Login| Sign Up| Help| Contact|

Patent Searching and Data


Title:
A TEST SOCKET AND A FABRICATION METHOD THEREFOR
Document Type and Number:
WIPO Patent Application WO/2009/136721
Kind Code:
A2
Abstract:
The present invention relates to a test socket and a fabrication method therefor. In particular, the present invention relates to a test socket for electrically connecting terminals for an electric component and a pad of a testing device, and a fabrication method therefor, the test socket comprising: a housing with a multiplicity of longitudinally extending through holes formed in counter positions of the terminals for the electronic component; and a conductive member joined with the housing and electrically connected to the terminals for the electronic component and to the pad of the testing device, wherein the conductive member includes: a multiplicity of first conductors arranged, on the upper side of the housing, in counter positions of the through holes, while remaining in fixed positions with respect to each other by means of a first film; a multiplicity of second conductors arranged, on the lower side of the housing, in counter positions of the through holes, while remaining in fixed positions with respect to each other by means of a second film bonded to the housing; and electrically connected members which are inserted into the through holes, each having an upper end contacting the lower surface of the first conductor and a lower end contacting the top surface of the second conductor. Here, the first conductors and the electrically connected members are joined together by soldering, and the second conductors and the electrically-connected members are also joined together by soldering.

Inventors:
LEE JAE HAK (KR)
Application Number:
PCT/KR2009/002360
Publication Date:
November 12, 2009
Filing Date:
May 06, 2009
Export Citation:
Click for automatic bibliography generation   Help
Assignee:
ISC TECHNOLOGY CO LTD (KR)
LEE JAE HAK (KR)
International Classes:
H01R33/76
Foreign References:
JP2006194620A2006-07-27
JP2003084047A2003-03-19
KR20060062824A2006-06-12
Attorney, Agent or Firm:
Y.P. LEE, MOCK & PARTNERS (KR)
리앤목 특허법인 (KR)
Download PDF:
Claims:
전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트용 소켓에 있어서,

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 상하방향으로 다수의 관통공이 형성된 하우징;

상기 하우징의 상측에 상기 관통공과 대응되는 위치에 다수개가 배열되며, 상기 하우징과 분리된 제1필름에 의하여 서로 간의 위치가 일정하게 유지되는 다수의 제1도전부;

상기 하우징의 하측에 상기 관통공과 대응되는 위치에 다수개가 배열되며, 상기 하우징에 결합되는 제2필름에 의하여 서로 간의 위치가 일정하게 유지되는 다수의 제2도전부; 및

상기 관통공에 삽입되고, 상단은 상기 제1도전부의 하면과 접촉되고 그 하단은 상기 제2도전부의 상면과 접촉되는 통전부재를 포함하되,

상기 제1도전부와 상기 통전부재는 솔더링 접합되고, 상기 제2도전부와 통전부재도 솔더링 접합되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 있어서,

상기 제1도전부 및 제2도전부의 표면에는 다이아몬드 입자가 형성되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 있어서,

상기 통전부재는 스프링인 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 있어서,

상기 관통공은 상하방향으로 동일한 직경을 가지는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 있어서,

상기 제2필름은 접착제에 의하여 상기 하우징의 하면에 접착되어 결합된 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 있어서,

상기 제1도전부 및 제2도전부는 원형단면으로 이루어진 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 있어서,

상기 제1필름 및 제2필름은 내열성이 우수한 폴리아미드이미드 소재로 이루어진 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓.

제1항에 따른 테스트용 소켓의 제작방법에 있어서,

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제2도전부가 형성된 제2필름을 제작하는 제작단계;

통전부재의 하측에 상기 제2도전부를 배치하는 배치단계;

상기 통전부재와 상기 제2도전부를 서로 솔더링접합하는 단계;

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제1도전부가 형성된 제1필름을 제작하는 단계;

상기 통전부재의 상측에 상기 제1도전부를 배치하는 단계; 및

상기 제1도전부와 상기 통전부재를 서로 솔더링접합하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제1항에 따른 테스트용 소켓의 제작방법에 있어서,

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제1도전부가 형성된 제1필름을 제작하는 단계;

상기 통전부재의 상측에 상기 제1도전부를 배치하는 단계;

상기 제1도전부와 상기 통전부재를 서로 솔더링접합하는 단계;

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제2도전부가 형성된 제2필름을 제작하는 단계;

통전부재의 하측에 상기 제2도전부를 배치하는 단계; 및

통전부재와 상기 제2도전부를 서로 솔더링접합하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제1항에 따른 테스트용 소켓의 제작방법에 있어서,

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제2도전부가 형성된 제2필름을 제작하고, 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제1도전부가 형성된 제1필름을 제작하는 단계;

상기 제2도전부를 통전부재의 하측에 배치함과 동시에 상기 제1도전부를 상기 통전부재의 상측에 배치하는 단계; 및

상기 제1도전부와 상기 통전부재 및, 상기 제2도전부재와 상기 통전부재를 서로 솔더링접합하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제8항 내지 제10항 중 어느 한 항에 있어서,

솔더링접합하는 단계 이전에는,

상기 제2도전부의 표면에 솔더페이스트를 도포하는 단계가 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제11항에 있어서,

상기 도포하는 단계에는,

상기 도전부와 대응되는 위치에 노출공이 형성된 마스크 프레임을 상기 필름의 상측에 배치하는 단계; 및

상기 노출공에 상기 솔더페이스트를 충진하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제11항에 있어서,

상기 도포하는 단계와 상기 솔더링접합하는 단계 사이에는, 도포된 상기 솔더페이스트를 가열하여 반구형상으로 녹이는 단계; 및 가열된 상기 솔더페이스트를 냉각시키는 단계가 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제11항에 있어서,

상기 배치하는 단계에는,

상기 제2도전부를 연결하는 제2필름의 연결부분을 제외한 제2필름의 가장자리부분을 하우징에 접착제 또는 접착테이프에 의하여 붙이는 단계가 포함되어 있는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제11항에 있어서,

상기 솔더링접합하는 단계에는,

상기 솔더페이스트를 가열하여 용융된 상태를 만들고, 상기 용융된 솔더페이스트의 내부에 통전부재의 일단이 함입되도록 하는 단계; 및 상기 솔더페이스트를 냉각시키는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

제11항에 있어서,

상기 노출공에 충진되는 솔더페이스트는, 주석, 은 및 구리소재 또는 이들 중 적어도 둘 이상으로 구성된 합금으로 이루어진 것을 특징으로 하는 테스트용 소켓의 제작방법.

Description:
테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓의 제작방법 기술분야

본 발명은 테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓의 제작방법에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 전기부품의 단자와의 접촉이 용이하고 제작이 편리한 테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓의 제작방법에 관한 것이다.

배경기술

일반적으로 테스트용 소켓은 전기부품의 불량을 판정하기 위하여 제조가 완료된 전기부품의 단락여부를 판단하게 된다. 단락여부를 판단하기 위해서 전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결시키는 테스트용 소켓이 사용된다. 이러한 테스트용 소켓은 전기부품과 테스트장치의 사이에 설치되며, 그 단자 및 패드와 각각 접촉될 수 있도록 설계된다.

종래기술에 따른 테스트용 소켓(100)은 도 1에 도시한 바와 같이, 상부하우징(121)과 하부하우징(122)으로 이루어지는 하우징(120)과, 그 하우징(120) 내에 배치되며 전기부품(140)의 단자(130)와 테스트장치(150)의 패드(151)를 전기적으로 연결하기 위한 통전부재(110)로 이루어진다. 상기 상부하우징(121)과, 하부하우징(122)에는 상하방향으로 관통된 관통공(121a, 122a)가 형성되고, 상기 관통공(121a, 122a)의 내주면에는 소정의 돌출턱(121b, 122b)이 형성된다. 상기 통전부재(110)는 상측에 형성되는 도전핀(111)과, 상기 도전핀의 하측에 배치되는 스프링(112)로 이루어진다. 상기 도전핀(111)은 상기 상부하우징(121)의 관통공(121a)내에 삽입되며, 그 도전핀(111)의 외주면에는 상기 돌출턱(121b)에 걸리는 걸림턱(111a)이 형성된다. 상기 도전핀(111)이 그 관통공(121a) 내에 삽입되었을 때 상기 걸림턱(111a)이 돌출턱(121b)에 걸림에 따라 그 관통공(121a)의 외부로 빠져나가지 못한다. 한편, 상기 스프링(112)에는 상기 하부하부징(122)의 돌출턱(122b)과 대응되는 걸림턱부분(112a)이 형성되어 있어, 그 스프링(112)이 관통공(122a)의 하측으로 빠져나가지 못한다.

이러한 종래기술에 따른 테스트용 소켓은 테스트장치에 탑재된 상태에서, 핸들러(130)에 의하여 운반되어오는 전기부품(140)에 접속하게 된다. 구체적으로는 핸들러(130)에 의하여 운반되어 오는 전기부품(140)이 하강하여 그 전기부품(140)의 단자(141)가 상기 도전핀(111)의 상단과 접촉하게 되었을 때, 그 전기부품(140)을 누르는 가압수단(미도시)에 의하여 전기부품(140)이 하측으로 눌리게 되면 도전핀(111), 스프링(112), 테스트장치(150)의 패드(151)가 서로 전기적으로 연결된다.

이러한 종래기술에 따른 테스트용 소켓은 하우징의 관통공 내에 마련된 통전부재가 외부로 빠져나가지 않게 하기 위하여, 하우징을 상부하우징과 하부하우징으로 분리구성하고, 그 상부하우징과 하부하우징에는 돌출턱이 형성되는 관통공을 뚫어야 하는 등 복잡한 기계가공을 수행하여야 했다. 이러한 복잡한 기계가공은 테스트용 소켓의 전체적인 비용을 증대시키는 원인이 된다. 또한, 전기부품의 단자에 뭍어있는 이물질이 상기 도전핀 주변에 떨어지는 경우에는 전체적인 테스트용 소켓의 수명을 단축시키게 하는 단점도 있다.

도 2는 도 1과는 다른 종래기술에 따른 테스트용 소켓에 대한 도면이며, 도 3은 도 2의 작동도이다. 도 2 및 도 3에 언급된 도면에 기재된 테스트용 소켓은 상부하우징(121)과 하부하우징(122)으로 이루어지는 하우징(120)과, 상기 전기부품(140)과 테스트장치(150)를 서로 전기적으로 연결하기 위한 통전부재(110)로 이루어진다. 상기 통전부재(110)는 상기 하우징(120)의 상측에 배치되며 필름(113)에 의하여 서로 연결된 도전부(114)와, 상기 제1도전부(114)의 하측에 배치되는 스프링(115)으로 이루어진다. 상기 상부하우징(121)과 하부하우징(122)에는 각각 전기부품(140)의 단자(141)와 대응되는 위치에 관통공(121a, 122a)이 형성된다. 또한, 상기 도전부(114)는 전기부품(140)의 단자(141)와 접촉가능하고, 상기 스프링(115)의 하단은 테스트장치(150)의 패드(151)와 접촉가능하다.

이러한 도 2에 따른 테스트용 소켓은 필름에 의하여 전기부품의 단자와 접촉하는 도전부가 필름에 의하여 서로 연결되어 있으므로 전기부품의 단자에 뭍은 이물질이 하우징 또는 관통공 내로 들어갈 염려가 없으며, 도전부의 좌우위치가 일정하게 유지되며, 전기부품의 단자와 접속될 도전부의 단면적을 늘리면 상기 전기부품의 단자와 접촉될 표면적이 커져 쉽게 전기적 접속을 할 수 있는 장점이 있다. 그러나, 이러한 필름이 형성된 테스트용 소켓은 전기부품을 운반하는 핸들러의 두께가 증대되면 도 3에 도시된 바와 같이 그 핸들러의 하단이 필름에 접촉될 염려가 있게 된다. 즉, 핸들러의 두께에 따라서 상기 핸들러의 하단이 필름에 접촉됨에 따라 전기부품의 단자와 테스트용 소켓의 상단이 서로 접촉되지 못하는 경우까지 있게 된다. 따라서, 이러한 도 2에 도시한 테스트용 소켓을 이용하는 경우에는 사용할 수 있는 핸들러가 제한적일 수 밖에 없는 문제점이 있다.

또한, 도 2에 도시한 테스트용 소켓에서도 하우징이 상부하우징과 하부하우징으로 이루어지기 때문에, 하우징을 가공하기 위한 비용이 증대되고 이는 전체적인 테스트용 소켓의 비용이 증가되는 주요원인이 된다.

도면의 간단한 설명

도 1은 종래기술에 따른 테스트용 소켓을 나타내는 도면.

도 2는 다른 종래기술에 따른 테스트용 소켓을 나타내는 도면.

도 3은 도 2의 작동도면.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트용 소켓을 나타내는 도면.

도 5는 도 4의 작동도면.

도 6 및 도 7은 도 4에 따른 테스트용 소켓을 제작하는 단계를 나타내는 도면.

기술적 과제

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 다양한 종류의 핸들러를 사용할 수 있어 효과적이며, 테스트용 소켓에 사용되는 하우징을 제작하는 비용이 절약되는 테스트용 소켓 및 그 테스트용 소켓의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.

기술적 해결방법

상술한 목적을 해결하기 위한 본 발명에 따른 테스트용 소켓은 전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트용 소켓에 있어서,

상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 상하방향으로 다수의 관통공이 형성된 하우징; 및 상기 하우징과 결합되어 상기 전기부품의 단자 및 상기 테스트장치의 패드와 전기적으로 연결되는 전도성부재로 이루어지되,

상기 전도성부재는: 상기 하우징의 상측에 상기 관통공과 대응되는 위치에 다수개가 배열되며, 제1필름에 의하여 서로 간의 위치가 일정하게 유지되는 다수의 제1도전부; 상기 하우징의 하측에 상기 관통공과 대응되는 위치에 다수개가 배열되며, 상기 하우징에 결합되는 제2필름에 의하여 서로 간의 위치가 일정하게 유지되는 다수의 제2도전부; 및 상기 관통공에 삽입되고, 상단은 상기 제1도전부의 하면과 접촉되고 그 하단은 상기 제2도전부의 상면과 접촉되는 통전부재를 포함하고, 상기 제1도전부와 상기 통전부재는 솔더링 접합되고, 상기 제2도전부와 통전부재도 솔더링 접합되어 있다.

상기 테스트용 소켓에서, 상기 제1도전부 및 제2도전부의 표면에는 다이아몬드 분말이 형성되어 있는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓에서, 상기 통전부재는 스프링인 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓에서, 상기 관통공은 상하방향으로 동일한 직경을 가지는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓에서, 상기 제2필름은 접착제에 의하여 상기 하우징의 하면에 접착되어 결합된 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓에서, 상기 제1도전부 및 제2도전부는 상기 관통공의 내경보다 큰 직경을 가지는 원형단면으로 이루어진 것이 바람직하다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 테스트용 소켓의 제작방법은, 전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트용 소켓의 제작방법에 있어서, 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제2도전부가 형성된 제2필름을 제작하는 제작단계; 통전부재의 하측에 상기 제2도전부를 배치하는 배치단계; 상기 통전부재와 상기 제2도전부를 서로 솔더링접합하는 단계; 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제1도전부가 형성된 제1필름을 제작하는 단계; 상기 통전부재의 상측에 상기 제1도전부를 배치하는 단계; 및 상기 제1도전부와 상기 통전부재를 서로 솔더링접합하는 단계;를 포함한다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 테스트용 소켓의 제작방법은, 전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트용 소켓의 제작방법에 있어서, 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제1도전부가 형성된 제1필름을 제작하는 단계; 및 상기 통전부재의 상측에 상기 제1도전부를 배치하는 단계; 상기 제1도전부와 상기 통전부재를 서로 솔더링접합하는 단계; 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제2도전부가 형성된 제2필름을 제작하는 단계; 통전부재의 하측에 상기 제2도전부를 배치하는 단계; 및 통전부재와 상기 제2도전부를 서로 솔더링접합하는 단계;를 포함한다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 테스트용 소켓의 제작방법은, 전기부품의 단자와 테스트장치의 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트용 소켓의 제작방법에 있어서, 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제2도전부가 형성된 제2필름을 제작하고, 상기 전기부품의 단자와 대응되는 위치에 다수의 제1도전부가 형성된 제1필름을 제작하는 단계; 상기 제2도전부를 통전부재의 하측에 배치함과 동시에 상기 제1도전부를 상기 통전부재의 상측에 배치하는 단계; 및 상기 제1도전부와 상기 통전부재 및, 상기 제2도전부재와 상기 통전부재를 서로 솔더링접합하는 단계;를 포함한다.

상기 테스트용 소켓의 제작방법에서, 솔더링접합하는 단계 이전에는,

상기 제2도전부의 표면에 솔더페이스트를 도포하는 단계가 포함되어 있는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓의 제작방법에서, 상기 도포하는 단계에는,

상기 도전부와 대응되는 위치에 노출공이 형성된 마스크 프레임을 상기 필름의 상측에 배치하는 단계; 및 상기 노출공에 상기 솔더페이스트를 충진하는 단계를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓의 제작방법에서, 상기 도포하는 단계와 상기 솔더링접합하는 단계 사이에는, 도포된 상기 솔더페이스트를 가열하여 반구형상으로 녹이는 단계; 및 가열된 상기 솔더페이스트를 냉각시키는 단계가 포함되어 있는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓의 제작방법에서, 상기 배치하는 단계에는; 상기 제2도전부를 연결하는 제2필름의 연결부분을 제외한 제2필름의 가장자리부분을 상기 하우징에 접착제 또는 접착테이프에 의하여 붙이는 단계가 포함되어 있는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓의 제작방법에서, 상기 솔더링접합하는 단계에는, 상기 솔더페이스트를 가열하여 용융된 상태를 만들고, 상기 용융된 솔더페이스트의 내부에 통전부재의 일단이 함입되도록 하는 단계; 및 상기 솔더페이스트를 냉각시키는 단계;를 포함하는 것이 바람직하다.

상기 테스트용 소켓의 제작방법에서, 상기 노출공에 충진되는 솔더페이스트는, 주석, 은, 구리의 합금소재로 이루어진 것이 바람직하다.

유리한 효과

상술한 구성을 가지는 본 발명에 따른 테스트용 소켓 및 그 제작방법에 따르면, 전기부품을 운반하는 핸들러 등의 형상과 관련없이 전기부품의 단자를 테스트장치와 전기적으로 접속할 수 있는 효과가 있다.

또한, 테스트용 소켓의 하우징에 복잡한 형태의 구멍을 뚫지 않아도 되므로 테스트용 소켓의 제조비용이 감소되는 효과가 있다.

발명의 실시를 위한 최선의 형태

이하 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.

도 4는 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 테스트용 소켓을 나타나는 도면이며, 도 5는 도 4의 작동도이다.

본 발명의 일 실시예에 따른 테스트용 소켓(10)은, 도 4에 도시한 바와 같이 전기부품(140) 및 테스트장치(150)의 사이에 배치되어 상기 전기부품(140)의 단자(141)와 테스트장치(150)의 패드(151)를 서로 전기적으로 연결하는 것으로서, 하우징(40) 및 전도성 부재(20)로 이루어진다.

상기 하우징(40)은 상면과 하면을 상하방향으로 관통하는 관통공(41)이 상기 전기부품(140)의 단자(141)와 대응되는 위치에 배치되는 것으로서, 이러한 하우징(40)을 이루는 소재로는 FR4, FR5, 베이클라이트 등이 사용가능하며, 이외에도 PCB 제작 소재 및 내열성이 좋은 엔지니어링 플라스틱 등의 합성수지소재가 사용될 수 있음은 물론이다. 이러한 관통공(41)은 상하방향으로 동일한 직경을 가지고 있으므로, 일반적인 드릴을 이용하여 간편하게 만들어질 수 있다.

상기 전도성 부재(20)는 제1도전부(21), 제2도전부(23) 및 통전부재(22)로 이루어진다.

상기 제1도전부(21)는 상기 하우징(40)의 상측에 배치되는 것으로서, 구체적으로는 관통공(41)과 대응되는 상측위치에 다수개가 배열된 형태를 가지고, 각각의 제1도전부(21)는 제1필름(211)에 의하여 서로 연결된다. 이러한 제1필름(211)은 상기 제1도전부(21)들 간의 좌우위치를 일정하게 유지시켜주는 역할을 수행할 뿐만 아니라, 전기부품(140)의 단자(141)로부터 떨어지는 이물질이 하우징(40) 내의 관통공(41) 내로 떨어지는 것을 방지하는 역할을 수행하게 된다. 이러한 제1필름(211)은 솔더링을 할 때 발생하는 고온의 열을 견딜 수 있도록 내열성을 가지는 폴리아미드 이미드(PAI; Polyamide-imide) 소재가 사용되는 것이 바람직하나, 고온에 견딜 수 있다면 다양한 내열성 특수 합성수지시트가 사용되는 것이 가능하다.

상기 제1도전부(21)의 표면에는 다이아몬드 분말(미도시)이 배치되는 것이 바람직하다. 이와 같이 상기 다이아몬드 분말이 상기 제1도전부(21)의 표면에 배치됨에 따라 전기부품(140)의 단자(141)에 이물질막(미도시)이 형성되어 있는 경우에도 상기 다이아몬드 분말이 상기 단자(141)에 뭍어있는 이물질막을 깨뜨릴 수 있다. 이에 따라 이물질막과 제1도전부(21)의 표면이 접촉되어 전기적인 저항이 증가되지 않고, 이물질막이 다이아몬드 분말에 의하여 제거된 전기부품(140)의 단자(141)가 다이아몬드 분말을 통과하여 제1도전부(21)의 표면에 접촉함에 따라 전기적인 저항이 크게 감소할 수 있다. 한편, 제1도전부(21)는 전체적으로 원형단면을 가지며, 구체적으로는 그 제1도전부(21)의 직경이 관통공(41)의 내경보다 큰 것이 바람직하다.

상기 제2도전부(23)는 상기 하우징(40)의 하측에 상기 관통공(41)과 대응되는 하측위치에 다수개가 배열된 형태를 가지고 있으며, 각각의 제2도전부(23)는 제2필름(231)에 의하여 서로 연결된다. 이러한 제2필름(231)은 상기 제1필름(211)과 같이 제2도전부(23)의 위치를 일정하게 유지시켜주는 역할을 수행할 뿐만 아니라, 전도성 부재(20)가 상기 하우징(40)에 고정결합될 수 있게 하는 역할도 수행한다. 즉, 제2필름(231)의 가장자리부분이 상기 하우징(40)의 하면과 접착제(30)에 의하여 고정결합됨에 따라 상기 전도성 부재(20)가 하우징(40)으로부터 분리되지 않고 일정한 위치를 유지할 수 있다. 상기 제2도전부(23)의 표면에도 다이아몬드 분말이 형성되어 있는 것이 바람직하며, 그 제2도전부(23)는 상기 관통공(41)의 내경보다는 큰 직경을 가지는 원형단면을 가지는 것이 바람직하다.

상기 통전부재(22)는 스프링으로서, 그 스프링의 상단과 하단은 각각 제1도전부(21) 및 제2도전부(23)와 솔더링 접합되는 것이 바람직하다. 상기 통전부재(22)는 그 대부분이 하우징(40)의 관통공(41)에 삽입된 형태를 가지며, 상측은 관통공(41)의 외부로 노출되는 것도 가능하다. 이러한 통전부재(22)로 사용되는 스프링은 전도성이 우수한 철, 니켈 등의 금속소재가 사용될 수 있으며, 그 스프링의 표면에는 구리, 금의 순서대로 도금되는 것이 바람직하며, 금 이외에 은 등의 다양한 귀금속이 도금소재로 사용될 수 있음은 물론이다.

이러한 본 실시예에 따른 테스트용 소켓은 도 6에 도시한 바와 같이 제작할 수 있다.

먼저, 도 6의 (a)에 도시한 바와 같이, 전기부품(140)의 단자(141)와 대응되는 위치에 제2도전부(23)가 형성된 제2필름(231)을 제작한다. 상기 제2도전부(23)는 비아홀이 중앙에 마련된 상태로 상기 제2필름(231)상에 형성된 후에, 구리 또는 니켈도금에 의하여 그 비아홀이 완전히 막혀져 있는 형태의 구조를 가진다. (이와 같이 비아홀의 막는 이유는 추후에 솔더페이스트가 녹으면서 통전부재(22)의 상단에 침투하여 사용할 수 없게 되는 것을 막기 위함이다.) 제작된 제2필름(231)에는 상기 제2도전부(23)와 대응되는 위치에 다수의 노출공(51)이 형성된 마스크 프레임(50)을 상기 제2필름(231)의 상측에 배치하여, 상기 노출공(51)과 상기 제2도전부(23)가 상하방향으로 놓이게 한다.

이후, 솔더페이스트(60)를 각각의 제2도전부(23)에 도포한다. 구체적으로는 도 6의 (b)에 도시한 바와 같이, 상기 노출공(51)에 솔더페이스트(60)를 충진하여, 상기 솔더페이스트(60)가 상기 노출공(51)에 충진된 상태에서 제2도전부(23)의 상측에 위치할 수 있도록 한다. 이때, 상기 솔더페이스트(60)는 중금속이 배제된 주석, 은 및 구리 각각의 소재 내지는 이들 중 적어도 2이상으로 구성된 합금으로 이루어지는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니며 다양한 소재가 사용될 수 있다.

이후 도 6의 (c)에 도시한 바와 같이 상기 마스크 프레임(50)을 상기 제2필름(231)으로부터 제거한다.

이후 도 6의 (d)에 도시된 바와 같이 상기 솔더페이스트(60)를 가열하여 녹인다. 구체적으로는 상측에 솔더페이스트(60)가 올려져 있는 제2도전부(23) 및 제2필름(231)을 오븐에 넣거나 또는 솔더페이스트(60)에 뜨거운 공기를 가하여 상기 솔더페이스트(60)를 녹인다. 구체적으로는 상기 솔더페이스트가 반구형상이 되도록 녹인 후 냉각하여 그 반구형태가 유지되도록 한다. 이후에, 도 6(e)에 도시된 바와 같이, 제2도전부를 연결하는 제2필름의 연결부분을 제외한 제2필름의 가장자리부분을 하우징에 접촉제 또는 접착테이프에 의하여 붙인다. 이후에, 도 6 (f)에 도시한 바와 같이, 통전부재(22)인 스프링을 상기 관통공(41)을 통하여 삽입하여, 그 스프링의 일단이 상기 반구형상의 솔더페이스트(60) 표면과 접촉하도록 한다. 이후에, 도 7(g)에 도시한 바와 같이 솔더페이스트(60)를 가열하여 용융된 상태를 만들고, 상기 용융된 솔더페이스트의 내부에 통전부재의 일단이 함입되도록 한 후에, 그 솔더페이스트를 냉각시켜 상기 통전부재(22)와 제2도전부(23)가 서로 솔더링 접합되도록 한다.

이후에, 도 7 (h)에 도시된 바와 같이 하우징(40)을 뒤집어 배치한 후에, 도 7(i)에 도시한 바와 같이 솔더페이스트(60)가 도포된 제1도전부(21)를 배치한다. 이때, 상기 제1도전부(21)는 다수개가 배치되고, 각각의 제1도전부(21)가 필름에 의하여 서로 연결된다. 이후에, 도 7(j)에 도시된 바와 같이, 상기 스프링의 일단이 상기 솔더페이스트에 접촉되도록 배치시킨다. 이후에는, 솔더페이스트(60)를 가열하여 녹임으로서, 제1도전부(21)와 스프링이 서로 솔더링 접합되도록 하여, 본 실시예에 따른 테스트용 소켓(10)의 제작을 완료한다.

이러한 본 실시예에 따른 테스트용 소켓은 다음과 같은 작용효과를 가진다.

먼저, 핸들러(130)에 의하여 운반되어온 전기부품(140)을 하강하여 제1도전부(21)와 접촉시킨 상태에서 하측으로 가압하면, 상기 제1도전부(21), 통전부재(22), 제2도전부(23)가 서로 전기적으로 연결되며, 이에 따라 상기 제1도전부(21)의 상면과 접촉된 단자(141)와, 상기 제2도전부(23)의 하면과 접촉된 패드(151)가 서로 전기적인 연결상태에 놓이게 된다. 이후에, 상기 테스트장치(150)로부터 테스트 신호가 인가되면, 그 신호는 패드(151), 제2도전부(23), 통전부재(22), 제1도전부(21)를 거쳐 단자(141)로 전달되고, 그 반대신호는 단자(141)로부터, 제1도전부(21), 통전부재(22), 제2도전부(23)를 거쳐 패드(151)로 전달되게 되며, 그 반대신호를 분석함에 따라 상기 전기부품(140)의 불량여부가 판별되게 된다.

이러한 본 실시예에 따른 테스트용 소켓은 다음과 같은 장점이 있다. 먼저, 본 실시예에서는 필름에 의하여 전기부품의 단자로부터 이물질이 통전부재 또는 하우징 내의 관통공 및 테스트장치로 유입되지 않도록 하는 장점이 있음과 동시에, 상측에 배치된 제1필름이 하우징과 결합되어 있지 않음에 따라 핸들러의 두께가 두꺼워도 그 하단이 상기 제1필름에 접촉될 염려가 없게 된다. 이에 따라 원하는 종류의 핸들러를 사용할 수 있는 장점이 있다.

또한, 종래기술에서는 도전부 또는 스프링을 하우징에 대하여 결합하기 위하여 그 돌출턱이 형성된 복잡한 형태의 관통공을 형성한 상태하고, 관통공 내부에 도전부 또는 스프링을 삽입하기 위하여 하우징을 상부하우징과 하부하우징으로 구분하는 등 하우징이 복잡한 형태를 이뤄야했다. 이에 반하여, 본 실시예에서는, 제1도전부 및 제2도전부는 스프링에 의하여 솔더링접합되어 있으므로, 그 제2도전부를 연결하는 필름을 하우징에 고정함에 의하여 상기 제1도전부, 스프링, 제2도전부가 하우징에 대하여 위치고정될 수 있게 한다. 즉, 본 실시예에서는 동일한 직경을 가지는 관통공만 형성하면 되므로, 하우징의 가공비용이 대폭적으로 감소될 수 있는 장점이 있다.

이상에서 설명한 본 발명에 따른 테스트용 소켓은 다음과 같이 변형되는 것도 가능하다.

먼저, 상술한 실시예에서는, 통전부재인 스프링의 일면에 제2도전부를 솔더링접합한 후에, 그 통전부재인 스프링의 반대면을 제1도전부와 솔더링접합하는 구성을 기술하였으나, 이외에도 제1도전부를 먼저 솔더링접합한 후에 제2도전부를 상기 스프링에 솔더링접합하는 것도 가능하며, 통전부재인 스프링의 상하면에 동시에 상기 제1도전부 및 제2도전부가 솔더링접합되는 것도 가능하다.

또한 상술한 실시예에서는 솔더페이스트 도포 후 가열하여 반구형상으로 녹인 후 냉각하여 통전부재인 스프링을 조립후 다시 가열하여 붙이는 방법에 대하여 기술하였으나, 이외에도 솔더페이스트를 도포한 후에 통전부재인 스프링을 조립하고 이후에 가열하여 양자를 접합시키는 방법도 가능하다.

또한, 통전부재로써 스프링만을 사용한 것을 예시하였으나, 이외에도 핀과 스프링의 복합구조 및 기타 균등한 수단이 사용될 수 있음은 물론이다.

또한, 상술한 실시예에서는 제1도전부 및 제2도전부가 원형단면을 가지는 것으로 설명하였으나, 이외에도 필요에 따라 다양한 다각형 형태의 단면을 가지는 것도 가능하다. 그 제1도전부 및 제2도전부의 내경도 관통공보다 큰 것을 언급하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 관통공보다 작은 것도 가능하다.

또한, 상술한 실시예에서는 제2필름이 접착제에 의하여 상기 하우징의 하면에 접착되는 것을 설명하였으나, 이외에도 접착시트 또는 볼트체결등 다양한 수단에 의하여 하우징에 고정결합가능함은 물론이다.

또한, 상술한 실시예에서는 제1도전부와 전기부품의 단자가 직접 접촉되는 것이 도시되어 있으나, 이외에도 상기 제1도전부의 상측에 탄성시트가 배치되는 것도 가능하다. 이러한 탄성시트는 상기 제1도전부와 대응되는 위치에 배치되는 탄성도전부와, 그 탄성도전부를 지지하며 제1필름과 대응되는 위치에 배치되는 절연부로 이루어진다. 상기 탄성도전부는 실리콘 고무와 같은 탄성물질 내부에 다수의 전도성 입자가 분포된 형태를 가진다. 상기 전기부품의 단자가 상기 탄성도전부를 가압하면, 그 다수의 전도성 입자들이 서로 접촉하면서 전기적인 통전상태를 이룰 수 있게 된다. 한편, 이러한 탄성시트는 제2도전부의 하측에 배치되는 것도 가능하다.

이상에서 바람직한 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명하였으나, 본 발명은 반드시 이러한 실시예들 및 변형예에 한정되는 것은 아니고 본 발명의 기술사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양하게 변형 실시될 수 있다.