Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren zur Messung der Rauhigkeit einer Materialoberfläche nach dem Gattungsbegriff des Patentanspruches 1.

Ein derartiges Verfahren ist aus der CH-PS 552 197 bekannt. Dort wird unter anderem vorgeschlagen, eine Reihe von Detektoren entlang der Hauptachse der Streulichtellipse anzuordnen, die entsteht, wenn die Materialoberfläche eine gewisse Rauhigkeit aufweist und mit einem parallelen Lichtstrahlbündel unter einem vorgegebenen Winkel beleuchtet wird. Vorzugsweise wird dort in der Nähe des Glanzwinkels die Halbwertsbreite des Streulicht¬ kegels gemessen und als Maß für die Rauhigkeit der untersuchten Oberfläche benutzt. Anstatt der Auswertung mit einer Detektor¬ zeile ist dort ferner die Auswertung mit einer Fernsehkamera beschrieben.

Die Bewertung der Rauhigkeit ist von erheblicher Bedeutung bei der Herstellung von Papier, da die Rauh-. keit oder umgekehrt die Glätte eine Aussage über die Bedruckbarι?eit des Papiers ergibt.

Bei der bekannten Anordnung mufi dafür Sorge getragen werden, daß am Ort der Beleuchtung der Materialbahn durch das Lichtstrahlen¬ bündel diese so geführt ist, daß sich durch die Bewegung keine

allzugroßen örtlichen Änderungen der Ebene, in der die

Materialbahn verläuft, ergeben, um zu vermeiden, daß die

Streulichtellipse aus dem Abtastfeld des Detektors herausläuft.

Das gleiche Problem ergibt sich, wenn die zu messende Oberfläche zu rauh ist, so daß die Streulichtverteilung in der Hauptachse der Streulichtellipse das durch den Zeilendetektor bzw. die

Fernsehkamera vorgegebene Abtastfeld überschreitet.

Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, das durch die bekannte Vorrichtung ausgeübte Verfahren so auszugestalten, daß auch noch die Rauhigkeit von sehr rauhen Oberflächen erfaßt werden kann. Die Lösung dieser Aufgabe gelingt gemäß den kennzeichnenden Merkmalen des Patentanspruches 1. Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen des erfindungsgemäßen Verfahrens ergeben sich aus den abhängigen Ansprüchen.

Anhand von in den beiliegenden Zeichnungen dargestellten Ausführungsbeispielen sei im folgenden die Erfindung näher erläutert. Es zeigen:

Fig. 1 die prinzipielle Meßanordnung; und Fig. 2 eine schematische Skizze zur Erläuterung des erfindungsgemäßen Verfahrens.

Gemäß Fig. 1 wird mit einem in einem Teleskop 10 aufgeweiteten kollimierten Lichtstrahlenbündel 12 die zu untersuchende

Oberfläche 14 beleuchtet. Die von der rauhen Oberfläche 14 reflektierten Strahlen 16 werden über eine Optik 18 auf einen Empfänger 20 geworfen, der aus einer zeilenförmigen oder flächenhaften Detektoranordnung bestehen kann und insbesondere durch eine Zeilen- oder Flächenkamera (Vidikon oder CCD) vorgegeben ist.

Gemäß Fig. 2 ist erkennbar, daß eine Zeilenkamera 20', wenn sie in der durch den Pfeil angedeuteten Bewegungsrichtung der Oberfläche 14 ausgerichtet ist, die Hauptachse a der Streulichtellipse nicht mehr vollständig erfaßt, wenn das Material eine große Rauhigkeit aufweist und dementsprechend die Steuellipse aufgeweitet wird. Durch Drehung der Zeilenkamera 20' gegenüber der Hauptachse a um einen vorgegebenen Winkel kann man erreichen, daß diese die Streulichtellipse wieder erfaßt. Vorzugsweise erfolgt eine Drehung der Zeilenkamera 20* derart, daß sie mit der Nebenachse b der Streulichtellipse zusammen¬ fällt. Die Ermittlung der H?lbwertsbreite als ein Maß für die Rauhigkeit der Oberfläche kann dann bezüglich der Nebenachse b der Streulichtellipse durchgeführt werden.

Ferner ist aus Fig. 2 erkennbar, daß bei Verwendung einer Flächenkamera 20" diese die Streulichtellipse bezüglich der Nebenachse b noch auswerten kann, wenn man die Sensorelemente der Flächenkamera für eine Zeilenabtastung parallel zur Bewegungsrichtung der Oberfläche 14 zusammenfaßt, wie dies durch einige eingezeichnete Abtastzeilen angedeutet ist.