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Title:
半導体不揮発性記憶装置
Document Type and Number:
Japanese Patent JPWO2002082460
Kind Code:
A1
Abstract:
本発明の半導体不揮発性記憶装置は、メモリセルで直接駆動するのはローカルビット線までとする。そして、ローカルビット線の出力は、別途設けた信号増幅トランジスタのゲート電極で受け、負荷容量の大きなグローバルビット線の駆動は、信号増幅トランジスタで行なう構成とする。メモリセルよりも駆動力を高くした増幅トランジスタでグローバルビット線の寄生容量を駆動するので、メモリセルに格納された情報の高速読出しが可能となる。そのため、マイクロコンピュータ等を制御するためのプログラム・コードを格納する用途に用いて、システム性能の向上が図れる。

Inventors:
松崎 望
倉田 英明
河原 尊之
Application Number:
JP2002580340A
Publication Date:
July 29, 2004
Filing Date:
April 02, 2001
Export Citation:
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Assignee:
株式会社日立製作所
International Classes:
G11C16/06; G11C7/06; G11C7/18; G11C11/34; G11C16/24; G11C16/26; G11C16/28; H01L27/02; H01L27/10; H01L27/105; H01L27/115; H01L29/788; H01L29/792