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Title:
自動分析装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2016139997
Kind Code:
A1
Abstract:
挿入機構の劣化に伴う分注異常や分析結果異常の発生を抑制しつつ、挿入機構の交換を行うことができる自動分析装置を提供する。閉じられた容器の蓋を貫通させて該容器中に挿入する挿入機構と、複数の該容器に跨って前記挿入機構が挿入されることによる前記挿入機構の負荷の累計に相当する挿入履歴数と、前記挿入履歴数の許容値である許容挿入履歴数と、を記憶する記憶部と、前記挿入履歴数と前記許容挿入履歴数とを比較し、前記挿入履歴数が前記許容挿入履歴数に達した場合にオペレータに報知する制御を行う制御部と、を備えた。

Inventors:
Koichi Nishimura
Takayama Yoko
Application Number:
JP2017503375A
Publication Date:
December 21, 2017
Filing Date:
February 01, 2016
Export Citation:
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Assignee:
Hitachi High-Technologies Corporation
International Classes:
G01N35/10; G01N35/00
Domestic Patent References:
JP2014089129A2014-05-15
JP2011117814A2011-06-16
JP2012021871A2012-02-02
JP2008051543A2008-03-06
JP2012117916A2012-06-21
JP2008180640A2008-08-07
JP6215018B22017-10-18
Attorney, Agent or Firm:
Polaire Patent Business Corporation



 
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