Title:
光ファイバの劣化評価装置および劣化評価方法
Document Type and Number:
Japanese Patent JP2024062168
Kind Code:
A
Abstract:
【課題】 光ファイバを水が存在する環境下で使用した場合の劣化状態を評価することができる光ファイバの劣化評価装置および劣化評価方法を提供する。【解決手段】 光ファイバの劣化評価装置１０は、１０００ｎｍ以上１７００ｎｍ以下の波長範囲の光を連続的に照射する光源２０と、光源２０から照射される該光が入射され、水が存在する水存在環境下に保持される試験区間３１を有する測定対象の光ファイバ３０と、光ファイバ３０を透過した透過光の光スペクトルを測定する光スペクトラムアナライザ４０と、光源２０と光スペクトラムアナライザ４０との間に配置され、該水存在環境が内部に形成される容器５０を備え、容器５０の内部に光ファイバ３０の試験区間３１が配置される環境模擬装置５Ａと、を備え、得られた光スペクトルの経時変化に基づいて、光ファイバ３０の劣化状態を評価する。【選択図】 図１
Inventors:
Satoshi Matsuda
Satoshi Kitaoka
Junzo Kasahara
Satoshi Kitaoka
Junzo Kasahara
Application Number:
JP2022170000A
Publication Date:
May 09, 2024
Filing Date:
October 24, 2022
Export Citation:
Assignee:
Fine Ceramics Center
International Classes:
G01M11/00; G01N17/00
Attorney, Agent or Firm:
Shindo element
Michiaki Higashiguchi
Kudo Yuki
Michiaki Higashiguchi
Kudo Yuki
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