φ ΙΜ3Μ( , ^ des passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung bei der zweiten Anregung des verteilten Messobjekts in einem Messgerät, das sich am selben Ort bei der ersten Anregung des verteilten Messobjekts
befindet, ergibt sich gemäß Gleichung (14) . Hierbei gilt, dass die Laufzeit At des passiven Intermodulationsprodukts zwischen dem Entstehungsort des passiven
Intermodulationsprodukts und dem Messgerät bei der zweiten Anregung des Messobjekts aufgrund der identischen Distanz zwischen Entstehungsort und Messgerät der Laufzeit At des passiven Intermodulationsprodukts zwischen dem
Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Messgerät bei der ersten Anregung des Messobjekts entspricht .
JM3Mess ' = (2 · 2π · /ι ~2π · f 2 ) - Αί + 2 - φ λ ' -φ 2 (14;
Bildet man die Differenz zwischen der im Messgerät
gemessenen Phase <p M3Mess des passiven
Intermodulationsprodukts dritter Ordnung bei der ersten Anregung des verteilten Messobjekts gemäß Gleichung (5) und der im Messgerät gemessenen Phase <p M3Mess ' des passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung bei der zweiten Anregung des verteilten Messobjekts gemäß Gleichung (14) und berücksichtigt man die Phasenkohärenz-Bedingung gemäß Gleichung (13), so ergibt sich nach mathematischer
Umformung die Laufzeit At des passiven
Intermodulationsprodukts zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Messgerät gemäß Gleichung (15), die keine Terme für die Phase des passiven Intermodulationsprodukts am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts beinhaltet .
^ < PlM3Mess ~ < PlM3Mess (15)
" (2 · 2nf x - 2π/ 2 ) -(2 · 2π/ ι -2π/ 2 ' )
Die in einer Vormessung ermittelten Phasenänderungen
<PlM3DIJT Mess bzw. Αφ ΙΜ 3DUT Mess des passiven
Intermodulationsproduktes zwischen dem Eingangs- bzw.
Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts und dem
Messgerät bei den beiden Anregungen, die aufgrund der unterschiedlichen Frequenzen 2 - f - f 2 bzw. 2·/ 1 '-/ 2 ' der beiden Anregungen unterschiedlich sind, werden gemäß
Gleichung (16) zur Berechnung der Laufzeit At des passiven Intermodulationsprodukts zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts
berücksichtigt .
- (<PlM Mess ~ ( PlM3DUT Mess ')
At = = = (16)
(2 · 2 f - 2π/ 2 )- (2 · In -lnfö
Bei Kenntnis der Topologie des verteilten Messobjekts kann aus der berechneten Laufzeit At des passiven
Intermodulationsproduktes zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukt und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts auf den
Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts innerhalb des verteilten Messobjekts geschlossen werden.
Im Folgenden wird die erste Aus führungs form des
erfindungsgemäßen Verfahrens zur Ermittlung des
Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten in Messobjekten anhand des Flussdiagramms in Fig. 2 und das erfindungsgemäße System zur Ermittlung des
Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten in Messobjekten anhand des Blockdiagramms in Fig. 1
erläutert .
In einem ersten Verfahrensschritt S10 wird in einer
Vormessung die Phasenänderung Αφ ΙΜ3θυτ Mess des an einem Entstehungsort innerhalb des verteilten Messobjekts (DUT: device under test) 1 erzeugten passiven
Intermodulationsprodukts vom Eingangsanschluss 2 oder vom Ausgangsanschluss 3 des verteilten Meßobjekts 1 zum Mess- Eingang 4 eines Messgeräts 5, bevorzugt eines vektoriellen Netzwerkanalysators , bei der Frequenz 1 - f - f 2 des passiven Intermodulationsprodukts ermittelt. Hierzu werden in einer im vektoriellen Netzwerkanalysator 5 integrierten
Signalquelle 16 zwei rein sinusförmige Anregungssignale j(t) und x 2 (t) mit einer Spektrallinie bei der Frequenz f und f 2 erzeugt und an den beiden Ausgängen 6 und 7 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 ausgegeben.
Nach Verstärkung der beiden Anregungssignale x(t und x 2 (t) in jeweils einem externen Signalverstärker 8 und 9 werden die beiden Anregungssignale x^t) und x 2 (t) in einem
Signalkombinierer 10 zu einem einzigen Anregungssignal zusammengefügt. In einem nachfolgenden ersten Duplexfilter 11 wird das erzeugte Anregungssignal zum Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 geleitet, während im
Wechsel dazu das am Entstehungsort des passiven
Intermodulationsprodukts innerhalb des verteilten
Messobjekts 1 reflektierte passive Intermodulationsprodukt einem ersten Eingang 12 eines Schalters 12 zugeführt wird, dessen Ausgang mit dem Mess-Eingang 4 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 verbunden ist.
Leitet das erste Duplexfilter 11 das reflektierte passive Intermodulationsprodukt zu einem ersten Eingang 14 eines Schalters 12 und schaltet der Schalter 12 seinen mit dem ersten Duplexfilter 11 verbundenen ersten Eingang 14 an seinen Ausgang durch, so kann in der Vormessung die
Phasenänderung Αφ ΙΜ3θυτ Mess des reflektierten
Intermodulationsprodukts jeweils bei der Frequenz 1- f-f 2 des passiven Intermodulationsprodukts vom
Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 zum Mess- Eingang 4 des Messgeräts 5 bestimmt werden, indem die Phase des reflektierten passiven Intermodulationsprodukts am Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 und gleichzeitig am Mess-Eingang 4 des vektoriellen
Netzwerkanalysator 5 ermittelt wird.
Die Messung der Phasenänderung Αφ ΙΜ3θυτ Mess des
transmittierten passiven Intermodulationsprodukts vom Ausgangs-Anschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 zum Mess-Eingang 4 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 wird bestimmt, indem das mit dem Ausgangs-Anschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 verbundene zweite Duplexfilter 13 den Ausgangs-Anschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 mit einem zweiten Eingang 15 des Schalters 12 und der Schalter 12 seinen zweiten Eingang 15 mit dem Mess-Eingang 4 verbindet. Zur Messung der Phasenänderung Αφ ΙΜ3θυτ Mess des transmittierten passiven Intermodulationsprodukts zwischen dem Ausgangsanschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 und dem Mess-Eingang 4 des vektoriellen Net zwerkanalysators 5 wird der Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 mit zwei rein sinusförmigen Anregungssignalen x^t) und x 2 (t) mit jeweils einer Spektrallinie bei der Frequenz f und f 2 beaufschlagt. Im Fall der Messung des reflektierten passiven Intermodulationsprodukts ist der
Ausgangsanschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 über das zweite Duplexfilter 13 mit der Anpass-Impedanz 14
verbunden.
Im nächsten Verfahrensschritt S20 wird der
Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 mit zwei im vektoriellen Net zwerkanalysator 5 erzeugten
Anregungssignalen x^t) und x 2 (t) gemäß Gleichung (1A) und (1B) angeregt, die jeweils eine einzige Spektrallinie aufweisen, deren Frequenzen f und f 2 gemäß Gleichung (IC) einen bestimmten Frequenzabstand Af besitzen. Im darauffolgenden Verfahrensschritt S30 werden die Phasen ViErzeug bzw. (PiEneug der beiden Aiiregungs s igna1e x^t) und x 2 (t) bei der Erzeugung der beiden Anregungssignale x^t) und x 2 (t) und die Phasen (p lMess bzw. <p 2Mess der beiden am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts reflektierten
Anregungssignale x^t) und x 2 (t) am identischen Messort, nämlich am Ort der Signalerzeugung, gemessen, um mit diesen gemessenen Phasen (p lErzeug bzw. (p 2Erzeug und (p mess bzw. ViMess gemäß Gleichung (8A) und (8B) die Phasen φ ι und φ 2 der beiden Anregungssignale am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts zu berechnen. Mit den Phasen φ ι und φ 2 der beiden Anregungssignale am Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts wird die Phase <p M3Entst des passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung am Entstehungsort gemäß Gleichung (4) berechnet.
Im nächsten Verfahrensschritt S40 wird die Phase <p M3Mess des passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung im vektoriellen Netzwerkanalysator 5, das mit den Eingangsoder Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts 1 verbunden ist, gemessen.
Im darauffolgenden Verfahrensschritt S50 wird die Laufzeit At des passiven Intermodulationsproduktes zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten
Messobjekts gemäß Gleichung (7) berechnet. Hierzu wird die im vektoriellen Netzwerkanalysator 5 gemessene Phase
ViMiMess des passiven Intermodulationsprodukts, die
berechnete Phase (p M3Entst des passiven
Intermodulationsprodukts am Entstehungsort, die
ermittelten Phasenänderung Αφ ΙΜ3θυτ Mess des reflektierten passiven Intermodulationsprodukts vom Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 zum Mess-Eingang 4 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 bzw. des
transmittierten passiven Intermodulationsprodukts vom Ausgangs-Anschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 zum Mess-Eingang 4 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 und die Frequenz 1- f-f 2 des passiven Intermodulationsprodukts verwendet .
Schließlich wird im abschließenden Verfahrensschritt S60 in einer im vektoriellen Netzwerkanalysator 5 integrierten Berechnungseinheit 17 der Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts innerhalb des verteilten
Messobjekts 1 anhand der bekannten Topologie des
verteilten Messobjekts 1 und der im vorherigen
Verfahrensschritt S60 berechneten Laufzeit At des passiven Intermodulationsproduktes zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts ermittelt. Im Folgenden wird die zweite Aus führungs form des
erfindungsgemäßen Verfahrens zur Ermittlung des
Entstehungsortes von passiven Intermodulationsprodukten in Messobjekten anhand des Flussdiagramms in Fig. 3 in
Kombination mit dem erfindungsgemäßen System zur
Ermittlung des Entstehungsortes von passiven
Intermodulationsprodukten in Messobjekten anhand des
Blockdiagramms in Fig. 1 erläutert.
Die Vormessung im ersten Verfahrensschritt S100 entspricht im Wesentlichen der Vormessung des Verfahrensschritts S10 der ersten Aus führungs form des erfindungsgemäßen
Verfahrens. Da das verteilte Messobjekt 1 in zwei
Messungen mit Anregungssignalen mit jeweils
unterschiedlichen Frequenzen f und f 2 bzw. und f 2 beaufschlagt wird, weisen die dabei erzeugten passiven Intermodulationsprodukte jeweils unterschiedliche
Frequenzen 1- f- f 2 und 2-f^-f 2 auf, die zu jeweils
unterschiedlichen Phasenänderungen Αφ ΙΜ3θυτ Mess und
^■Ψ ΐΜΐ ουτ Mess des passiven Intermodulationsproduktes zwischen dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten
Messobjekts und dem Messgerät führen. Insofern sind in der zweiten Aus führungs form des erfindungsgemäßen Verfahrens in zwei Messungen jeweils die Phasenänderungen Αφ ΙΜ3θυτ Mess und Αφ ΙΜ3θυτ Mess ' des passiven Intermodulationsproduktes zwischen dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des
verteilten Messobjekts und dem Messgerät bei Anregung des verteilten Messobjekts 1 mit in einer Signalquelle 16 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 erzeugten
Anregungssignalen bei den jeweiligen Frequenzen f und f 2 bzw. f i und f 2 durchzuführen.
Der nächste Verfahrensschritt S110 des erfindungsgemäßen Verfahrens beinhaltet in Analogie zum Verfahrensschritt S20 der ersten Aus führungs form des erfindungsgemäßen
Verfahrens eine erste Anregung des verteilten Meßobjekts 1 mit in der Signalquelle 16 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 erzeugten Anregungssignalen χ γ (ί) und x 2 (t) bei den Frequenzen f und f 2 .
Der nächste Verfahrensschritt S120 des erfindungsgemäßen Verfahrens entspricht dem Verfahrensschritt S30 der ersten Aus führungs form des erfindungsgemäßen Verfahrens und beinhaltet die Messung der Phase <p M3Mess des reflektierten oder transmittierten passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung im vektoriellen Netzwerkanalysator 5 bei der ersten Anregung des verteilten Messobjekts 1.
Im nächsten Verfahrensschritt S130 des erfindungsgemäßen Verfahrens wird das verteilte Messobjekt 1 ein zweites Mal mit den in der Signalquelle 16 des vektoriellen
Netzwerkanalysators 5 erzeugten Anregungssignalen x(t) und x 2 '{t) mit Spektrallinien bei den Frequenzen f und f 2 ' gemäß Gleichung (9A) und (9B) beaufschlagt. Hierbei ist zu beachten, dass während des Frequenzumschaltens von der Frequenz f zur Frequenz f und von der Frequenz f 2 zur Frequenz f 2 ' die Phasenkohärenz aufrecht erhalten bleibt, es also zu keinen Phasensprüngen während des
Frequenzumschaltens kommt. Dies lässt sich z.B. mithilfe des in der DE 10 2006 017 018 AI beschriebenen Secum- Trahenz-Verfahrens realisieren. Jene Anmeldung wird hiermit durch Referenzierung in die vorliegende Anmeldung einbezogen .
Im darauffolgenden Verfahrensschritt S140 wird die Phase ViMiMess des reflektierten oder transmittierten passiven Intermodulationsprodukts dritter Ordnung im vektoriellen Netzwerkanalysator 5 bei der zweiten Anregung des
verteilten Messobjekts 1 gemessen.
Im darauffolgenden Verfahrensschritt S150 wird in einer im vektoriellen Netzwerkanalysator 5 integrierten
Berechnungseinheit 17 die Laufzeit At des passiven
Intermodulationsproduktes zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten Messobjekts gemäß
Gleichung (16) berechnet. Hierzu werden die im
vektoriellen Netzwerkanalysator 5 bei den beiden
Anregungen des verteilten Meßobjekts 1 jeweils gemessenen Phasen q> MZMess und q> MZMess ' des passiven
Intermodulationsprodukts, die für die beiden Anregungen des verteilten Meßobjekts 1 ermittelten Phasenänderung <PlM3DIJT Mess und Αφ ΙΜ 3DUT Mess des reflektierten passiven Intermodulationsprodukts vom Eingangsanschluss 2 des verteilten Messobjekts 1 zum Mess-Eingang 4 des
vektoriellen Netzwerkanalysators 5 bzw. des
transmittierten passiven Intermodulationsprodukts vom Ausgangs-Anschluss 3 des verteilten Messobjekts 1 zum Mess-Eingang 4 des vektoriellen Netzwerkanalysators 5 und die Frequenzen 1- f-f 2 und 2-f —f 2 ' des passiven
Intermodulationsprodukts bei den beiden Anregungen des verteilten Meßobjekts 1 verwendet.
Schließlich wird im abschließenden Verfahrensschritt S160 der Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts innerhalb des verteilten Messobjekts 1 anhand der
bekannten Topologie des verteilten Messobjekts 1 und der im vorherigen Verfahrensschritt S150 berechneten Laufzeit At des passiven Intermodulationsproduktes zwischen dem Entstehungsort des passiven Intermodulationsprodukts und dem Eingangs- bzw. Ausgangsanschluss des verteilten
Messobjekts ermittelt.
Die Erfindung ist nicht auf die dargestellten
Aus führungs formen beschränkt. Von der Erfindung sind anstelle von vektoriellen Netzwerkanalysatoren auch ander phasenmesssende Messgeräte mit abgedeckt.
Next Patent: MULTIFUNCTION SENSOR AS POP MICROWAVE PCB