観察支援装置および蛍光観察システム

Japanese Patent JPWO2018003069

A1

観察しようとする標本および使用しようとする蛍光体について低侵襲の観察が行えるようにユーザを支援することを目的として、本発明に係る観察支援装置（１）は、所定の標本について、所定の蛍光体を用いて、２以上のパラメータを含む所定の観察条件によって行われた蛍光観察における標本の状態変化を表す標本状態情報と、標本の種類、蛍光体の種類および観察条件とを対応づけて記憶する情報蓄積部（３）と、ユーザに、観察しようとする標本の種類および使用する蛍光体の種類を入力させる入力部（４）と、入力された標本の種類と同一種類の標本について、蛍光体の種類と同一種類の蛍光体を用いて行われた蛍光観察における標本状態情報および観察条件を情報蓄積部（３）から読み出して、観察条件に含まれる２以上のパラメータとの関係で標本状態情報を表す支援表示を生成する支援表示生成部（５）と、生成された前記支援表示を表示する表示部（６）とを備える。

WO/2017/192274	SOLUTIONS FOR SAMPLE PROCESSING
WO/2000/055882	HIGH-EFFICIENCY MULTIPLE PROBE IMAGING SYSTEM
WO2000008443	MULTIPLE FREQUENCY FLUORESCENCE LIFETIME IMAGING

Asuka
Shintaro Takahashi
Imoto Kentaro
Atsushi Doi
Shinichi Takimoto

JP2018524668A

April 18, 2019

June 30, 2016

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Olympus Endo Technology America Inc.

G01N21/64

Kunio Ueda
Junichiro Yanagi
Mayumi Oguri
Kunihiko Takeuchi

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